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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 ?32gug\i'}  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: t%$>  
    * 介紹雜散光 )_eEM1  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 diF-`~  
    * 設計鎖定工具 bhqBFiuhH  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 88]V6Rm9[*  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 AM4lAq_  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 \a+.~_iL|  
    SW!lSIk  
    文章發布時間:April 23, 2017 4NaL#3  
    文章作者:Michael Cheng #1-,s.)  
    Ib(q9!L  
    簡介 /a}F ;^  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: KTr7z^  
    i^9,.$<1  
    !7C[\No(  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: ]W^F!p~eC  
    m5c?A+@fZ  
    J!40` 8i  
    5G!0Yy['  
    開啟範例檔 iI|mFc|V  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx fhGI  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 kjVUG >e>  
    EDQKbTaPt  
    dux.Z9X?  
    km@V|"ac _  
    設計鎖定工具 or~2r8  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 h0m+u}oP_H  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: P%VEJ5,]b  
    * 開啟 Ray Aiming q~esxp  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size  .dA_}  
    * 改為 Angle 或 Object Height F|+Qi BO  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture zSy^vM;6zf  
    * 移除漸暈係數 GRM:o)4;#  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 +ZFw3KEkz  
    _{Q)5ooP  
    :G3PdQb^  
    t1Ty.F)r  
    產生關鍵光線組 ~s3X&!#   
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: hkS0ae  
    uX82q.u_y  
    Yatd$`,hW  
    in-|",O`Z  
    轉換到非序列 lZ5LHUzP  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 %r E:5)  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 _C`&(?}  
    ;Gc,-BDFw  
    #`Af  
    J,iS<lV_  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 ltQo_k  
    S vTd#>ke  
    F9ytU>zh  
    m*bTELb  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: |ry![\  
    55Pe&V1=  
    t QR qQ  
    ` nd/N#  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: Q$Q>pV;uH  
    6 zyxGJ(  
    .rPg  
    ~F [V  
    檢查關鍵光線組的狀況 xDqJsp=]-  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 ;$nCQ/ /  
    NUO#[7OK+x  
    o#Gf7.E8  
    \wZ 4enm  
    分析雜散光所需的設定 \wjT|z1+Y  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 :)9CG!2y<M  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 SEKR`2Zz,  
    7sX#6`t  
    $^TxLv  
    5q^5DH_;  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 3VZ}5  
    Oj=g;iY  
    t.rlC5 k  
    2v$\mL  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 QLm#7ms*y  
    fw&cv9X(IU  
    2y"L&3W  
    \sn wR  
    初步追跡結果 7|@FN7]5NF  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 po! [Nd&"  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 QBYY1)6S,  
    `w8Ejm?n  
    w,T-vf  
    c)j60y   
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 9^?2{aP%  
    %!\iII  
    : uxJGx  
    ).32Im!;#R  
    並且設定視窗如下圖。 h wi!C}  
    r1&eA%eh  
    6ys|'<?  
    lyS`X  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 1rIL[(r4  
    gJ H^f3  
    HIq e~Vc  
    -5b#w"^w^  
    使用Filter String Eo`'6 3  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 rDWwu '  
    &s8vmUt  
    03n+kh  
    g8R@ol0  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 #e[S+a  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 ?!.L#]23f  
    );/p[Fd2]  
    782 oXyD  
    Z5V_?bm$  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 B un^EJ)  
    Bdcs}Ga  
    \;+TZ1i_  
    yR% l[/ X  
    |fB/hs \  
    b{CS1P  
    給透鏡加上鍍膜 lMmP]{.>$  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 q%/\  
    這裡我們在 % kaV ?j  
    物件6的Face 2以及 ,`8:@<e  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 uO((Mg  
    ?X+PNw|pf  
    @8Cja.H  
    pwv mb\  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 G '%ZPh89  
    X"V)oC  
    J^=Xy(3e  
    @d n& M9Z  
    :(K JLa]  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) w!b;.l  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? B2:GGZ|jS  
    SAU` u]E  
    dn&4 84  
    k/M{2Po+  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 kZ0z]Y  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 JkEITuTth  
    DFb hy  
    l15Z8hYh j  
    Q yhu=_&  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 Rw<O%i5/d  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 xS;tmc  
    y~z&8XrH  
     O[$XgPM  
    ltv ~Kh  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 )=!|^M  
    {*"\6 8e  
    e35")z~  
    L/)eNZ  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 E;YD5^B  
    P=a&>i  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 L=5Y^f'aU  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 &{bNa:@  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 4j(*%da  
    D|2lBU  
    I/zI\PP,  
    s6DPb_,  
    x=N0H  
    EvT"+;9/p  
    進階路徑分析 L+lX$k  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 QS@eqN  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 0S\HO<~k  
    PB #EU 9  
    \SBAk h  
    qykI[4  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 QrLXAK\5  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 zpy&\#Vc  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 eI@G B  
    WHr:M/qD  
    E?jb?  
    Gw#z:gX2  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 S-79uo  
    Yez  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 &-KQ m20n  
    K,!f7KKo  
    =kw6<!R  
    ,w,)n^  
    \,G19o}`Es  
    Pu}PE-b  
    }7i}dyQv}  
    ^AT#A<{1(  
    @9g!5dcT  
    lgC^32y  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
    离线hit2011
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜