X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 f;+.j/ +  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 `CL\-  
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技术参数 h1B_*L   

波长范围 ]m&Ss	5-20 t\2-7Ohj6	10-60 03iy[~Y2	25-80 ,'<N yA><
光源距离（m） Mj2Dat`p9	-W/D Cj<	0.4-0.6 !Dc;R+Ir0!	0.5-1.5 zLxuxf~4@
平场尺寸（mm） DHhty qm	25.4 e<8KZ	50 Mx# P > .	50 Zu~t )W
色散(nm/mm) sVnq|[ /	0.5-0.7 (Xzq(QV	0.7-1.1 9)[)07	0.9-1.3 ^[+2P?^K
光谱分辨率（nm） %k"hzjXAw	0.06 KB~`3Wj|Z	0.09 < uV@/fn<	0.11 S@ y! 0,
wpNb/U	[H$kVQC	"*c&[ALw	7bVKH[
升级波长范围 1} _<qk9	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ;_ 1Rk&o!
探测器选择 }lq$Fi/	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 *y+K{ fM1
光栅台 P $r!u%W	电控 d;3f80Kd*
工作环境 W=#jtU`:5	<10-6mbar ,>kXn1 ,
操作性 rc`Il{~k	极易安装使用，用户自己即可安装使用 }\A0g}

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技术优势介绍： h
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 0G'v4Vj0'  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ]N1,"W}  
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-平场成像技术 QdD@[  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 a6d|Ps.\!  
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紧凑/模块化 ,6A/| K-  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） '&]6(+I>  
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结实耐用无需准直 p@?(m/m$  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 @ L/i  
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- 定制化 5["n] i  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 N B8Yn\{B  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 &k(tDP  
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典型客户： 1bCS4fs^>  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 6iEA._y  
   
2. < >Los Alamos v=IcVHuf  
   
3. Max Planck Institute

(tg+C\ S.  
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