X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ~).D\Q\  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 LAxN?ok9gD  
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技术参数 z_ycH%p  

波长范围 EXVZ?NG	5-20 2y^:T'p	10-60 b=:ud[h	25-80 Q9O_>mZy
光源距离（m） ^-k"gLg	={oNY.(Q	0.4-0.6 TK\3mrEI	0.5-1.5 o68i0aFW
平场尺寸（mm） N2A6C$s	25.4 si6CWsb_f	50 QE[< Y3M	50 iD_y@+iz
色散(nm/mm) =cjO]	0.5-0.7 pl&nr7\	0.7-1.1 LiT%d	0.9-1.3 fuUtM_11
光谱分辨率（nm） S5 q 1Mn	0.06 ySO\9#Ho	0.09 7mMGH(	0.11 .UL2(0
qovsM M	MYy58N	s~ 8g	mXyP;k
升级波长范围 oHx:["F	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) >{Hg+ /
探测器选择 n Ab~	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 $-1ajSVJ
光栅台 j%nN*ms	电控 [%dsq`b#
工作环境 [h;I)ug[o(	<10-6mbar a&b/C*R_
操作性 \~,\|	极易安装使用，用户自己即可安装使用 g-d{"ZXd J

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技术优势介绍： |@JTSz*Or  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 2\1+M)  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 >tcEx(  
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-平场成像技术 `3T=z{HR9g  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 (y>N\xS9  
K)LoZ^x0)  
紧凑/模块化 gE\ ^ vaB  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） VR>!Ch  
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结实耐用无需准直 n~yKq"^  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 P knOeW"j  
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- 定制化 wCLniCt  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 /OztkThx=  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 J2VPOn  
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典型客户： F7JO/U^oU  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *%;A85V/  
   
2. < >Los Alamos C
   b{D[  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828