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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 t8+?U^j  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: $|4cJ#;^L  
    * 介紹雜散光 iYk':iv}S  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 Uc_jQ4e_  
    * 設計鎖定工具 [J a)<!]<  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 /xl4ohL$a  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 \hs/D+MCk  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 r_b8,I6{]  
    nd.57@*M  
    文章發布時間:April 23, 2017 w Y8@1>ah  
    文章作者:Michael Cheng <+V-k|  
    v1 LKU  
    簡介 =WIE>*3[  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: qBT_! )h   
    LtC~)R  
    FX H0PK  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: T"n{WmVQ  
    T>d\%*Q+B  
    :W~6F*A  
    V?OuIg%=:  
    開啟範例檔 hS4.3]ei  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx ;avQ1T'{?g  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 _b>F#nD,'%  
    ARPKzF`Wq  
    Fj S%n$  
    j:7* 3@f  
    設計鎖定工具  }VF#\q  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 OkLz^R?d  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: r]v&t  
    * 開啟 Ray Aiming 9/#0?(K8  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size b)N[[sOt  
    * 改為 Angle 或 Object Height G 0hYFc u  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture t5xb"F   
    * 移除漸暈係數 M(yH%i^A  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 M)L/d_4ka  
    djW cbC=g_  
    <3b'm*  
    grr'd+_e  
    產生關鍵光線組 d^PD#&"g  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: 1n_;kaY  
    u^Vh .g]  
    1!vPc93 $$  
    ;(7-WnU8N  
    轉換到非序列 <$%ql'=  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 hi!`9k  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 R~)ybf{  
    N#4N?BBP"  
    ~/2g)IS  
    1pK6=-3w3  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 ylu2R0] (  
    5y]io Jc9-  
    KF_?'X0=  
    WSRy%#  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: $_sYfU9  
    -IadHX}]t  
    ygN>"eP  
    qe?Qeh(!X  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: /Y,r@D  
    Oa! m  
    8'_ 0g[s  
    1]T|6N?  
    檢查關鍵光線組的狀況 e'34Pw!m  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 );Z]SGd  
    ;FU|7L$H  
    ~h! 13!  
    ;$7v%Ls=  
    分析雜散光所需的設定 `N}d}O8   
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 :=*}htP4C  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 pLnB)z?  
    | f\D>Y%)  
    OUI6 ax\[  
    iCP~O  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 IxOc':/jY  
    dFW.}"^c  
    ^]>aHz9  
    je%ldY]/@  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 (Sv>NQp  
    @E%DP9.I  
    jZd}O C<  
    'H|~u&?  
    初步追跡結果 L&kr{7q  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 9 |{%i$  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。  w_Uh  
    RNWX.g)b  
    ~jN'J+_$  
    n-J2/j  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 x GH1epf  
    /:Lu_)5   
    Q9c)k{QZ  
    /7/0x ./{  
    並且設定視窗如下圖。 20tO#{Li  
    F PR`tE  
    BMFF=  
    <{Q'&T  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 I4=Xb^Ux  
    ^A9 M;q  
    63 2bN=>  
    Zb_apjg[4  
    使用Filter String <+v{GF#R  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 ~aTKG|74  
    h/)_) r.x  
    -Q"hZ9  
    },@``&e  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 !yJICjXj  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 H'DVwnn>ik  
    7K;!iX<d  
    Ak@Dyi?p  
    Kz?#C  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 $IX\O  
    l dqLM  
    xZ.!d.rn  
    wTc)S6%7  
    *[}^[J x  
    [ f/I2  
    給透鏡加上鍍膜 }m- "8\_D  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 N ( Oyi  
    這裡我們在 ZDt?j   
    物件6的Face 2以及 `]i []|  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 )[Z!*am  
    p3(2?UO!  
    i|WQ0fD  
    WFTvOFj  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 l'[A? %L%{  
    mtAE  
    8LzBh_J?  
    ?-)I+EAnE  
    U7h(`b  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) 9+=gke  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? }baR5v  
    ?)D^~/ A  
    .a'f|c6  
    I\O\,yPhhP  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 zp}eLm:=d  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 8' DW#%  
    Mkxi~p%<r  
    IxZb$h[  
    C1kYl0 zR[  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 GL$De,V  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 baV>N[F&  
    Fh$slow4!  
    avQJPB)}Sb  
    w"Y` ]2  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 )kXhtjOl|  
    hVUh0XeO  
    kYzKU2T\W  
    H,unpZ(  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 \y`+B*\i  
    W,5Hx1z R  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 8,P- 7^  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 b;sVls  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 b?X.U}62_  
    HBS\<}  
    q[q?hQ/b  
    RGKYW>$0RR  
    H,3\0BKk  
    b//B8^Eong  
    進階路徑分析 Hb} X-6N  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 W!Hm~9fz  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 {9Y+.46S  
    ygJr=_iA9  
    \>LnLH(  
    eV:9y  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 IJYL s  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 Q 1d'~e  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 #6Fez`A  
    tz4 ]qOH8  
    ryF7  
    )a 9 ]US^  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 9EDfd NN  
    g8qgk:}  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 wN1niR'  
    &qp r*17T  
    ]D[DU]K  
    eAv4FA4g  
    +/,icA}PI  
    @k[R/,#'[t  
    UcBe'r}G  
    aRG2@5  
    |8mhp.7  
    ,@1p$n  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
    离线hit2011
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜