X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 y,Dfqt  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 7:bqh$3!s  
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技术参数 5wGyM10  

波长范围 yQou8 P=%	5-20 dr'6N1B@	10-60 "_?^uymw	25-80 g](m& O
光源距离（m） tG%R_$*	.P=!M	0.4-0.6 >x!N@G	0.5-1.5 ;GH(A=}/Y
平场尺寸（mm） zoUW}O	25.4 !p0FJ].g,	50 RL)'m	50 K''b)v X4
色散(nm/mm) >!bYuV HA	0.5-0.7 ?#FAa,	0.7-1.1 {K[+nX=#	0.9-1.3 YRC`2)_'
光谱分辨率（nm） XZKOBq B]	0.06 G1| Tu"	0.09 Dtr'X@U	0.11 .3ic%u;|D
@B&hR} 4	F},JP'\X	tH W"eag	]}'WNy6c&x
升级波长范围 7[u&%	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 4~o\Os+8
探测器选择 Gi{1u}-0	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 yM\1n
光栅台 sM?DNE^BvW	电控 `bH Eu"(,
工作环境 xmVK{Q YT$	<10-6mbar fF *a/\h %
操作性 jkD5Z`D	极易安装使用，用户自己即可安装使用 -Tz9J4xU&

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技术优势介绍： r*tGT_/6  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 aZBaIl6I  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 [2&Fnmjk}X  
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-平场成像技术 =x[`W9.D  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ryPz?Aw(4  
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紧凑/模块化 R0m}I5Frs  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） L[O+9Yh  
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结实耐用无需准直 .@[+05Yw  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 lI&0 V5  
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- 定制化 1miTE4;?  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ;OVJM qg  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 nR ,j1IUF  
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典型客户： w
>m/c1  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) t`Hwq   
   
2. < >Los Alamos p\!+j@H:  
   
3. Max Planck Institute

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