X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 5Zs"CDU  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 Uy^Hh4|  
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技术参数 XOa<R  

波长范围 Y?%MPaN:	5-20 /' L20aN2	10-60 PN/2EmwtC	25-80 3Zg=ZnF
光源距离（m） CvmZW$5Yo	R4 !qm0Cd	0.4-0.6 `}k!SqG	0.5-1.5 G39H@@ *O0
平场尺寸（mm） OQ#gQ6;? 0	25.4 mmY~V:,Kd	50 ~cSC-|$^&	50 @A!Ef=R
色散(nm/mm) %#Wg>6	0.5-0.7 vq$%Ug/B	0.7-1.1 ^*C6]*C}te	0.9-1.3 "A__z|sQ
光谱分辨率（nm） Xfx(X4$9	0.06 /7@@CG6b	0.09 >IfJ.g"	0.11 M< 7<L
" ,E6)r	:*tv`:;p	HG@!J>YaD	vb: '%^v
升级波长范围 ,!kyrk6	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) !f)'+ _d
探测器选择 HT A-L>Cee	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 @l"GfDfL9
光栅台 Y8.0R-:ZAN	电控 A42At]
工作环境 )%;#~\A	<10-6mbar dge58A)Q
操作性 Ul@ZCv+	极易安装使用，用户自己即可安装使用 9foQ0#R

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技术优势介绍： 4TG|  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 )t&|oQ3sVG  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 \'E_  
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-平场成像技术 "4g1I<  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 =eac,]31  
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紧凑/模块化 ]*i>KR@G  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） +hjc~|RK  
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结实耐用无需准直 \_x)E]
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 b%$S6.  
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- 定制化 68I4MZK>4  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 @GnsW;$*~.  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 "j$}'uK<  
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典型客户： ?N11R?8  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) lS?f?n^  
   
2. < >Los Alamos `9K'I-hv<8  
   
3. Max Planck Institute

::TUSz2/2  
详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828