本书作者是国际
镀膜界的权威专家。本书
系统论述了
薄膜光学滤波器的基本理论及相关技术,既介绍了最新成果,又提供了大量详实的图表及数据;既有系统的理论分析、数据计算结果,又有实用器件的结构
参数。内容具体包括增透膜、中性平面镜和分束镜、复合高反射率涂层、边缘滤波器、带通滤波器、斜涂层、光学涂层的颜色、膜的均匀度和厚度监测、滤波器的规格和环境影响、系统考虑、滤波器和涂层的应用等。
lf[( 6(<M.U_ft X;6&:%ZL@^ 出版社: 科学出版社; 第1版 (2016年3月1日)
{SCwi;m 外文书名: Thin-Film Optical Filters(Fourth Edition)
){L`hQ*=w 丛书名: 国外信息科学与技术优秀图书系列
8&3+=<U 平装: 561页
:
R.,<DQM 语种: 简体中文
f:=q=i 开本: 16
|!flR? OU ISBN: 9787030473929, 7030473922
rR^VW^|f 条形码: 9787030473929
"a>%tsl$K 商品尺寸: 25.6 x 18.6 x 2.8 cm
gMFTZQsP 商品重量: 1 Kg
m:ITyQ+ 品牌: 科学出版社
rnEWTk7& ASIN: B01DKW70FW
OAc+LdT "72
_Sw
pV:X_M6 .2Y"=|NdA 目录
ZYc)_Og 序
,.x1+9X 译者序
!sK{:6s 中译本序
zl4Iq+5~6Q 第四版前言
Ub4j3` 符号和缩写
!pQQkZol 第1章引言
Q<w rO 1.1早期的历史
GyRU/0'BME 1.2光学薄膜
+*lSB%`aS 参考文献
SI4M<'fK 第2章基本理论
)LKutN?tBy 2.1麦克斯韦方程和平面电磁波
m7~kRY514 2.1.1坡印亭矢量
pR; AqDQ 2.2简单边界
JY4 +MApN 2.2.1垂直入射
5 ,q uM" 2.2.2倾斜入射
qIuY2b`6 2.2.3倾斜入射的光学导纳
Kw"7M~ 2.2.4吸收介质中的垂直入射
`>g:
: 2.25吸收介质中的倾斜入射
8! pfy" 2.3单层薄膜的反射率
|r%6;8A]i 2.4多层膜系的反射率
!n@Yg2 w 2.5反射率、透射率和吸收率
|J?KHI 2.6单位
vRVQ:fw 2.7重要结果总结
O{%yO=`r 2.8可能透射率
Rm&i" 2.9膜系透射率定理
? R#-gvX% 2.10相干性
,4)zn6tC 2.11两个或多个表面的非相干反射
|9@?8\ 参考文献
<;=?~QK%- 第3章光学薄膜计算与设计的一些方法
ZdY:I;)s 3.1λ/4和λ/2光学厚度
}BzV<8F 3.2导纳轨迹
>
CZ|Vx 3.3导纳图中的电场和损耗
rMdOE&5G 3.4矢量法
6L}$R`s5H 3.5赫平折射率
Dc}-wnga 3.6膜系计算的迭代方法
^R!
qxSj 3.7多层膜设计的史密斯方法
9V9K3xWn 3.8史密斯圆图
'[I?G6 3.9反射率圆图
@9~6+BZOq 参考文献
;mjk`6p 第4章减反射膜
qa.nm4"6+ 4.1高折射率基底上的减反射膜
+j%!RS$ko 4.1.1单层减反射膜
4`7N}$j#, 4.1.2双层减反射膜
<V5(5gx 4.1.3多层膜
u$X[= 4.2低折射率基底上的减反射膜
+>M^p2l*& 4.2.1单层减反射膜
[?Cv^t${+ 4.2.2双层减反射膜
%7xx"$P:R 4.2.3多层减反射膜
2ed$5.D 4.3等效膜层
AD_")_B|i 4.4具有两个零点的减反射膜
nxS|] 4.5可见光及红外区的减反射膜
N>/!e787OU 4.6非均匀层
I~-W4{ 4.7更多信息
@4#q 参考文献
f(6`5/C 第5章中性反射镜和分光镜
_)"-zbh}{ 5.1高反射薄膜
bqWo*>l 51.1金属膜反射镜
!D!~4h) 5.1.2金属膜的保护
;}@.E@s%' 5.1.3总系统性能与增加金属膜反射率
F>dB@V- 5.1.4紫外反射膜
idPx!
fe 5.2中性分光镜
M ~zA 5.2.1金属膜分光镜
V|gW%Z,j 5.2.2介质膜分光镜
ZX'q-JUv f 5.3中性滤光片
%M]%[4eC 参考文献
%JF^@\E!| 第6章多层高反射膜
4>-'w MW") 6.1法布里—珀罗干涉仪
:PE{2* 6.2多层介质膜
'y[74?1 6.2.1宽高反射区的多层全介质膜
#>iBu:\J 6.22薄膜均匀性的要求
@.0>gmY;: 6.3损耗
_kg<KD=P 参考文献
zo6|1xq 第7章截止滤光片
* ?x$q/a 7.1薄膜型吸收滤光片
S81%iz.n 7.2干涉截止滤光片
:tBIo7 7.2.1λ/4多层膜
Q3[MzIk 4 7.2.2对称多层膜和赫平折射率
n=J~Rssp 7.2.3性能计算
VHyH't_&s 参考文献
\@&oK2f 第8章带通滤光片
/Jj7+? 8.1宽带滤光片
%A64AJZ 8.2窄带滤光片
<:/Lap#D^ 8.21金属—介质单腔滤光片
Ne#FBRu5 8.2.2全介质单腔滤光片
M(8dKj1+ 8.2.3固体标准具滤光片
h;cl+c|B 8.2.4入射角变化的影响
Q]$gw,H"6 8.2.5边带阻隔
xY4g2Q
J 8.3多腔滤光片
IJa6W`} 8.3.1Thelen分析法
fIe';a 8.4多腔滤光片更高的性能
`yF6-F 8.4.1倾斜的影响
[$M=+YRHMW 8.4.2多腔滤光片的损耗
(KxI* 8.4.3补充
材料 PkX4 ! 8.5相位色散滤光片
;E:vsVK 8.6多腔金属—介质滤光片
VaP9&tWXj 8.6.1诱导透射滤光片
+q n[F70} 8.6.2滤光片设计实例
!iv6k~.e'2 8.7滤光片的实测性能
xB-\yWDZe
参考文献
"o_s=^U 第9章倾斜入射薄膜
K|L&mL&8 9.1修正导纳和倾斜导纳图
PWci D '! 9.2导纳图的应用
qlSI| @CO 9.3偏振器
B|d-3\sn 9.3.1布儒斯特角偏振分束器
,5V w^@F 9.3.2偏振片
*.%z 933偏振分光棱镜
]gjQy.c| 9.4无偏振薄膜
@};
vl 9.4.1中等入射角的截止滤光片
W4Z8U0co 9.4.2大入射角时的反射膜
TrCut2 9.4.3大入射角时的截止滤光片
Fi+8| /5 9.5减反射膜
.`p,pt; 9.5.1仅p偏振的情形
E' -lpE 9.5.2仅s偏振的情形
T<?
(KW 9.5.3s偏振和p偏振同时存在的情形
FEY_(70 9.6相位延迟器
B(|*u 9.6.1椭圆偏光参数和相对相位延迟
>0F)^W? 9.6.2多个表面镀膜的椭圆偏光参数和相对相位延迟
CP0;<}k 9.6.3相位延迟器
/U$5'BoS 9.6.4简单的相位延迟器
hgg8r#4q 9.6.5单
波长多层膜相位延迟器
i%@blz:_Y 9.6.6多波长多层膜相位延迟器
gn//]|#H+ 9.7光学隧穿滤光片
5Ve`j,`=< 参考文献
4Jn+Ot.,d 第10章光学薄膜色度学
,V^2Oa 10.1颜色的定义
ygK@\JHn 10.21964补充标准色度观察者
"DO|B=EejP 10.3同色异谱
>\br8=R 10.4其他颜色空间
QM('bbN 10.5色调和色度
dNu?O>= 10.6亮度和最佳刺激
X9
N4 10.7彩色条纹
^>Vl@cW0uz 参考文献
7D(Eo{ue 第11章镀膜工艺及薄膜材料
VLPPEV-u 11.1薄膜的镀制
C5Vlqc; 11.1.1热蒸发
!zVjbYWY 11.1.2高能沉积过程
'XJqh|G 11.1.3其他沉积过程
0Q7|2{ 11.1.4烘烤
jn
+*G<NJ 11.2光学性质的测量
*I:a\o~$[ 11.3机械特性的测量
lvAKL>qX 11.4毒性
_u3%16,o 11.5常见材料的特性
"D,}| 参考文献
e0<Wed 第12章影响薄膜性能的因素
q2b>Z6!5 12.1微观结构和薄膜的性能
%i6/=
'u 12.2对污染物的敏感度
bMq)[8,N 参考文献
j/t)=c 第13章膜厚均匀性与厚度监控
Tnv,$KOhs 13.1均匀性
S5BS![-QK 13.1.1平面夹具
dQn,0 13.1.2球面夹具
s6F0&L;N& 13.1.3旋转基底
~9y/MR 13.1.4掩膜的用途
HTLS$o;Q 13.2基底准备
*Sg6VGP 13.3膜层厚度监控和控制
/HH_Zi0?N| 13.3.1光学监控技术
l(Ya,/4 13.3.2石英晶体监控
7@R^B =pb 13.33通过沉积时间监控
?[]jJ 13.4厚度容差
h,\5C/ 参考文献
,. zHG 第14章滤光片规格与环境影响
\3&