2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程

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TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 na_Y<R`  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme eXUXoK=T  
Language，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 @MS;qoc  
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课程主要针对光学设计从业人员，在课程结束后，能达到以下三方面的效果：能使用软件正确有效的设定模型的光学性质，计算和分析结果，对模型进行优化分析设计。 -ZBk^p  
课程内容精彩丰富，相信透过深入浅出的教学方式，让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领！ '*|Wi}0R  
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Yu`b[]W   时间	TdlF~ca|   课程内容
09:00~10:20 (80分钟)	OpA    杂散光分析： QD-#sU]   1)     TracePro针对杂散光的分析   weYP^>gH'   2)     TracePro 操作练习
10:30~11:50 （80分钟）	\E5%.KR   TracePro中的模型分析： eJIBkFW/3y   1)     ABg BSDF模型 XO AZ   2)     重点取样，点源辐照度透过率
12:00~13:00	Tj$D:xKf)   休息
13:00~14:20 (80分钟)	|MY6vRJ(   实例 ： HeCQF= R   1)     Lens Demo分析，并导入位图光源 :$lx]   2)     导入BSDF数据，建立ABg模型
14:30~15:50 (80分钟)	!c(B c^   1)     重点取样例子：手动，自动 9l5l"Wj&   2)     衍射例子 Zu951+&`   3)卡塞格伦望远镜例子
16:00~17:20 (80分钟)	VQI   1)     宏记录器的使用 ,Y6Me+5B   2)     scheme的编程使用 ZnVi.s~1V   3)     Q&A

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报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 :80!-F*\  
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请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn