X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 Y/LS(b*  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 a/3yn9`sQ  
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技术参数 GnCs_[*&r  

波长范围 L=.@hs	5-20 9{rE7OX*A	10-60 w a!z:}]	25-80 ;kZJnN"y
光源距离（m） s){VU2.ra	MwL!2r	0.4-0.6 I,"q:QS+	0.5-1.5 /XNC^!z6Js
平场尺寸（mm） mE'HRv	25.4 tOZ-]>U	50 B,` `2\B	50 o=PW)37>
色散(nm/mm) YRv}w3yQ	0.5-0.7 -~*kAh	0.7-1.1 vbtjPse	0.9-1.3 >.H}(!
光谱分辨率（nm） bZZ_yc	0.06 7W+{U02O	0.09 X_)I"`	0.11 ks,d4b=->
p^Z|$aZZ	BAG#YZB	Bsk` e	`=kiqF2P}
升级波长范围 UMMGT6s,E8	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ZTj!ti;5
探测器选择 rT[b ^l}	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 #KuBEHr
光栅台 #iRd2Qj%	电控 FuAs$;
工作环境 sp_19u	<10-6mbar {IF$\{Al
操作性 5 o[E8c8	极易安装使用，用户自己即可安装使用 +(`.pa z@

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技术优势介绍： p S|  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 J<9}) m  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 [<}W S} .  
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-平场成像技术 S2 P9C"  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ^`RMf5i1m  
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紧凑/模块化 9niffq)h  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ty@D3l  
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结实耐用无需准直 B-|C%~fe  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 h?fp(  
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- 定制化 ACI.{`SrQ=  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 %][zn$aa|  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 #UvWS  
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典型客户： +xU=7
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1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) l=a<=i  
   
2. < >Los Alamos M=1~BZQ(Z  
   
3. Max Planck Institute

XAB/S8e  
详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828