X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 55Mtjqfp  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 g1l:k1\Ht  
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技术参数 E4.A$/s8[  

波长范围 =n@\m<	5-20 V;Ln|._/t	10-60 VrhHcvnZ	25-80 2<'ol65/c
光源距离（m） )}_}D+2	{Dy,u%W?	0.4-0.6 "st+2#{	0.5-1.5 ]ZI@?H? O
平场尺寸（mm） EW`WFBjj	25.4 aJ1{9 5ea	50 |}X[Yg=FG	50 Lso%1M
色散(nm/mm) 0|=y#`;,Z	0.5-0.7 /{I-gjovy	0.7-1.1 iorQ/(	0.9-1.3 ` ooHABC
光谱分辨率（nm） CqU^bVs	0.06 T+%P+	0.09 N+pCC	0.11 z XUr34jF
XSh[#qJ	hx:^xW@r4P		?k^m|Z
升级波长范围 /paZJ}Pr.	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 3m$Qd#|
探测器选择 hb}QtQ	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 G2P:|R
光栅台 p&HO~J <w	电控 -<" ;|v4
工作环境 lWP]}Uy=5~	<10-6mbar r-]%R:U*
操作性 >m%7dU	极易安装使用，用户自己即可安装使用 Y&DoA0/y

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技术优势介绍： 6C ?,V3Z  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 (eHTXk*V`  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 'UuHyC2Ha3  
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-平场成像技术 S{{wcH$n'i  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 -"#jRP]#  
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紧凑/模块化 BV}sN{  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） K&T.~2'>  
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结实耐用无需准直 ;Qc^xIPy  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ]bstkf}~u  
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- 定制化 Jq8v69fyQ  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 4|4[3Ye7u:  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 eIhfhz?Q;#  
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典型客户： t=jG$
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1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) MfdkvJ'  
   
2. < >Los Alamos 2 ksbDl}  
   
3. Max Planck Institute

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