OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪

发布:piaodongdewo 2014-07-16 10:10 阅读:1520
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功能 36co 'a4,  
tH0x|  
1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统  "9[2vdSX  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 cz/ E  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 ML|?H1m>  
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应用 }XUI1H]jk  
aKW-(5<JW  
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 a8)2I~j  
用于液晶显示和材料的测量系统 & .1-6  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 ]pB5cq7o  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 w3 vZ}1|  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 e%ro7~  
 LC单元 AfO.D ?4x  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 u!~kmIa4  
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 dKEy6C"@  
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 a,4GE'  
VA模式的LC单元 2K/t[.8  
预倾斜角 3σ:<0.01° 6`'g ${U  
单元间隔 3σ:<0.01μm F(/<ADx  
※精度与样品条件有关 <tZtt9j_  
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O IPS的旋转角 Jo[ &y,  
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Or$"f3gq  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 sF :pwI5^  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 I8@leT\9M  
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还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 C[TjcHoA  
V-T曲线,响应时间,图像残留等等 njJTEUd">  
 光学薄膜 lBG=jOS  
相位差膜,补偿膜 KRd'!bG=1  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。 89 m.,  
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。 $Sy}im\H  
偏振片,圆偏振片 dj] O  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 v;z8g^L  
 玻璃,配向层:低相位差材料 LdiNXyyzet  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 T,/<'cl"  
 超薄薄膜 rVOF  
超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。 mV"F<G; H  
 光学特性评价 @S~n^v,)  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。 ZBU<L+#  
利用仿真软件进行更高级的分析 Y@UW\d*'%I  
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 Y/m-EL  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 c"CR_  
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 l(3PxbT  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 B&KIM{j\  
利用脚本函数自动测量和优化 @$p6w  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 4\V/A+<W  
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。 {Eo Z }I  
输出结果可以用于下一个测量。 H%=;pD>o  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 Oel%l Y}m3  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。 "\~>[on  
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硬件选择 =*-a c  
 信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道) ZV5IZ&V!  
 精密空调控制单元:机器温度控制 }(na)B{m  
 加热阶段:加热目标样品 ^^uY)AL  
 高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量 l%i*.b(  
 自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。 ZX+0{E8a  
主要技术参数 Om7 '_}  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 I&1.}{G>F  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。 E.*wNah"U  
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讯技光电科技(上海)有限公司 F5UHkv"K&O  
www.infotek.com.cn JNvgUb'U  
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