X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 tre`iCH~  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 LfnQcI$kO  
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技术参数 ^l(,'>Cn  

波长范围 6EWCJ%_	5-20 pOy(XUV9O	10-60 ctgH/SU	25-80 |[V6R\l39
光源距离（m） ]w) uo4<^J	8/"uS;yP	0.4-0.6 *}r6V"pH~	0.5-1.5 kyB>]2
平场尺寸（mm） B 4e}%	25.4 5*"WS $	50 m&*0<N	50 'wLW`GX.
色散(nm/mm) k3 '5Ei	0.5-0.7 <1V>0[[e	0.7-1.1 >]bS"S	0.9-1.3 ,E(M<n|.
光谱分辨率（nm） &6Wim<*	0.06 CwEb ?	0.09 F>u/Lh!	0.11 kx0w?A8-
:OaGdL 	s;[64ca]Q	>vf LlYx	wzI*QXV2s
升级波长范围 9Xh<vh8&	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) YBk* CW9
探测器选择 {6*UtG	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 FZ% WD@=
光栅台 dfeN_0`-	电控 Bm^8"SSN
工作环境 G m\jboef]	<10-6mbar No/D"S#
操作性 6:TA8w|	极易安装使用，用户自己即可安装使用 L-3wez;hm

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技术优势介绍： TsRbIq[  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 XOY\NMo  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ,Hc,]TPC4  
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-平场成像技术 &4F iYZ  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 CYk"  
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紧凑/模块化 YP}r15P  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） %t-}dC&  
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结实耐用无需准直 dC}4Er  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 3DrW[\  
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- 定制化 ViG-tb  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 }l@7t&T|  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 D|5Fo'O^AV  
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典型客户： 5NYYrA8,^  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) )0@&pEObm  
   
2. < >Los Alamos .$-%rU:*}  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828