X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 D{7^y>8_Y-  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 C]JK'K<7-  
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技术参数 VR"le&'z"  

波长范围 ;m.6 ~A	5-20 0'A"]6	10-60 q4!\^HwQ	25-80 V,& O O
光源距离（m） ?771e:>S-	^uw]/H3?L	0.4-0.6 \@h$|nb	0.5-1.5 :F[s
平场尺寸（mm） kQ&Q_FSO	25.4 pd,d"+	50 ()Wu_Q	50 c]U+6JH
色散(nm/mm) "B+F6	0.5-0.7 1K|F;p	0.7-1.1 RRQv<x	0.9-1.3 ?9eiT:2
光谱分辨率（nm） Br<lP#u=G	0.06 T)q Uf H	0.09 Qof%j@	0.11 * Z)j"i
&F7_0iAP(	4=y&}3om(0	W79.Nj2`	@U?&1.\
升级波长范围 2Rwd\e.z	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) UYy #DA
探测器选择 ra^%__N}	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 Fx1FxwIJ
光栅台 G9jf]Ye ;	电控 @}PX:*c
工作环境 f9y+-GhaD	<10-6mbar qvWi;
操作性 G[u6X_Q	极易安装使用，用户自己即可安装使用 ?+Vi !eS

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技术优势介绍： 87S,6Y  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 bV'r9&[_6  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 D-i, C~W  
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-平场成像技术 aEa+?6;D  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 726UO#*  
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紧凑/模块化 H!"TS-s`  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） <RC%<  
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结实耐用无需准直 Q*'OY~  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 %8Y+Df;ax  
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- 定制化 @
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该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 - 3PLP$P  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 )~"0d;6_  
EvY^]M_U  
典型客户： !v%>W< 3Q  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) t"J{qfNs  
   
2. < >Los Alamos c`S
   +>:  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828