2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程

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TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 Q-<N)K$F(4  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme yClX!
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Language，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 &`+tWL6L  
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课程主要针对光学设计从业人员，在课程结束后，能达到以下三方面的效果：能使用软件正确有效的设定模型的光学性质，计算和分析结果，对模型进行优化分析设计。 !Au'WJfE  
课程内容精彩丰富，相信透过深入浅出的教学方式，让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领！ $m{-I=  
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jroR2*   时间	L-Io!msb   课程内容
09:00~10:20 (80分钟)	zf+ jQ   杂散光分析： jpijnz{M   1)     TracePro针对杂散光的分析   -JgN$Sf   2)     TracePro 操作练习
10:30~11:50 （80分钟）	<y 4hK3wP   TracePro中的模型分析： <r 2$k"*:   1)     ABg BSDF模型 x_Y03__/   2)     重点取样，点源辐照度透过率
12:00~13:00	M&auA   休息
13:00~14:20 (80分钟)	w)}' {]P"c   实例 ： BMaw]D   1)     Lens Demo分析，并导入位图光源 8SH&b8k<<   2)     导入BSDF数据，建立ABg模型
14:30~15:50 (80分钟)	})~M}d2LXB   1)     重点取样例子：手动，自动 ')eg6IC0&T   2)     衍射例子 @`"UD   3)卡塞格伦望远镜例子
16:00~17:20 (80分钟)	hb@,fgo!Q   1)     宏记录器的使用 W}^X;f   2)     scheme的编程使用 %DOV)Qc2   3)     Q&A

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报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 Q8d-yJs&  
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请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn