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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 mI2Gs) SO  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: r6j[C"@  
    * 介紹雜散光 s?<FS@k  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 %g*nd#wG  
    * 設計鎖定工具 JKKp5~_~  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 2?(/$F9X,  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 do`'K3a"  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 8y<mHJ[B  
    UXZ3~/L5 O  
    文章發布時間:April 23, 2017 YBY;$&9  
    文章作者:Michael Cheng 0ytAn+/"x  
    N+V#=U y  
    簡介 +4J'> dr  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: DN9x<%/-  
    d% @0xsU1  
    6rS ? FG=  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: W}F~vx.  
     [6@bsXiw  
    eDo4>k"5  
    *K>2B99TXu  
    開啟範例檔 +%CXc%  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx !B[ Y?b:  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 :~s"]*y  
    j %MY6"  
    VK9E{~0=  
    uP7|#>1%  
    設計鎖定工具 r:xg#&"*  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 gISA13  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: H/f}t w  
    * 開啟 Ray Aiming 8<Nz34Y  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size C&q}&=3r  
    * 改為 Angle 或 Object Height M|y!,/'  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture w8>lWgN  
    * 移除漸暈係數 ;[zZI~wh  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 @#"K6  
    2+|r*2_glo  
    ?,v@H$)3_  
    J bima>  
    產生關鍵光線組 >$<Q:o}^  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: sS)tSt{C  
    T5@t_D>8  
    vr>J$(F  
    3F6'3NvVc2  
    轉換到非序列 Q2|6WE  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 Q#*qPg s  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 ,0L< wa  
    .>`7d=KT  
    O[ans_8  
    uxrNkZia  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 T~>&m~} +  
    acpc[ ^'  
    B_r:daCS:  
    ^[HX#JJ~  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: _qit$#wK;  
    X7aj/:fXe  
    Yk4ah$}%-^  
    RXPl~]k#i  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: rI:]''PR  
    ']Km%uwL  
    yC }x6xG  
    =F*{O=  
    檢查關鍵光線組的狀況 ZDr TPnA[  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 i;)r|L `V?  
    Qe<c@i"  
    7 dG_E]&  
    BD ,3JDqT  
    分析雜散光所需的設定 P.|g4EdND  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 %D^j7`Z  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 ht)KS9Xu  
    ]o8~b-  
    87V XVI  
    <>1*1%m  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 !hPe*pPVV)  
    g.EKdvY"%H  
    T/7[hj  
    [h :FJ  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 l5k]voG  
    !P)7t`X  
    TLzcQ|  
    cW $~86u"C  
    初步追跡結果 PI" )^`  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 wa9{Q}wSa  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 #`Et{6W S  
    |z%*}DPrpa  
    *r3u=oWb  
    |Oaj Jux  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 "2/VDB4!FG  
    _nnl+S>K  
    dv \ oVD  
    4VL]v9  
    並且設定視窗如下圖。 )6zwprH!  
    ~Urj:l  
    jZY9Lx8o  
    z//6yr  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 -1u N Z{0  
    ? Kn~fs8  
    i`:r2kU:*W  
    cE= v566  
    使用Filter String K31rt-IIt  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 .!t' &eV  
    #P6;-d@a  
    8:A6Ew&\]O  
    Wm ?RB0  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 ]HP  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 aI8K*D )@  
    c~Hq.K$d  
    Hv>Hz*s_I  
    5k}UXRB?  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 }%rz"kB  
    71w$i 4  
    R=M${u<t  
    !$+J7\& 7p  
    N|1k6g=0  
    N1!|nS3w  
    給透鏡加上鍍膜 uEuK1f`  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 *%cI,}%   
    這裡我們在 ji2if.t@  
    物件6的Face 2以及 [XQoag;!  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 ;z7iUke0%  
    B|~\m ~  
    AuU:613]W8  
    gGdZ}9  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 uoKC+8GA  
    P>kS$U)  
    #,qikKjt2  
    Oox5${#^  
    d=wzN3 ;-  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) g;bkV q  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? X;p,Wq#D'  
    =RUKN38  
    i@_|18F]`  
    g!%csf  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 Ph.$]yQCc]  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 PxK  
    GYv2 ^IB:  
    U1rh[A>  
    gy<pN?Mw  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 c-avX  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 $X-,6*  
    G#CWl),=  
    W?/7PVGv5h  
    ]]%CO$`T [  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 |)IN20  
    )r1Z}X(#d  
    ^ tm,gh  
    4k$BqM1  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 Tj*zlb4  
    } ho8d+A  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 OH*[  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 TiF$',WMv  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 "v~w#\pz7  
    T0RgCU IV  
    ;Z.}~d6>!  
    x%x:gkq  
    *Xl&N- 04  
    .6OE8w 1  
    進階路徑分析 o*I-~k  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 [?Aq#av  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 P RX:*0  
    xb_35'$M  
    6z=:x+m  
    I%*o7"  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 l= !KZaH  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 w},k~5U^s  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 UwdcU^xt9  
    rmR7^Ycv/  
    $o1G xz  
    r"U$udwjg  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 Fv5@-&y$W  
    |yN7#O-D  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 2lHJ&fck<  
    N9:xtrJ]_J  
    tq>QZEg  
    }L@!TWR-Qu  
    -jFt4Q7}8  
    #xE" ];  
    [al$7R&  
    b^5rV5d  
    bv$)^  
    =}U`q3k  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜