X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪  B8~JUGD  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 tSVWO]<  
bpx ^  
技术参数 VchI0KL?  

波长范围 S T1V	5-20 h0O t>e"	10-60 Oo0SDWI`(	25-80 _@5|r|P>
光源距离（m） .<Rw16O	2Wn*J[5	0.4-0.6 T@%\?=P	0.5-1.5 hl]q6ZK!6
平场尺寸（mm） teKx^ 'c'	25.4 CBr(a'3{Z	50 akA7))Q	50 2z9s$tp
色散(nm/mm) [eO^C	0.5-0.7 (yb$h0HN	0.7-1.1 l+A)MJd oj	0.9-1.3 U EjP `
光谱分辨率（nm） YO'a X	0.06 )GYnQoV4	0.09 dfP4SJqq	0.11 z?^oy.
`FGYc	85T"(HhT	6Hp+?mmh	:pfLa2f+
升级波长范围 \(A A|;	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) @V&c=8)8
探测器选择 8c\\-{	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ~].?8C.>*
光栅台 Fq$r>tmV	电控 J%u,qF}h
工作环境 "ze-Mb	<10-6mbar @-ml=S7;Sz
操作性 c'.XC}	极易安装使用，用户自己即可安装使用 /go|r '

• Kl,NL]]4*5  
技术优势介绍： eaAGlEW6J  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 H76iBJ66  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Nq%ir8hE  
;1HzY\d%<  
-平场成像技术 B<Q)z5KK  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 H$+@O-  
Vu,e]@  
紧凑/模块化 %tMx48'N  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） Mg~4) DW]  
&|<f|BMX  
结实耐用无需准直 _%[po%]  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ?<`oKBn  
o1vK2V  
- 定制化 (3"N~\9m  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 s+?
2oPa  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 Cyos*  
f14^VTzP/#  
典型客户： %q}[ZD/HD  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) WfD fj  
   
2. < >Los Alamos egvb#:zW?  
   
3. Max Planck Institute

:KgH
7s}  
详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828