X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 R2)@Q  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 J`5VE$2M  
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技术参数 ,ojJ;w5D  

波长范围 1EV bGe%b	5-20 ?62zv[#	10-60 [4yHXZxza	25-80 1L<TzQ
光源距离（m） ?w/p9j#	gV]4R"/	0.4-0.6 O<vBuD2	0.5-1.5 Qh@Q6
平场尺寸（mm） 'ON/WKJr|W	25.4 (%R%UkwP9	50 +Ug &	50 ho>@ $9
色散(nm/mm) j"jssbu}	0.5-0.7 />xEpR3_A	0.7-1.1 e,OXngC	0.9-1.3 :O u~?q%X
光谱分辨率（nm） $@VJ@JAe	0.06 fS}Eu4Xe	0.09 Uv59 XF$	0.11 $l,U)
q;AD#A|\	%ZRv+}z	}e7/F[c.U	<x`yoVPiZg
升级波长范围 3JD62wtx	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) _CNXyFw.7
探测器选择 (l wV(M	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ,q* |R  O
光栅台 (U5XB [r_P	电控 }'<Z&NW6
工作环境 (B\Kb4m	<10-6mbar xDe^>(,"
操作性 bN?*p($/	极易安装使用，用户自己即可安装使用 7NEOaX(J9

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技术优势介绍： )-+tN>Bb  
光源可以直接成像/超强信号采集能力  '0f!o&?g  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 G$zY&  
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-平场成像技术 oxFd@WV5  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 K;/f?3q  
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紧凑/模块化 O#tmB?n*  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ->|eMV'd  
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结实耐用无需准直 fe4/[S{a   
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 PM*lnd#J  
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- 定制化 U-?r>K2  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 =YYqgNz+\w  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ~DLxIe  
V13^SVM  
典型客户： aQhT*OT{Q  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) lN.&46 e  
   
2. < >Los Alamos %.[AZ>  
   
3. Max Planck Institute

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