探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 s|d"2w6t  
B8.uzX'p  
mk]8}+^.  
性能参数 .+$ox-EK8  
=9L1Z \f  
放大倍数50X，100X，200X，500X sG8G}f  
JpC_au7CX  
8个探针座 2tI,`pSU  
jCp`woV  
带屏蔽箱 S0mz
DLgE  
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2C"[0*.[N  
9#b/D&pX5  
应用范围 W?X3 :1c9:  
6Eyinv  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。