《
薄膜光学与薄膜技术基础》是作者多年来从事薄膜光学与薄膜技术课程教学研究成果的总结。《薄膜光学与薄膜技术基础》共分三篇13章:第一篇分为4章,讲述薄膜光学基本理论,内容包括各向同性均匀和非均匀、各向异性均匀和非均匀、吸收和导电层状介质薄膜反射和透射特性计算;第二篇分为6章,分类讲述增透膜、高反射膜、带通滤光片、截止滤光片、带阻滤光片和分光镜的膜系构成、特性描述及其应用;第三篇分为3章,比较全面地介绍了物理气相沉积、化学气相沉积和液相沉积薄膜制备方法原理、光学薄膜检测技术,以及一些金属薄膜、
半导体薄膜和介质薄膜制备实例。鉴于薄膜光学与薄膜技术的飞速发展,《薄膜光学与薄膜技术基础》在取材的深度和广度上充分考虑到现代前沿科学领域的知识内容。
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<]:B ?]><#[?'L 目录
/LFuf`bXV 第一篇 薄膜元学基本理抢
4/
` *mPW 第1章 薄膜光学的电磁理论基础 1
WK|5:V8E 1.1 麦克斯韦方程 1
AJyNlQ 1.2 平面电磁波 6
7z?;z<VJ 1.2.1 复矢量波动方程一一齐次矢量亥姆霍兹方程 6
p]L]=-(qI 1.2.2 理想介质中的平面波解 7
xPZ>vCg 1.2.3 吸收介质中的平面波解 8
*JK0X 1.3 平均电磁能流密度光强 9
S]3CRJU3` 1.4 电磁波谱、
光谱 10
oq7G=8gTp 习题 12
<7P[)X_ 参考文献 12
\'~
E%=Q 第2章 平面光波在两介质分界平面上的反射与透射 14
L[<#>/NPy 2.1 各向同性理想介质界面的反射与透射 14
k`5I"-e 2.1.1 S波反射与透射 14
*)K\&h<{ 2.1.2 P波反射与透射 16
J9lZ1,22 2.2 各向同性吸收介质界面的反射与透射 18
96w2qgc2 2.2.1 S 波反射与透射 18
+b 6R 2.2.2 P 波反射与透射 20
G&S2U=KdV% 2.3 非均匀介质界面的反射与透射 21
Wt/;iq" 2.3.1 几何光学近似条件下非均匀介质中的波传播 21
K]|Ud No 2.3.2 任意非均匀介质界面的反射系数方程 24
4jXo5SkEJ 2.4 各向异性介质界面的反射与透射 30
1$b@C-B@g 2.4.1 平面对称各向异性介质中麦克斯韦方程的分量形式 31
iC3z5_g*@ 2.4.2 平面对称各向异性介质界面的反射与透射 31
tWn
dAM(U7 2.5 反射系数和透射系数随入射角的变化 36
T'p L&@,Q 2.5.1 全反射与倏逝波 36
s4bV0k 2.5.2 全透射 37
qfsPX6] 2.5.3 反射系数、透射系数振幅和相位随入射角变化 38
u1meysa{0 2.6 反射率和透射率 39
P<g(i 6] 2.6.1 理想介质分界面的反射率和透射率 40
F85_Lz4 2.6.2 吸收介质分界面的反射率和透射率 41
F! =l
r 2.6.3 空气与金属导体表面的反射率 43
vM/*S
6[ 习题 44
ko9}?qs 参考文献 44
;VE y{%nF 第3章 平面光波在平界面层状介质薄膜中的反射与透射 45
]k!Xb 3.1 法向阻扰和光学有效导纳的概念 45
^+x?@$rq 3.2 平面分界面单层均匀介质薄膜的反射与透射 47
Et3I(X3 3.3 平面分界面多层均匀介质薄膜的反射与透射 53
Cd*h4Q]S 3.3.1 平面分界面多层均匀介质薄膜反射系数和透射系数计算的矩阵方法 53
c)#P}Ai 3.3.2 多层增透膜和高反射膜的基本构成特点 55
=TD`P et 3.4 非均匀介质膜层的特征短阵 61
t"$~o:U&) 3.4.1 一阶近似 62
?=&; A 3.4.2 二阶近似 63
w0!$ow.l 3.5 各向异性介质薄膜的分层矩阵计算方法 64
[v~,|N>w 3.5.1 各向异性介质中的矩阵波动方程 64
nJe}U# 3.5.2 各向异性介质薄膜的矩阵波动方程 66
u%C oo 3.5.3 均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的解 70
ujV{AF`JfB 3.5.4 单轴各向异性介质薄膜的特征矩阵 72
r *K 3.5.5 非均匀各向异性介质薄膜矩阵波动方程的数值解 74
@jn&Wf? 3.5.6 单层各向异性介质薄膜的反射与透射 75
LGt>=|=bj 习题 79
~&RTLr#\*M 参考文献 79
*I 1 H 第4章 膜系设计图示法 81
_)45G"M 4.1 矢量法 81
sqKx?r72 4.2 导纳图解法 87
JY 4.2.1 单一等效界面等反射率导纳圆图和等相位导纳圆图 87
Et3]n$ 4.2.2 单层膜系等折射率导纳圆图和等相位导纳圆图 89
D;+/bll7 4.2.3 多层膜系等折射率导纳圆图 92
tLu&3<% 4.3 金属膜导纳圆图 97
uo`R 4.4 膜系层间电场分布 99
WJq>%<# 习题 100
u+V*U5v 参考文献 101
g, d_ 第二篇 光学等膜分类反应用
u=0O3-\h 第5章 增透膜 102
j !*,( 5.1 表面反射对
光学系统性能的影响 102
:u4|6? 5.2 基底介质非相干叠加的透射率 104
p{Q6g>?[ 5.3 透射滤光片组合透射率 106
?;,; 5.4 均匀介质增透膜 107
R&|.Lvmc/ 5.4.1 单层均匀介质增透膜 107
$!O@Z8B 5.4.2 多层均匀介质增透膜 108
/1EAj 5.5 非均匀介质增透膜 113
^xHKoOTj[ 5.6 入射角变化对透射率的影响 115
ZxvH1qx8 5.7 增透膜应用实例液晶显示增透膜 117
l\Ozy 习题 118
( eKgc 参考文献 118
JX0M3|I= 第6章 高反射膜 120
:UdW4N- 6.1 反射镜组合的反射率 120
W'4/cO 6.2 周期多层膜系的反射率 121
.RpJZ[E 6.2.1 周期多层膜系的特征矩阵 121
yX!fj\R 6.2.2 周期多层膜系的反射率和透射率 122
7wj2-BWa 6.3 [HL]m类型的周期多层膜 123
Ql{#dcRx 6.4 (0.5L) H(0.5L)m类型的对称周期多层膜 126
B''yW{ 6.5 周期多层膜构成的宽带高反射膜 128
ebze_: 6.6 中远红外区域的多层高反射膜 129
#}#m\=0 6.7 软X 射线区域的多层高反射膜 131
b/_Zw^DPC 6.8 金属反射镜 134
ExG(*[l 6.8.1 常用金属反射镜 134
OQumAj 6.8.2 金属一介质反射镜 136
=RWTjTZ 6.9 影响反射特性的因素 137
+;W%v7%< 6.10 高反射镜应用实例 143
r6FTpOF 6.10.1
激光高反射镜 143
q=3>ij{v 6.10.2 光刻机系统193nm 高反射膜 144
p-$C*0{ 6.10.3 DLP/LCoS 技影薄膜宽角度高反射镜 145
%*
0GEfl/ 习题 146
PtkMzhX 参考文献 146
WRZpu95v 第7章 带通滤光片 149
a{ST4d'T 7.1 带通滤光片的特性描述 149
Bj7*2} 7.2 带通滤光片的基本构型一一法布里一咱罗干涉仪及其变形 150
P8m0]T.&x 7.3 法布里一咱罗干涉仪透射率计算 151
[WDzaRzd 7.3.1 单层薄膜反射与透射计算的有效界面法 151
oEX,\@+u 7.3.2 膜系透射定理 153
!*v%
s 7.3.3 法布里一躏罗干涉仪的透射率计算 155
]y{tMC 7.3.4 法布里础罗干涉仪透射特性分析 156
6SCjlaGW5 7.3.5 特殊带通滤光片信噪比的计算 164
pwN2Nzski 7.4 窄带和中等带宽滤光片 164
$^Xxn.B9 7.4.1 法布里踊罗干涉滤光片 164
=>'8<"M5z 7.4.2 窄带平顶多腔带通滤光片 172
Z8=?Hu 7.4.3 诱导带通滤光片 174
C@Wzg 7.5 超窄带带通滤光片 183
>n,_Aj
c 7.6 宽带带通滤光片 185
Fbo"Csn_ 7.7 带通滤光片的角特性 186
i$y=tJehi 7.8 极远紫外及软X 射线区域带通滤光片 190
{jD?obs 7.9 多通道窄带带通滤光片 192
|V5BL<4 习题 193
_YX% M|# 参考文献 193
(GRW(Zd4 第8章 截止滤光片 196
2xN7lfu1RB 8.1 截止滤光片的特性描述 196
Vs5 &X+k 8.2 吸收型截止滤光片 197
h.tj8O1 8.3 干涉型截止滤光片 198
%uo8z~+ 8.3.1 1/4波长周期膜系的透射特性 198
a>GA=r 8.3.2 周期对称膜系的光学等效导纳和等效相位 199
nC3+Zka 8.3.3 [(0.5H)L(0.5H)]和[ (0.5L) H(0.5L)]类型对称膜系的光学等效导纳和等效相位 201
L9/'zhiZBx 8.3.4 [(0.5H)L(0.5H)Jm 和[(0.5L) H(0.5L)]m类型周期对称膜系的透射率 203
ZJ{DW4#t 8.3.5 透射带内波纹的压缩 208
O
?T~>| 8.3.6 截止带的展宽 210
}!^h2)'7 8.3.7 透射带的展宽和压缩 212
b_Y+XXb< 8.4 金属介质膜截止滤光片 218
a >fA-@ 8.5 热反射镜、冷反射镜和
太阳能电池覆盖膜 218
.Vt|;P} 习题 221
gp9O%g3' 参考文献 221
MNs<yQ9I' 第9章 带阻滤光片 223
wA{)9. 9.1 带阻滤光片的特性描述 223
I0Do% 9.2 周期对称膜系构成的带阻滤光片 223
L~ax`i1:" 9.2.1 单个周期对称膜层的等效导纳和等效相位 224
k
Fl*Im 9.2.2 多层膜透射率的不变特性 224
HVvm3qu4 9.2.3 周期对称多层膜通带内波纹的压缩 227
q5g_5^csM{ 9.2.4 四种介质周期对称膜系构成的带阻滤光片 230
q<\r}1Dm 9.3 非周期对称多层膜构成的带阻滤光片 231
@Xoh@:j\ 9.4 正弦周期折射率带阻滤光片 232
.U(6])%;@ 9.4.1 正弦周期折射率带阻滤光片的基本构成特点 233
-v9 (43 9.4.2 正弦周期折射率带阻滤光片设计的傅里叶变换方法 234
>> cW0I/` 习题 241
w8D8\`i!" 参考文献 241
pW ~;B*hF 第10章 分光镜 243
IRM jL.q 10.1 中性分光镜 243
DQhHU1 10.1.1 金属膜中性分光 244
;7Qe m& 10.1.2 介质膜中性分光 245
ZS:[ZehF 10.1.3 金属介质膜中性分光 247
^I/(9KP# 10.2 双色分光镜 249
cY} jPDH 10.3 偏振分光 254
;2h"YU-b 10.3.1 偏振特性的描述 254
=pe O% 10.3.2 平板偏振分光镜 255
mV]~}7*Y; 10.3.3 棱镜偏振分光 258
IO#)r[JZ 10.3.4 宽角宽带偏振分光 259
"Io-%Su+ 10.4 消偏振分光 262
NZ`6iK-V_ 10.4.1 偏振分离的描述 263
*Iw19o-I 10.4.2 介质膜消偏振分光设计实例 267
-T+yS BO_3 10.4.3 金属一介质膜消偏振分光设计实例 271
'NWvQR<X 10.4.4 其他消偏振分光设计方法 273
Jur$O,u40l 10.5 分光中的消色差问题 280
6AD&%v 习题 281
ZHen: 参考文献 282
&[\zs&[@y 第二篇 薄膜扶术基础
y%--/; 第11章 薄膜制备技术 283
Q3lVx5G>4 11.1 真空技术简介 283
?_pd#W=! 11.1.1 真空的基本知识 283
h<m>S,@g 11.1.2 真空的获得 284
J'cE@(US 11.1.3 真空的测量 286
.f!'>_ 11.2 薄膜制备方法物理气相沉积 289
'PMzm/;8st 11.2.1 蒸镀法 289
w;VUP@Wm 11.2.2 溅射法 300
fR.raI4et 11.3 薄膜制备方法化学气相沉积 306
0jpyc 11.3.1 化学气相沉积的原理 307
ivdPF dJ 11.3.2 常压化学气相沉积 308
,_,7cor 11.3.3 低压化学气相沉积 308
Z[+Qf3j}o6 11.3.4 等离子体增强化学气相沉积 309
L%9yFg%u 11.3.5 光化学气相沉积 310
#oGvxc7 11.3.6 金属有机化学气相沉积 311
P)TeF1~T 11.3.7 原子层沉积 312
5}NO~Xd< 11.4 薄膜制备方法一一液相沉积 313
\l6mXIn=> 11.4.1 化学镀 313
@Ng q+uXm 11.4.2 阳极氧化法 314
UIQ=b;J9 11.4.3 溶胶一凝胶法 314
hy"p8j7_ 11.4.4 电镀 315
GmGq69]J* 11.4.5 LB 膜制备技术 315
<.7W:s,f= 11.5 光刻蚀 316
a(o[ bH.|; 11.5.1 光刻工艺 316
/7*qa G 11.5.2 光刻胶 317
lSId<v?C> 11.5.3 掩模 318
AMgvk`<f 11.5.4 曝光 318
nDC5/xB
11.5.5 刻蚀方法 318
BcGQpv&x 11.5.6 无掩模刻蚀 321
]*S_fme 11.5.7 刻蚀图形及折射率 323
,@gDY9Q3r/ 习题 323
\No22Je6d 参考文献 324
J! eVw\6 第12章 光学薄膜检测技术 326
WY~}sE 12.1 光谱分析技术基础 326
6a`_i 12.1.1 光度计和光谱仪的基本构成 326
a-TsD}'X 12.1.2 紫外一可见光分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪 330
4d'tK^X 12.2 薄膜透射率和反射率测量 333
S4~;bsSx 12.2.1 透射率测量 333
( Gxv?\ 12.2.2 反射率测量 334
,v1-y
?kB 12.3 薄膜吸收和散射测量 338
dR/UXzrc 12.3.1 吸收测量 338
0H.B>:pv 12.3.2 散射测量 342
H+2J.&Ch 12.3.3 薄膜表面轮廓及粗糙度测量 344
TAYt: 12.4 光学薄膜常数测量 347
o:Z*F0qm 12.4.1 光度法 348
e;}5~dSi 12.4.2 全反射衰减法 354
d0Kg,HB 12.4.3 椭圆偏振法 357
zT+yZA.L 12.5 光学薄膜激光损伤阔值检测 358
Zr2QeLQC( 12.5.1 光学薄膜激光损伤机理 359
l 0b=;^6 12.5.2 影响光学薄膜激光损伤阔值的因素 360
!r!Mq~X<= 12.5.3 激光损伤阂值测量方法 362
I0jEhg%JZ 12.5.4 提高光学薄膜损伤阂值的途径 366
zZh`go02E 12.6 薄膜微结构和化学成分检测 368
1y8:tri>N 12.6.1 薄膜微结构 368
v:T` D 12.6.2 薄膜微结构检测 371
yM D*>8/ 12.6.3 雕塑薄膜 372
8QZk0O 12.6.4 薄膜化学成分检测 373
t_VHw'~" 12.7 薄膜非光学特性测量 375
!%M-w0vC9 " Gn; Q-@