X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 7)RR
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像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 _FU}If
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技术参数 Wj8WT)cB  

波长范围 3L-$+j~u	5-20 7Y)i>[u3	10-60 U] P{~	25-80 i|0!yID0@
光源距离（m） H vHy{S4	w4FYd	0.4-0.6 vXZ )	0.5-1.5 :)y3&I
平场尺寸（mm） |tC=  j.	25.4 kkJ8xyO	50 G^Y^)pc] 	50 wb%4f6i
色散(nm/mm) e0]#vqdO	0.5-0.7 xf?"Q#	0.7-1.1 ']d(m?	0.9-1.3 Jpy~5k S
光谱分辨率（nm） !}5+hj!6	0.06 K"!U&`T	0.09 3[@:I^q	0.11 lR/Uboyy
RU~Pa+H	3v&Shb?xb;	%.w x]:o	?BbEQr
升级波长范围 %q.5;L	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 7%&e4'SZO
探测器选择 [ {HTGz@(	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 WR u/7$8
光栅台 BjHp3-A'	电控 bN|1%[7
工作环境 JE#H&]	<10-6mbar ,Xg^rV~]
操作性 7#N ?{3i	极易安装使用，用户自己即可安装使用 [x- 9m\h

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技术优势介绍： ItVVI"-  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 7+Nl)d:CJ  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 =
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-平场成像技术 5k?xBk=
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 N8,g~?r^  
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紧凑/模块化 1/syzHjbY  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） @LY[kt6o  
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结实耐用无需准直 Galh
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ?m9=Me  
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- 定制化 Fu% n8  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 j3S!uA?  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 q"WfKz!U  
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典型客户： YS<KyTb"  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 'j?
   H>'t{  
   
2. < >Los Alamos sxdDI?W4  
   
3. Max Planck Institute

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