X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ]#:WL)@  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 ;1k&}v&  
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技术参数 BJ|l  

波长范围 ,i:?c	5-20 q/O2E<=w*c	10-60 [LoQYDku	25-80 pz%s_g'
光源距离（m） _ *f>UW*,	c'oiW)8;A	0.4-0.6 O<S.fr,	0.5-1.5 dq93P%X24
平场尺寸（mm） 5m8u:6kQu	25.4 vJWBr:`L	50 nCQtn%j't	50 )Q2IYCj{
色散(nm/mm) 5B=uvp|Y	0.5-0.7 \^)i!@v	0.7-1.1 *5)UIRd	0.9-1.3 8(1*,CJQg
光谱分辨率（nm） ACRuDY	0.06 n`,  <g	0.09 e=i X]%^	0.11 '1mk;%
2e_ Di(us	o[Ffa#sE	J[ZHAnmPH	^r~[3NT
升级波长范围 >@vu;j\*E5	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ~$J;yo ~
探测器选择 t;* zr*	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 _3Eo{^
光栅台 K(;qdIr	电控 )Zq'r L<
工作环境 [qc1 V%g	<10-6mbar |]7c&`
操作性 0'o[2,	极易安装使用，用户自己即可安装使用 8iIp[9~=

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技术优势介绍： qo[[P)tq  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 M@[W"f Wq  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 :\^b6"}8  
A5nggg4  
-平场成像技术 n0KpKH<&  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Fm`*j/rq
 
P@v"aa\@2)  
紧凑/模块化 p/Pus;*s  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 24J c`%7,=  
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结实耐用无需准直 -06G.;W\^  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 cL9gaD$;)  
Q.N!b7r7  
- 定制化 Ul8HWk[6Iw  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 h*Fv~j'p  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 2 7)IfE  
S~/2Bw!2  
典型客户： yrxX[Hg?@  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) TAG@Ab  
   
2. < >Los Alamos ?t'V5$k\  
   
3. Max Planck Institute

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