X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 [A$5~/Q{U1  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 \b{Aj,6,  
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技术参数 +mRFHZG  

波长范围 sYV7t*l	5-20  .G}E	10-60 rZRcy9$y>	25-80 GwiG..Y]&
光源距离（m） TDI8L\rr	>55c{|"@L	0.4-0.6 O%)@> 5#S	0.5-1.5 4d&#NP
平场尺寸（mm） :}d`$2Dz	25.4 JFax xW	50 xdWfrm$;ZA	50 \PS{/XK
色散(nm/mm) e&[ gde(	0.5-0.7 1*S 5:7Tb	0.7-1.1 shW$V93<	0.9-1.3 ~; St,Fw<<
光谱分辨率（nm） !:e|M|T'I*	0.06 >cwyb9;!kK	0.09 WqN=D5	0.11 /CpUq;^
a%*l]S0z"	VM{`CJ2	u2HkAPhD	i^P@?
升级波长范围 #.O,JG#H	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ht c& !m
探测器选择 xGbr>OqkTX	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 qh Ezv~
光栅台 pT]M]/y/:	电控 SsA;T5:6
工作环境 w+VeT@	<10-6mbar s vn[c*
操作性 51yIW*	极易安装使用，用户自己即可安装使用 lhg3 }dW

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技术优势介绍： '^'4C'J  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ^q6H =Dl  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 }aYm86C]  
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-平场成像技术 K%LDOVE8e  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 xw: v|(  
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紧凑/模块化 N/)mw/?i  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ;SQ<^"eK  
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结实耐用无需准直 8xhXS1  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 $;un$ko6%  
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- 定制化 K#M h  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 P8NKpO\  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 /2^cty.BXw  
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典型客户： 5A1oZ+C#  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) T#Pz_ hAu  
   
2. < >Los Alamos }]vj"!?a  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828