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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 $mM"C+dD  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: Wu$ryX  
    * 介紹雜散光 (]'wQ4iQ  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 8m iJQIq  
    * 設計鎖定工具 j? BL8E'   
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 ZNw|5u^N  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 ^\gb|LEnK  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 _ $>);qIP4  
    /(s |'"6  
    文章發布時間:April 23, 2017 PM84Z@Y  
    文章作者:Michael Cheng *bFWNJ}`q  
    c.]QIIdK  
    簡介 O6y:e #0z  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: :.g/=Q(T~  
    7/<~s]D[%  
    GW>F:<p  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: 75Z|meG~  
    kQ\ $0=6N9  
    cN&Ebn  
    a.%ps:  
    開啟範例檔 _WWC8?6 U  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx SzpUCr"  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 zS;ruK%2  
    O.Pp*sQ^  
    RM_%u=jC  
    >WLX5i&  
    設計鎖定工具 Xf&YcHo  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 g$GGo[_0  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: 2Ty]s~  
    * 開啟 Ray Aiming ]}/Rl}_  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size 'hr_g* i  
    * 改為 Angle 或 Object Height u|IS7>Sm  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture D@uVb4uK  
    * 移除漸暈係數 ^O7sQ7V"f=  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 OlyW/hd  
    aWTurnee^  
    'm*W<  
    *RS/`a;,  
    產生關鍵光線組 e+BZoK ^  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: } F{s\qUt  
    ?=Ceo#Er  
    afX|R  
    >C_G~R  
    轉換到非序列 ^9,^ BHlC0  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 P,] ./m\J  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 CJN~p]\  
    o A2oX  
    }6a}8EyFP  
    ] hK}ASC  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 0 ^>,  
    Ld.9.d]  
    ZbT$f^o}M]  
    Vc5>I_   
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: 6ZE`'pk<  
    Ci-Ze j  
    tUH?N/qn  
    )lLeL#]FLO  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: :8O T  
    }h Wv  p  
    grE(8M  
    OcV,pJ  
    檢查關鍵光線組的狀況 $$ *tK8#  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 2Pm}wD^`  
    `oNJ=,p  
    e bp t/q[  
    G 3U[)("  
    分析雜散光所需的設定 \;MP|:{pU  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 dz+!yE\f$  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 PY_8*~Z  
    }kQ{T:q4  
    RN 4?]8  
    bDl#806PL  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 \k=dqWBr7  
    j"6|$Ze8  
    55s5(]`d  
    :AlvWf$d  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 m2^vH+wD  
    ORrZu$n`p  
    'i$. _Tx  
    roc DO8f  
    初步追跡結果 hO[_ _j8  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 z4_B/Q  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 Ojz'p5d`>  
    <o|fH~?X  
    '6vo#D9M  
    `w#VYs|k  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 b||usv[or  
    3}s]F/e  
    PP$2s]{  
    )B $Q  
    並且設定視窗如下圖。 qvu1u GCc  
    ?&9=f\/P  
    G7Ck P  
    tf7HhOCYX  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 mW!n%f  
    k^|z.$+  
    !HU$V9C  
    Htr]_<@  
    使用Filter String {.kIC@^O  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 [err$  
    gmH`XKi\  
    v@Eb[7Kq/1  
    'z,kxra|n  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 %dnpO|L  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 ]QR]#[Tn'  
    `},:dDHI  
    {1Cnrjw  
    *~ IHVU  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 VD&wO'U  
    )/DN>rU  
    )t+pwh!8  
    8D`+3  
    Wjq9f;  
    J \|~k2~  
    給透鏡加上鍍膜 p5E okh  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 ($`IHKF1.l  
    這裡我們在 lHM} E$5  
    物件6的Face 2以及 QyL]-zNg  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 7.VP7;jys  
    ][l5S*CC_  
    W=A0+t%XC  
    Q8Ek}O\MC  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 r3?8nQ$  
    jt}oq%Bf  
    ]\K?%z  
    tH;9"z# ~  
    5P<1I7d  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) MF.!D;s  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? 9~j"6wS  
    A4(L47^  
    Ht+roY  
    <-N eusx%  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 }2S!;swg+  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 -"ZNkC =  
    uY)4y0  
    cHr]{@7Cs  
    "JmbYb#Z  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 "k + :!D  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 >CKa?N;  
    h(nE)j  
    @=w)a  
    *IbDA  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 qU6!vgM&  
    Mz$qe  
    gYbvCs8O!  
    ,B;mG]_  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 ?z M   
    }` `oojz  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 GB `n  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 BeRs;^r+  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 8bMw.u=F  
    {=I,+[(  
    "K>!+<  
    l]DRJ  
    o/ \o -kC}  
    ?xKiN5q"6  
    進階路徑分析 H h](n<Bs  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 3@eI? (N  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 g-#eMQ%J  
    *tZ3?X[b  
    n3J,`1*ct  
    ;w%g*S  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 !#]kzS0  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 YVRE 9  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 :/? Op  
    "e\73?P  
    .w\4Th#  
    y'f-4E<  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 AS0(NlV  
    u (r T2  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 2mj>,kS?c  
    UBM8l  
    ' )F@em  
    -{eiV0<^  
    +A,cdi9z  
    0_y&9Te  
    J=^5GfM)J  
    3s:)CXO  
    `,GFiTPd  
    v/KTEM  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜