X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 9=/N|m8.  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 =[<m[.)i  
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技术参数 NS,5/t  

波长范围 ozr9>b>M	5-20 M'1!<a-Mp	10-60 S|GWcSg	25-80 {hO`6mr&t
光源距离（m） VIR.yh	-6 Mm#sX	0.4-0.6 (,xZGa	0.5-1.5 9%iFV N'
平场尺寸（mm） cxYfZ4++m	25.4 J:F^ #gW	50 ~ekh1^evu	50 u.|~$yP.!
色散(nm/mm) wn11\j&	0.5-0.7 br,+45:	0.7-1.1 ;#G%U!p	0.9-1.3 XL}<1-}
光谱分辨率（nm） fH8!YQG8$	0.06 HpexH{.u)	0.09 [Id}4[={e	0.11 .#5l$['
I2HT2c$	WO,xM fK	y0 2u?wJ	]9S`[c$
升级波长范围 swpnuuC-	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 3An(jt$%Q
探测器选择 qA/bg	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ?4)v`*
光栅台 u=qPzmywt	电控 {sC=J hs-
工作环境 /axTh	<10-6mbar =J|sbY"]
操作性 M>_= "atI	极易安装使用，用户自己即可安装使用 p#_[

• I*1S/o_xI  
技术优势介绍： %TK&)Q% h5  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 G"S5ki`o  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 
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-平场成像技术 %3a|<6  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 |tG+iF@4  
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紧凑/模块化 Uk-HP\C"7  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） < `Z%O<X  
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结实耐用无需准直 ~/`X*n&  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 {:Vf0Mhb  
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- 定制化 D&[Z;,CHMA  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 4S *,\q]q  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 ^&:'NR  
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典型客户： %N~;{!![p  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) c d%h
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2. < >Los Alamos Gm&2R4)EP  
   
3. Max Planck Institute

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