OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪

发布:piaodongdewo 2014-07-16 10:10 阅读:1706
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B0$:b !  
功能 UrlM%Jnq1  
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1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 8*SDiZ  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 {%)s.5Pfw  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 e:E0"<  
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应用 *,C(\!b !?  
JTqDr  
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 7qOa ;^T  
用于液晶显示和材料的测量系统 #&<)! YY5  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 +h^jC9,m~{  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 vr#+0:|  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 e+v({^k  
 LC单元 q/3ziVd7p  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 a)Q!'$"'  
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 <99M@ cF  
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 j.~!dh$mg  
VA模式的LC单元 6K cD&S/  
预倾斜角 3σ:<0.01° AT2v!mNyCw  
单元间隔 3σ:<0.01μm 2Y}?P+:%>  
※精度与样品条件有关 1"8yLvtn  
mS>xGtD&K  
  
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O IPS的旋转角 AL/?,%F  
M7f;Pa  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 MUOa@O,  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 kdz=ltw  
NC&DFJo  
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还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 7\_o.(g#-  
V-T曲线,响应时间,图像残留等等 b[z]CP  
 光学薄膜 a`Gx=8  
相位差膜,补偿膜 ,F&g5'  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。 !8 &=y  
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。 [{4 MR%--  
偏振片,圆偏振片 gVeEdo`$<  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 :^UFiUzrE  
 玻璃,配向层:低相位差材料 y(R? ,wa=]  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 Va Z!.#(P  
 超薄薄膜 R1&unm0  
超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。 Y_`-9'&  
 光学特性评价 9a'-Y  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。 'mI'dG  
利用仿真软件进行更高级的分析 =b;>?dP  
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 !+u"3;%h  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 f3`7tA  
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 9nu3+.&P  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 'B+ ' (f  
利用脚本函数自动测量和优化 q&C""!h^  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 **69rN  
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。 .ROznCe}  
输出结果可以用于下一个测量。 >-&R47G  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 6c0>gUQx-  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。 "3FihE]k  
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硬件选择 EpQ8a[<-3  
 信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道) `y#UJYXQE  
 精密空调控制单元:机器温度控制 +r3IN){jz  
 加热阶段:加热目标样品 @p\}pY$T  
 高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量 o\vBOp?hj  
 自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。 8p[)MiC5W^  
主要技术参数 TLehdZ>^  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 CdL< *AH  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。 6'xsG?{JY  
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讯技光电科技(上海)有限公司  }-~l!  
www.infotek.com.cn ON+J>$[[  
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