探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 "R=~-, ~  
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性能参数 !|j|rYi-  
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放大倍数50X，100X，200X，500X DycXJ3eQ  
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8个探针座 M<*WC{  
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带屏蔽箱 @rAV;D%  
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应用范围 13w(Tf  
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。