X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 juQ?k xOB  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 \eXuNv_  
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技术参数 4veXg/l  

波长范围 x,c\q$8yH	5-20 4!A(7 s4t	10-60 @2sr/gX^	25-80 6M[OEI5
光源距离（m） QtLd(& !v	%>1C($^	0.4-0.6 YoSBS	0.5-1.5 QC(ce)Y
平场尺寸（mm） Ej<`HbJ'Q	25.4 %? J-0	50 q:mqA$n	50 x??H%'rP
色散(nm/mm) \q"vC1,9	0.5-0.7 91UC>]}H	0.7-1.1 TVK*l*	0.9-1.3 -kb; h F}.
光谱分辨率（nm） cHJ4[x=	0.06 {5(M	0.09 |N|[E5Cn	0.11 !gi3J @
REPI>-|	I.p"8I;	Kc`#~-`,(	B3p79j
升级波长范围 juMHc$d17	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) awSi0*d~
探测器选择 b<BkI""b	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 h5lngw
光栅台 A",R2d	电控 ue -a/a
工作环境 w}?,N	<10-6mbar  GK{~n
操作性 Hi&bNM>?O	极易安装使用，用户自己即可安装使用 [6%y RQ_

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技术优势介绍： Mr@{3do$  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 {"_V,HmEF+  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。
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-平场成像技术 ;pG5zRe  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Ll`nO;h  
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紧凑/模块化 ZFtN~Tg  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） y27MG  
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结实耐用无需准直 C^!~WFy  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 }BiA@
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- 定制化 Lt{&v^y  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 CL5t6D9Qi  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 JQSczE3  
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典型客户： tY60~@YO&  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) &7KX`%K"D  
   
2. < >Los Alamos T5aeO^x  
   
3. Max Planck Institute

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