探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 JY$B%R4;]  
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性能参数 )TYrb:M'm  
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放大倍数50X，100X，200X，500X EVovx7dr  
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8个探针座 ZHA6BVVT  
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带屏蔽箱 #. mc+n:I  
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应用范围 -N'xQ(#n3q  
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。