X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 TMT65X!  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 l]uF!']f  
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技术参数 ?qO_t;:0>  

波长范围 OLXG0@	5-20 r@%-S!$	10-60 BwEO2a{	25-80 ?WKFDL'_0j
光源距离（m） Gh>Rt=Qu%	R]/3`X9!d>	0.4-0.6 eYOwdTrq	0.5-1.5 ,KdDowc
平场尺寸（mm） kL* DU`	25.4 7:)=	50 ^"(CZvq	50 a{GPAzO+
色散(nm/mm) 9!NL<}]{	0.5-0.7 [h {zT)[	0.7-1.1 ~+/IzckrG	0.9-1.3 9l]+rs+
光谱分辨率（nm） Rr{mD#+	0.06 X6)-1.T&	0.09 W_Z%CBjcT	0.11 1~zzQ:jAZ
'-N `u$3Y	zn@<>o8hU	O&RW[ml*3	^KM' O8
升级波长范围 @!"w.@Y	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) I}q 2)@
探测器选择 Hbn%CdDk1	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 KLBU8%
光栅台 lA<n}N)j	电控 aY@]mMz\
工作环境 PzMJ^H{	<10-6mbar ~:'tp28?
操作性 .!e):&(8	极易安装使用，用户自己即可安装使用 iyKAw 

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技术优势介绍： Tty_P,  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 X ^8@T  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 c@7d4Jz  
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-平场成像技术 v[{g"C  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 dWqKt0uh!  
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紧凑/模块化 d,8L-pT$FM  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） I$7|?8  
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结实耐用无需准直 e=Ko4Ao2y  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 JZI)jIh  
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- 定制化 9: N[9;('  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Q6)Wh6Cm  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 +O"!*  
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典型客户： 'K&^y%~py,  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) >9dzl#  
   
2. < >Los Alamos DcYL8u  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828