《
薄膜光学与薄膜技术基础》是作者多年来从事薄膜光学与薄膜技术课程教学研究成果的总结。《薄膜光学与薄膜技术基础》共分三篇13章:第一篇分为4章,讲述薄膜光学基本理论,内容包括各向同性均匀和非均匀、各向异性均匀和非均匀、吸收和导电层状介质薄膜反射和透射特性计算;第二篇分为6章,分类讲述增透膜、高反射膜、带通滤光片、截止滤光片、带阻滤光片和分光镜的膜系构成、特性描述及其应用;第三篇分为3章,比较全面地介绍了物理气相沉积、化学气相沉积和液相沉积薄膜制备方法原理、光学薄膜检测技术,以及一些金属薄膜、
半导体薄膜和介质薄膜制备实例。鉴于薄膜光学与薄膜技术的飞速发展,《薄膜光学与薄膜技术基础》在取材的深度和广度上充分考虑到现代前沿科学领域的知识内容。
sjVl/t`l 9BgQoK@ EZNB`gO 目录
U]R|ej 第一篇 薄膜元学基本理抢
B+e~k?O] 1 第1章 薄膜光学的电磁理论基础 1
4tN~UMw? 1.1 麦克斯韦方程 1
^,\se9=( 1.2 平面电磁波 6
_|2";.1E 1.2.1 复矢量波动方程一一齐次矢量亥姆霍兹方程 6
5E!|on 1.2.2 理想介质中的平面波解 7
5tbiNm^X 1.2.3 吸收介质中的平面波解 8
r%?}5"* 1.3 平均电磁能流密度光强 9
nh_xbo5L[ 1.4 电磁波谱、
光谱 10
n*]x02:LjZ 习题 12
C8%nBa/ 参考文献 12
4h2bk\z- 第2章 平面光波在两介质分界平面上的反射与透射 14
NIcNL(] 2.1 各向同性理想介质界面的反射与透射 14
5Qe}v 2.1.1 S波反射与透射 14
,\">o vV33 2.1.2 P波反射与透射 16
J1wGK|F~ 2.2 各向同性吸收介质界面的反射与透射 18
i\c^h;wX 2.2.1 S 波反射与透射 18
xdSj+507 2.2.2 P 波反射与透射 20
<MDFfnj 2.3 非均匀介质界面的反射与透射 21
JO;`Kz_$ 2.3.1 几何光学近似条件下非均匀介质中的波传播 21
/)HEx&SQmZ 2.3.2 任意非均匀介质界面的反射系数方程 24
B\~3p4S 2.4 各向异性介质界面的反射与透射 30
r;s3(@[,@ 2.4.1 平面对称各向异性介质中麦克斯韦方程的分量形式 31
i_Q4bhVj 2.4.2 平面对称各向异性介质界面的反射与透射 31
b9!J}hto, 2.5 反射系数和透射系数随入射角的变化 36
pz z`4VS: 2.5.1 全反射与倏逝波 36
EC&19 2.5.2 全透射 37
Ql!6I ( 2.5.3 反射系数、透射系数振幅和相位随入射角变化 38
gcY~_'&u 2.6 反射率和透射率 39
L``mF(R^ 2.6.1 理想介质分界面的反射率和透射率 40
vskM; 2.6.2 吸收介质分界面的反射率和透射率 41
Zi '8~iEH 2.6.3 空气与金属导体表面的反射率 43
n ;fTx 习题 44
gj(l&F *@ 参考文献 44
Ay. q) 第3章 平面光波在平界面层状介质薄膜中的反射与透射 45
OjL"0imN6 3.1 法向阻扰和光学有效导纳的概念 45
;@$, "
P 3.2 平面分界面单层均匀介质薄膜的反射与透射 47
;?[ +vf") 3.3 平面分界面多层均匀介质薄膜的反射与透射 53
Sv[_BP\^h 3.3.1 平面分界面多层均匀介质薄膜反射系数和透射系数计算的矩阵方法 53
oI"Fpo 3.3.2 多层增透膜和高反射膜的基本构成特点 55
o3`gx 3.4 非均匀介质膜层的特征短阵 61
w[7HY@[ 3.4.1 一阶近似 62
!N2 n@bo 3.4.2 二阶近似 63
I2!&=" 7@ 3.5 各向异性介质薄膜的分层矩阵计算方法 64
J*kzJ{vwy* 3.5.1 各向异性介质中的矩阵波动方程 64
OTbjZ( 3.5.2 各向异性介质薄膜的矩阵波动方程 66
"MKsSty 3.5.3 均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的解 70
AZm)$@e) 3.5.4 单轴各向异性介质薄膜的特征矩阵 72
`E%d$ 3.5.5 非均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的数值解 74
o ML
K!]a 3.5.6 单层各向异性介质薄膜的反射与透射 75
MhXm-<4
习题 79
A&|(% 参考文献 79
GAe_Z(T 第4章 膜系设计图示法 81
+R jD\6bJb 4.1 矢量法 81
mCP +7q7 4.2 导纳图解法 87
J};,%q_ 4.2.1 单一等效界面等反射率导纳圆图和等相位导纳圆图 87
%1l80Z 4.2.2 单层膜系等折射率导纳圆图和等相位导纳圆图 89
YRX2^v ^[ 4.2.3 多层膜系等折射率导纳圆图 92
k{&E}:A 4.3 金属膜导纳圆图 97
M;@03 x W 4.4 膜系层间电场分布 99
3B]+]e~ 习题 100
P<oD*C 参考文献 101
"h|0]y^2 第二篇 光学等膜分类反应用
FKTP0e7=9 第5章 增透膜 102
m(Xr5hw:6 5.1 表面反射对
光学系统性能的影响 102
s.Ic3ITd, 5.2 基底介质非相干叠加的透射率 104
)1'_g4 5.3 透射滤光片组合透射率 106
|UiykQ 5.4 均匀介质增透膜 107
[\y>&"uk 5.4.1 单层均匀介质增透膜 107
C)dYAq3,8 5.4.2 多层均匀介质增透膜 108
<Gt{(is 5.5 非均匀介质增透膜 113
246!\zf 5.6 入射角变化对透射率的影响 115
}tg n1xpx 5.7 增透膜应用实例液晶显示增透膜 117
`9NnL.w! 习题 118
JH,fg K+[ 参考文献 118
gG?*Fi 第6章 高反射膜 120
G(,~{N|| 6.1 反射镜组合的反射率 120
X Ow^"=Oa[ 6.2 周期多层膜系的反射率 121
<JuJ`t 6.2.1 周期多层膜系的特征矩阵 121
Ol^EQLO 6.2.2 周期多层膜系的反射率和透射率 122
L PgI"6cP 6.3 [HL]m类型的周期多层膜 123
i2c<q0u 6.4 (0.5L) H(0.5L)m类型的对称周期多层膜 126
sX?7`n1U 6.5 周期多层膜构成的宽带高反射膜 128
vWga>IGM 6.6 中远红外区域的多层高反射膜 129
Oc3%pb; 6.7 软X 射线区域的多层高反射膜 131
8xz7S 6.8 金属反射镜 134
t|,Ex 7 6.8.1 常用金属反射镜 134
_^A
NJ7 6.8.2 金属一介质反射镜 136
=C}<0<"iF 6.9 影响反射特性的因素 137
(M?Q9\X 6.10 高反射镜应用实例 143
Z9EQ|WfS#- 6.10.1
激光高反射镜 143
dQ"W~ig 6.10.2 光刻机系统193nm 高反射膜 144
u 9TlXn 6.10.3 DLP/LCoS 技影薄膜宽角度高反射镜 145
`)P_X4e]` 习题 146
ml/O 参考文献 146
:cz]8~i\ 第7章 带通滤光片 149
j ZafwBi 7.1 带通滤光片的特性描述 149
'Z9F0l"Nr 7.2 带通滤光片的基本构型一一法布里一咱罗干涉仪及其变形 150
f.CI.aozW 7.3 法布里一咱罗干涉仪透射率计算 151
$S ("-3 7.3.1 单层薄膜反射与透射计算的有效界面法 151
H( m+rk 7.3.2 膜系透射定理 153
${2fr&Tp 7.3.3 法布里一躏罗干涉仪的透射率计算 155
u{d` 7.3.4 法布里础罗干涉仪透射特性分析 156
_YUF /B' 7.3.5 特殊带通滤光片信噪比的计算 164
n[-!Jp[ 7.4 窄带和中等带宽滤光片 164
!Z)^c& 7.4.1 法布里踊罗干涉滤光片 164
H!=BjU1Pmg 7.4.2 窄带平顶多腔带通滤光片 172
h0pr"]sO;$ 7.4.3 诱导带通滤光片 174
e4LNnJU\| 7.5 超窄带带通滤光片 183
!d)i6W? 7.6 宽带带通滤光片 185
%05a>Rf& 7.7 带通滤光片的角特性 186
ZJm^znpw6 7.8 极远紫外及软X 射线区域带通滤光片 190
k,(_R= 7.9 多通道窄带带通滤光片 192
S!cXc/H-R 习题 193
T`;M!-)2 参考文献 193
y?hW#l~#X 第8章 截止滤光片 196
}A^,y 8.1 截止滤光片的特性描述 196
GjG3aqP&! 8.2 吸收型截止滤光片 197
<ZdNPcT<s 8.3 干涉型截止滤光片 198
u{z{3fW_ 8.3.1 1/4波长周期膜系的透射特性 198
>4b39/BM 8.3.2 周期对称膜系的光学等效导纳和等效相位 199
v\FD~ 8.3.3 [(0.5H)L(0.5H)]和[ (0.5L) H(0.5L)]类型对称膜系的光学等效导纳和等效相位 201
?8/h3xV; 8.3.4 [(0.5H)L(0.5H)Jm 和[(0.5L) H(0.5L)]m类型周期对称膜系的透射率 203
[J
Xrj{ 8.3.5 透射带内波纹的压缩 208
g&wQ^ 8.3.6 截止带的展宽 210
) P])0Y- 8.3.7 透射带的展宽和压缩 212
:Aw VeX@ 8.4 金属介质膜截止滤光片 218
h#nQd=H<g# 8.5 热反射镜、冷反射镜和
太阳能电池覆盖膜 218
J_$~OEC~ 习题 221
TQH#sx 参考文献 221
S\(_"xJPp 第9章 带阻滤光片 223
U @|_5[nl 9.1 带阻滤光片的特性描述 223
e:<>
Yq+ 9.2 周期对称膜系构成的带阻滤光片 223
vS#]RW&j 9.2.1 单个周期对称膜层的等效导纳和等效相位 224
5K<C 9.2.2 多层膜透射率的不变特性 224
X;tk\Ixd 9.2.3 周期对称多层膜通带内波纹的压缩 227
_{%H*PxTn= 9.2.4 四种介质周期对称膜系构成的带阻滤光片 230
K(2s% 9.3 非周期对称多层膜构成的带阻滤光片 231
f'S"F 9.4 正弦周期折射率带阻滤光片 232
l<?wB|1' 9.4.1 正弦周期折射率带阻滤光片的基本构成特点 233
"
cg>g/ 9.4.2 正弦周期折射率带阻滤光片设计的傅里叶变换方法 234
cO9Aw ! 习题 241
7(Kc9sJC%% 参考文献 241
WTx;,TNG 第10章 分光镜 243
1\uS~RR 10.1 中性分光镜 243
5JXLfYTUI 10.1.1 金属膜中性分光 244
7j8_O@_ 10.1.2 介质膜中性分光 245
=UY@,*q:c 10.1.3 金属介质膜中性分光 247
D.?gV_ 10.2 双色分光镜 249
.MlE1n' 10.3 偏振分光 254
)3 10.3.1 偏振特性的描述 254
'>BHwc 10.3.2 平板偏振分光镜 255
?a@l.ZM* 10.3.3 棱镜偏振分光 258
";]m]PRAam 10.3.4 宽角宽带偏振分光 259
jC%I]#!n 10.4 消偏振分光 262
h>?OWI 10.4.1 偏振分离的描述 263
, fn=%tiUk 10.4.2 介质膜消偏振分光设计实例 267
}{J8U2])k 10.4.3 金属一介质膜消偏振分光设计实例 271
oLoa71Q} 10.4.4 其他消偏振分光设计方法 273
FBsw\P5w 10.5 分光中的消色差问题 280
[@;Z
xs 习题 281
>B0S5:S$W 参考文献 282
vNIQc "\- 第二篇 薄膜扶术基础
MZ'HMYed 第11章 薄膜制备技术 283
2X`M&)"X 11.1 真空技术简介 283
|wx1
[xZ 11.1.1 真空的基本知识 283
{;U:0BPI3 11.1.2 真空的获得 284
:nI.Qa'"H 11.1.3 真空的测量 286
2ip~qZNw>< 11.2 薄膜制备方法物理气相沉积 289
r+Y1m\ 11.2.1 蒸镀法 289
@Klj!2cv$ 11.2.2 溅射法 300
Eh+lLtZ 11.3 薄膜制备方法化学气相沉积 306
YQ/*| 11.3.1 化学气相沉积的原理 307
4)_ [)MZ\j 11.3.2 常压化学气相沉积 308
H@zpw1fH+ 11.3.3 低压化学气相沉积 308
aH_&=/-Tz
11.3.4 等离子体增强化学气相沉积 309
aO1cd_d6x_ 11.3.5 光化学气相沉积 310
W2RS G~| 11.3.6 金属有机化学气相沉积 311
P\JpE 11.3.7 原子层沉积 312
PLD!BD 11.4 薄膜制备方法一一液相沉积 313
Ts\7)6|F 11.4.1 化学镀 313
SzgVvmM} 11.4.2 阳极氧化法 314
@,]v'l!u 11.4.3 溶胶一凝胶法 314
B}W^s;h 11.4.4 电镀 315
'5%DKz 11.4.5 LB 膜制备技术 315
^:BRbp37i 11.5 光刻蚀 316
8Bhng;jX 11.5.1 光刻工艺 316
L@wnzt 11.5.2 光刻胶 317
=LR UasF 11.5.3 掩模 318
KGIz)/eSg 11.5.4 曝光 318
V4 7Fp 11.5.5 刻蚀方法 318
e042`&9=Ic 11.5.6 无掩模刻蚀 321
Nn$$yUkMX 11.5.7 刻蚀图形及折射率 323
g!$
"CX%8 习题 323
j[9B,C4 参考文献 324
2rxdRg'YLQ 第12章 光学薄膜检测技术 326
sb1/4u/W 12.1 光谱分析技术基础 326
;.Kzc3yz} 12.1.1 光度计和光谱仪的基本构成 326
rO
NLbrj 12.1.2 紫外一可见光分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪 330
q~qig,$Y 12.2 薄膜透射率和反射率测量 333
\vI_%su1N 12.2.1 透射率测量 333
A)xI.Q6 12.2.2 反射率测量 334
=xgW$c/yB 12.3 薄膜吸收和散射测量 338
z"<PveVo 12.3.1 吸收测量 338
}V 1sY^C 12.3.2 散射测量 342
=Zj9F1E[i 12.3.3 薄膜表面轮廓及粗糙度测量 344
n}l Z 12.4 光学薄膜常数测量 347
&HWH
UWB 12.4.1 光度法 348
thh, V 12.4.2 全反射衰减法 354
1xw},y6T2 12.4.3 椭圆偏振法 357
1yhx)m;f 12.5 光学薄膜激光损伤阔值检测 358
o` e~1 12.5.1 光学薄膜激光损伤机理 359
m'pihFR:f 12.5.2 影响光学薄膜激光损伤阔值的因素 360
&rn,[w_F[ 12.5.3 激光损伤阂值测量方法 362
q+K`+& @\ 12.5.4 提高光学薄膜损伤阂值的途径 366
5+U~ZW0|+ 12.6 薄膜微结构和化学成分检测 368
IflpM ] 12.6.1 薄膜微结构 368
`]%{0 Rx 12.6.2 薄膜微结构检测 371
dWI\VS 9 12.6.3 雕塑薄膜 372
+G?3j ,a\ 12.6.4 薄膜化学成分检测 373
.N%$I6w 12.7 薄膜非光学特性测量 375
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^#G>P0mG%