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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 j:}DBk  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: {0;3W7  
    * 介紹雜散光 &z]K\-xp  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 =7m}yDs6$  
    * 設計鎖定工具 xS7$%w['  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 /sr2mt-Q  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 DhX#E&  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 @q"m5  
    WWL4`s  
    文章發布時間:April 23, 2017 fZxIY,  
    文章作者:Michael Cheng iA0q_( \X  
    ,R$u?c0>'&  
    簡介 RN)dS>$  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: 7T"XPV|W6  
    / }Rz=&  
    Cn>ADWpT&  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: $5v0m#[^  
    ]c&<zeX,  
    d/}SAvtt  
    u7xDau(c  
    開啟範例檔 <BSc* 9Q  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx "+zCS|   
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 A>[|g`;t  
    w=|GJ 0  
    wHIj<"2  
    k"g._|G  
    設計鎖定工具 l~D N1z6`  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 mKT>,M  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: LGc&o]k  
    * 開啟 Ray Aiming nuoPg3Nl  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size H33i*][H  
    * 改為 Angle 或 Object Height L{E^?iX  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture kNT}dv]<  
    * 移除漸暈係數 Kf 2jD4z}  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 `]LSbS  
    XX1Il;1G#  
    peJKNX.!q  
    XyMG.r-,  
    產生關鍵光線組 ^m/14MN|  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: 7 Sa1;%R  
    `xiCm':  
    6{ ,HiY  
    A~Xq,BxCV  
    轉換到非序列 EZ.!rh~+  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 c8Q]!p+Yp  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 T6pLoaKu  
    `z0{S!  
    #q3l!3\mW  
    `:O\dN>ON  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 eZr&x~] -w  
    4t/&.  
    }tPk@$  
    '!P"xBVAu  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: &TG5rUUg  
    pG^}Xf2a  
    cECi')  
    n,~;x@=5  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: ^uS/r#l  
    w[_x(Ojq;  
    PY3ps2^K.  
    NZN-^ >  
    檢查關鍵光線組的狀況 0t#g }  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束。 F?m?UQS'u  
    5efxEt>U  
    \V2,pi8'v  
    &x-TW,#Ks  
    分析雜散光所需的設定 +%N KQ'49I  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 Pv<FLo%u<  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 o{*ay$vA]  
    *2}O-e  
    =2y8 CgLj  
    pium$4l2#  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 x'Pi5NRE  
    kCUT ^  
    19(Dj&x  
    u@p?  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 hNXBVIL<&  
    e75UMWaeC  
    0aR,H[r[?  
    PN$ .X"D8  
    初步追跡結果 7%OKH<i\2<  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 *QM~O'WhD  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 [oc~iDx%W  
    4R>zPEo  
    Je4Z(kj 0  
    gM>=%/.  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 5&CDHc7Oj  
    {dPgf  
    Io2mWvu?5  
    oKFT? "[X  
    並且設定視窗如下圖。 +VEU:1Gt  
    ">dq0gD  
    ,J mbqOV?!  
    #$\fh;!W  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 r^HA aGpC  
    :9l51oE7  
    "`A:(<x  
    ;]CVb`d  
    使用Filter String Oajv^H,Em  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 0;~yZ?6_F  
    +TN9ujL6@  
    ^T4Ay=~{  
    &[?CTZ  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 (#(O r  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 TrE3S'EU#R  
    _-cK{  
    AyE\fY5  
    c\cZ]RZ  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 v4*rPGv  
    lm'Zy"~::  
    ED![^=  
    \tJFAc  
    6R}j-1 <n  
    yno('1B@  
    給透鏡加上鍍膜 <o:@dS  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 9w;?-  
    這裡我們在 T bE:||r?^  
    物件6的Face 2以及 (7$$;  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 H!IDV }dn  
    d<o.o?Vc  
    ^E>CGGS4  
    d-!<C7O}  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 ^!: "Q3  
    _; ]e@  
    +6W(z3($  
    Ruh)^g  
    WXUkuO  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) `U`#I,Ln[  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? 0=U70nKr  
    8KjRCm,I  
    eS!C3xC;J]  
    SHdL /1~t  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 "HQF.#\#  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 HD# r0)  
    }VRv sZ  
    v"1Po_`  
    E[Bo4?s&^  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 -$4kBYC l+  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 4L:>4X[T  
    <O857 j  
    c{88m/;eP  
    P2k7M(I_&  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 -Wo15O"  
    ,-#GX{!  
    M'jXve(=yF  
    K}x/ BhE+  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 BnEdv8\,&s  
    9Vh_[^bR  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 ( )|3  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 6M><(1fT  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 Rl@$xP  
    SPwPCI1?  
    }C~]=Z  
    eK_*q -  
    8 $ ~3ra  
    .H;B=nd*  
    進階路徑分析 <f%/px%1  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 J|j;g!fK  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 .9 kyrlm  
    xh'^c^1  
    |cTpw1%I~  
    __)qw#  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 z\Ui8jo:;  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 cf*zejbw  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 dB)9K)  
    84`rbL!M  
    ^5)_wUf  
    x;U|3{I o  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 jH0Bo;  
    fv==Gu%{  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 ~%P3Pp  
    zD_H yGf  
    BI/y<6#rR  
    T&/_e   
    ZLJNw0!=|t  
    nEVbfNo0  
    3j&B(aLy  
    jsWX 6(=  
    pTET%)3  
    )>$^wT  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜