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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 @ lB{!j&q  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: WN]k+0#  
    * 介紹雜散光 ?)9L($VVD  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 xoVd[c!   
    * 設計鎖定工具 1gK|n  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 G@P;#l`(D  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 y A5h^I  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 & %/p; ::A  
    g;Ugr8  
    文章發布時間:April 23, 2017 QPm[4Fd{G  
    文章作者:Michael Cheng I'xc$f_+  
    [pU(z'caS  
    簡介 FWu:5fBZY  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: ;?u cC@  
    $6m@gW]N  
    6wpW!SWD  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: )q{qWobS0  
    8(`e\)%l0  
    >r`O@`^U  
    ]#NfH-T  
    開啟範例檔 UXji$|ET6  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx 6"iNh)  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 C9+rrc@4  
    +788aK,{#  
    YC;@^  
    u>;aQtK~  
    設計鎖定工具 q25p3  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 ,q%X`F rc  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: ;40Z/#FI  
    * 開啟 Ray Aiming r.)n>  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size d"5_x]Z;  
    * 改為 Angle 或 Object Height Q>Ct]JW&  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture dWzf C@]  
    * 移除漸暈係數 XR",.3LD  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 X.{xH D&_  
    sDs.da#*2  
    ajkV"~w',|  
    O-[YU%K3?  
    產生關鍵光線組 z~f;}`0  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: I]n X6=j5  
    n',7=~  
    : F3UJ[V  
    bq5ySy{8  
    轉換到非序列 Q1Qw45$  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 Q}Ah{H0C  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 B Hp>(7,  
    a1_ N~4r`  
    _3W .:  
    N @_y<7#C  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 =W2.Nc  
    Zbl*U(KU?  
    8\E=p+C  
    !^Ay !  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: )J]NBE:8  
    c|:EMYS  
    /Q W^v;^  
    Vel(+HS  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: V}vL[=QFZ(  
    xBc$qjV  
    [ -Z 6QzT  
    ug{sQyLN  
    檢查關鍵光線組的狀況 [Cd#<Te3  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束。 m!zv t  
    wY8Vc"  
    Q,9KLi3  
    Uf_mwEE  
    分析雜散光所需的設定 C% z9Q  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 z1tD2jL_  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 ~BTm6*'h  
    <NDV 5P  
    \8*j"@ !H  
    [ s/j?/9  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 OWfB8*4@  
    sMAH;'`!Eu  
    x!85P\sm  
    f dJg7r*  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 P{s1NorKDh  
    (j:[<U  
    4]zn,g?&  
    B4*,]lS?  
    初步追跡結果 .@r{Tq,%q8  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 QHXpX9  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 e7iQG@i7  
    ;E{@)X..|  
    F*z>B >{)  
    X`Lv}6}xT  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 L#D)[v"  
    Ac*)z#H  
    q 7W7sw  
    \p\p~FVS  
    並且設定視窗如下圖。 @w%kOX  
    }#g &l*P  
    kVeY} 8  
    "a _S7K  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 d hg($m  
    Ir` l*:j$  
    B}y#AVSA  
    }!*|VdL0  
    使用Filter String m-[xrVV  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 nJgN2Z  
    va(6?"9  
    \/wk!mWV@  
    M_?B*QZJI  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 3<Z@!ft8  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 ndB qXS  
    , P1m#  
    _=[pW2p  
    lS2 `#l>  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 =L"I[  
    FAGi`X<L  
    8;UkZN"hy5  
    Jn&u u  
    5M>SrZH  
    2*-qEUl1  
    給透鏡加上鍍膜 ,ueA'GZ  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 ]]u_Mdk  
    這裡我們在 ,F'y:px  
    物件6的Face 2以及 *= %`f=  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 # 5{lOeN  
    ldKLTO*&  
    ]3U|K .G  
    =xH>,-8}  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 Y}\3PaUa  
    +miL naO~L  
    dDYor-g>  
    1JGww]JZo  
    i&}LuF8  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) I=E\=UTG,5  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? b3=XWzK5  
    U|+`Eth8(  
    C0>)WVCK  
    Hc0V4NHCaL  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 +b dnTV6  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 =lh&oPc1  
    }V+&o\4  
    xLbF9ASim  
    AUU(fy#<  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 T< <N U"n  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 &9n=!S'Md  
    "W}+~Sn  
    X*r?@uK5  
    b Olb  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 fb!>@@9Z  
    0w$1Yx~C  
    *u34~v16,  
    ^X*l&R_=R  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 i?F~]8  
    m`,h nDp  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 xAf?E%_pi  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 B/EGaYH  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 0te[i*G  
    \D! I"mr  
    1Dm$:),^T}  
    I"jub kI=Z  
    Wc/B_F?2  
    I\6^]pi,  
    進階路徑分析 ;uU 8$  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 38RyUHL=  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 QJH~YV\%  
    gn${@y?  
    74~ %4  
    ]u >~:  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 k'd=|U;(FV  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 4Cf.%f9@  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。  [ "Jt2  
    5lm>~J!/^  
    0~nub  
    UZW)%  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 X gA( D  
    :AC(  \  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 yKOC1( ~  
    ;[j)g,7{  
    O ;B[ZMV  
    &o)eRcwH`  
    Y X{F$BM  
    xR5zm %\  
    V)Y#m/$`  
    K!SFS   
    H*EN199  
    8<X; 8R  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜