X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 `ZZ3!$czR  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 _Ss}dU9  
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技术参数 ZbiC=uh  

波长范围 ,RDWx	5-20 :@@`N_2?	10-60 cNT !}8h^	25-80 dDSb1TM
光源距离（m） ,na}' A@a`	]#[4eaCg	0.4-0.6 ,{\Ae"{6	0.5-1.5 fs yVu|G
平场尺寸（mm） 7IFZK\V	25.4 "Bv V8 9	50 fN@ZJ~F%j	50 \[qxOZ{
色散(nm/mm) ~+d{:WY	0.5-0.7 #eN2{G=4+	0.7-1.1 "uP*pR^	0.9-1.3 ]8R@2L3s
光谱分辨率（nm） tAo$;|	0.06 1ni72iz\	0.09 ps?su`	0.11 *- ~GVe
:Tv>)N	*DvX||`&	S,C c0)j>	4%zy$,|e
升级波长范围 $&qLrKJ	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) Q=>5@sZB
探测器选择 *iY:R	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 GqNOWK2O
光栅台  NV -l9	电控 /_HTW\7,
工作环境 p;'.7_1	<10-6mbar t9MCT$U
操作性 ?-%(K^y4r	极易安装使用，用户自己即可安装使用 ~QlF(@ue

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技术优势介绍： rW|%eT*/'A  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ,;
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相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Cg?Mk6i  
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-平场成像技术 [mQ1r*[j  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 $j(d`@.DN~  
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紧凑/模块化 0:n"A,-p  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） v&(=^A\eN  
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结实耐用无需准直 5M~+F"Hl  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 F-b]>3r  
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- 定制化 !'rdHSy
 
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 _68vSYr  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ra6\+M~}e  
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典型客户： z;P#  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 2HSFMgy  
   
2. < >Los Alamos Tn/Zs|  
   
3. Max Planck Institute

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