推拉力测试

发布:探针台 2019-07-31 16:10 阅读:1715
测试金铝线焊球黏合力、绑线拉断强度;芯片/Die黏合力;BGA焊锡球黏合力。 umI#P,%[  
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y)Ip\.KV\  
性能参数 lT1*e(I  
HgduH::\#  
a)拉力测试测试范围可在0-100G;0-1KG;0-10KG进行选择; ft:/-$&H  
an0@EkZ  
b)推球测试测试范围可在250G 或 5KG进行选择; x/bO;9E%U4  
2!{CNt.-  
c)芯片推力测试范围可在测试到0-100公斤; 0-200KG进行选择; dpGaI  
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d)镊子撕力测试头量程为100G 和5KG进行选择; Zff-Hl  
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e)BGA拔球到0-100G;0-5KG进行选择; ++Az~{W7  
6;[iX`LL  
?HZ+fS ,-  
应用范围 $?wX*  
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适用于半导体各种封装形式测试金铝线黏合力;及COB封装、光电,LED,SMT组装 ,原件与基板黏合测试
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