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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。  & t b  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: J &,N1B  
    * 介紹雜散光 m9*Lo[EXO  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 oZvQ/|:p!  
    * 設計鎖定工具 T';<;6J**  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 (s?`*i:2  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 .0x+b-x  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 1$,t:/'-4  
    e@k`C{{C]o  
    文章發布時間:April 23, 2017 jYwv+EXg  
    文章作者:Michael Cheng 1VW;[ ocQ  
    W#cr9"'Ta  
    簡介 @g|E b}t  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: 6 bL+q`3>  
    :SxOQ(n  
    UN`F|~@v  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: ejj|l   
    c"aiZ(aP  
    LS:3Dtq  
    />fP )56*  
    開啟範例檔 UA4Q9<>~  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx K GlO;Q~7  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 y<YVb@O.  
    \jn[kQ+pJ  
    !Ju?REH   
    .8is! TT  
    設計鎖定工具 !O$*/7  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 G9\Bi-'ul  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: Zl]Zy}p*+  
    * 開啟 Ray Aiming {8M=[4_`l  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size xG<H${ k;  
    * 改為 Angle 或 Object Height 9%\<x  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture TQ&%SMCn  
    * 移除漸暈係數 7> -y,?&  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 2,Y8ML<  
    =YX/]g|9K  
    W5-p0,?[6  
    3j.Ft*SV  
    產生關鍵光線組 ~CRr)(M  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: bAeN>~WvY  
    8F0+\40  
    qF6YH  
    :W5*fE(i  
    轉換到非序列 ] *{QVn(  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 <!:,(V>F(C  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 +MC>?rr_u  
    ).eT~e Gj  
    |u)?h] >  
    6w K=  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 =SLP}bP{:  
    <FH3 ePz  
    )!MeSWGq  
    i;^ e6A>  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: c1wM"  
    k ]x64hgm  
    oaI7j=Gp  
    _1*EMq6  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: t~p9iGX<  
    `"[VkQFB/  
    iR4CY-  
    _,b%t1v  
    檢查關鍵光線組的狀況 P*/px4;6  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 K&"Yv~h  
    KtHh--j`  
     ;9c3IK@  
    Rs)tf|`/  
    分析雜散光所需的設定 5(>m=ef"  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 ]M{SM`Ya  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 '#t"^E2$  
    O7j$bxk/^  
    #e&j]Q$Eh  
    TEB%y9  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 AEK* w4  
    g=pz&cz;>\  
    G5zZf ~r  
    OM]p"Jd  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 =(*Eh=Pw  
    IGql^,b  
    N!;Y;<Ro_  
    =b,$jCv<,5  
    初步追跡結果 | x{:GWq  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 i>T{s-3v  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 *P:`{ZV7=W  
    )aqu f<u@  
    \WouTn  
    j]J2,J  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 ix^:qw;  
    `(=)8>|e  
    0$ &Z_oJ  
    H` Q_gy5Z(  
    並且設定視窗如下圖。 xm~ff+(&@S  
    60~{sk~E  
    (W3R3>;  
    9|jIrS%/~  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 wias ]u|  
    Ym& _IOx  
    4,FkA_k  
    e@k ti@ZJ  
    使用Filter String ezwcOYMXK  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 [ $.oyjd  
    ~,R_  
    .IpwTke'  
    k4pvp5}%  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 ~u%9@}Oo>  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 BEPDyy  
    A &w)@DOe  
    :Iwe>;}  
    ~ ;)@a  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 8 gOK?>'9  
    bvEk.~tC'  
    kf>'AbN  
    jSVb5P  
    1ErH \!  
    F8b*Mt}p  
    給透鏡加上鍍膜 xkUsZ*X8B  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 /J{P8=x}_:  
    這裡我們在 1P8$z:|~  
    物件6的Face 2以及 }kL% l  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 9A B~*;U  
    ixiRFBUcF~  
    t47 f$gq  
    ]}>GUXe)^  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 v.r$]O  
    b^Rg_,s  
    s}|IRDpp  
    p4{?Rhb6  
    qcQ`WU{  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) XZp(Po:H  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? n{4&('NRFP  
    e;rs!I !Yw  
    BAoqO Xv  
    2Y  6/,W  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 ,vg8iR a  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 cY\-e?`=4  
    ?/dz!{JC  
    /8W}o/,s5  
    ~Gwn||g78  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 j nI)n*  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 %*}JDx#@  
    Fdc bmQ  
    Zpu>T2Tp  
    VJ_E]}H  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 Qt>yRt  
    f+<-Jc  
    2vj)3%:7#E  
    8{?Oi'-|0  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 %HYC-TF#  
    8(Z*Vz uu  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 P7u5Ykc*  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 /jj}.X7yH  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 LgUaX  
    +hXph  
    hCr7%`  
    [gv2fqpP  
    OkzfQ hC}  
    ;Kkn7&'F  
    進階路徑分析 {_(;&\5  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 ?`FI!3j  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 0JNG\ARC  
    :O//A6 v  
    W4>8  
    h+Dg"j<[  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 uE5kL{Fv  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 GueqpEd2  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 ]4z?sk@  
    ?c>j^}A/N  
    uv_*E`pN~  
    u1]5qtg"  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 Itz_;+I.Mp  
    +;cw<9%0  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 .4-;  
    y'4=  
    aNXu"US+Sp  
    =gfLl1wY[  
    vaK$j!%FE  
    QKOo # 7  
    hsfVKlw-  
    FirmzB Il5  
    9.%{M#j  
    c>DAR  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜