X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 RK&RMN8@  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 l9%ckC*q  
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技术参数 R-iWbLD  

波长范围 +sZY0(|K8	5-20 H2g#'SK@	10-60 (3x2^M8	25-80  AKLFUk
光源距离（m） o<s~455m/	.db:mSrL	0.4-0.6 1,P2}mYv	0.5-1.5 W`#E[g?]
平场尺寸（mm） {^:i}4ZRl	25.4 + :C .G[+	50 W+V &	50 Sng3B
色散(nm/mm) BG-nf1K(	0.5-0.7 A$zC$9{0I	0.7-1.1 .`D$.|!8g	0.9-1.3 R6GlQ G
光谱分辨率（nm） <pT1p4T<	0.06 W-1Ub |8C	0.09 T-oUc uQB	0.11 ZD?LsD3
>Zm|R|{BE	CF_2ez1u0y	5Yk|	>I/~)B`jhE
升级波长范围 1OK~*=/4	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) i94)DWZ^
探测器选择 8Sf}z@~]	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ,I f9w$(z
光栅台 R|O^7o	电控 cn_KHz=
工作环境 J<iiA:&J	<10-6mbar |' kC9H[>
操作性 Jj1lAg0	极易安装使用，用户自己即可安装使用 riglEA[^

• I'R|B\  
技术优势介绍： srU*1jD)  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 :7qJ[k{g  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ]4_)WUS.c  
*U,W4>(B  
-平场成像技术 6,p;8I  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 59_VC('  
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紧凑/模块化 g3'yqIjQL  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 'yAHB* rQR  
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结实耐用无需准直 a&n}pnEn)  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 #|cr
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- 定制化 4':U rJ+  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 1u~.^O}J  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 (Vy`u)gG  
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典型客户： W^9=z~-h  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) Z#_VxA>]v  
   
2. < >Los Alamos 9>L{K   
   
3. Max Planck Institute

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