X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 Nn>Oq+:  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 V-IXtQR  
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技术参数 )$XcO]  

波长范围 Gg8F>y<[R	5-20 2XNO*zbve	10-60 "K;f[&xO,o	25-80 &( aw
光源距离（m） 7\HjQ7__	8k vG<&D	0.4-0.6 <>%2HRn<u	0.5-1.5 oP!oU2eqK
平场尺寸（mm） !E#FzY!}Pl	25.4 tFn_{fCc>	50 v4OroG=^	50 [`2V!rU
色散(nm/mm) wO.T"x%X	0.5-0.7 8`Ih> Dc	0.7-1.1 5bBY[qp	0.9-1.3 s YE|
光谱分辨率（nm） 0w<vc}{t	0.06 O4t0 VL$	0.09 Vq4g#PcG	0.11 G L U7?2`t
wN Mf-~	'ioX, KD	1L3+KD~	POB6#x
升级波长范围 ~T">)Y~+xI	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) WstX>+?'
探测器选择 ld	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 Bre:_>*
光栅台 <aSjK#	电控 O N [ F
工作环境 >=O5=\`	<10-6mbar VYG o;
操作性 Smg z}	极易安装使用，用户自己即可安装使用 =/kwUjC?

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技术优势介绍： 0
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 7fE U5@  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 _O#R,Y2#  
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-平场成像技术 wjy<{I  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 Xnc?o
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紧凑/模块化 :yxP3e%rp  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） !KC4[;Y  
Y+)qb);  
结实耐用无需准直 *jCHv  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 (! a;}V<7  
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- 定制化 JIatRc?g  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 me@k~!e"z  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 _*wkTI+j  
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典型客户： ,,8'29yEq  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) o#uhPUZ
    
   
2. < >Los Alamos ;.+C  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828