X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 $hQg+nY.  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 }$1;<  
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技术参数 n y)P  

波长范围 RKkI/Z0	5-20 b2e  a0	10-60 syf"{bBe	25-80 88$Y-g5*
光源距离（m） {UBQ?7.jE	Ekme62Q>u	0.4-0.6 ef;L|b%pp	0.5-1.5 :(`>bY
平场尺寸（mm） `Qf :PX3	25.4 fNPj8\#V,	50 _%vqBr*	50 3{:<z4>{
色散(nm/mm) N-9gfG	0.5-0.7 0s""%MhFI	0.7-1.1 Ch9!AUiR	0.9-1.3 !u}3H |6~
光谱分辨率（nm） BpG'e-2	0.06 `;CU[Ps?]	0.09 FraW6T}_	0.11 bV*zMoD#
vGwD~R	u^zitW!X$	X,+}syK	_|B&v
升级波长范围 y32++b!	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) >Ryss@o
探测器选择 N"RYM~c7	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 2^#UO=ct
光栅台 d5"EvT	电控 SM+fG:4d
工作环境 E 'JC	<10-6mbar `F\:XuY
操作性 |p -R9A*>h	极易安装使用，用户自己即可安装使用  7EP|X.

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技术优势介绍： Rgfhs[Z  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 s.^9HuM  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 QlYs7zZ  
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-平场成像技术 K6{bYho  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 S?7V "LF  
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紧凑/模块化 p?$G>nkdq  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） PT#eXS9_  
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结实耐用无需准直 Dbdzb m7  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 cia-OVX  
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- 定制化 plx/}ah8  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 M2E87w  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 $7n#\h  
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典型客户： :{b6M/  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) Sci4EGc  
   
2. < >Los Alamos PIEW\i  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828