OPTIPROTM系列：高精度反射型测量仪

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功能 ,f~)CXNT?  
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1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 bg2r  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 P N(<=v&E  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 &,QBJx<#  
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应用 RF [81/w]  
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LCD，光学薄膜，配向膜，玻璃，超薄膜等等 MKh}2B#S  
用于液晶显示和材料的测量系统 B A i ^t  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 GPrq(  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 =%S*h)}@  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 PKZMuEEy,  
 LC单元 l'1_Fb  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 xUPg~c0  
O 预倾斜，单元间隔和LC单元的旋转 ,V
y_%f  
LC单元参数的高精度测量，包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 n){u!z)Al  
VA模式的LC单元 )&[ol9+\  
预倾斜角 3σ：＜0.01° 2]5ux!Lqln  
单元间隔 3σ：＜0.01μm F!RP *  
※精度与样品条件有关 xf;Tk   
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O IPS的旋转角 $'w>doUlA  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 "d*-
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 L-|u=c-6  
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JD~]aoH  
C}71SlN'M  
还有，选项功能（Optional Function）、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 -yMD9b  
V-T曲线，响应时间，图像残留等等 ]x@36Ok)A  
 光学薄膜 yW;]J87*  
相位差膜，补偿膜 k^%F4d3z@C  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟（R0），光轴，Rth和折射率（nx，ny，nz）。 >L^2Z*  
当R0值相对于光轴和级次很大时（大于10000nm），很方便查找特殊值。 #&Zj6en}M]  
偏振片，圆偏振片 T9A
FL;1  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 W3xObt3w\  
 玻璃，配向层：低相位差材料 {qFAX<{D  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 +2m\Sv V  
 超薄薄膜 zrV~7$HL  
超薄薄膜功能支持测量厚度，折射率和椭偏参数。 (kJ"M4*<F'  
 光学特性评价 4Z/]7Ie  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项，包括透光率，反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节（400~700nm），方位角（0~70°），入射角（-180°~180°）。 =BBqK=W.d  
利用仿真软件进行更高级的分析 \; zix(N[5  
利用光学仿真软件“LCD Master”，OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 Gu%}B@4^  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 AE4>pzBe  
在仿真方面，丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据，在测量方面，通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 Zv
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OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据，因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 $kh6-y@  
利用脚本函数自动测量和优化 GTW
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脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 Bz6Zy)&sAL  
它可以设置波长，测量位置（X,Y），入射角和方位角。 H?j}!JzAC  
输出结果可以用于下一个测量。 AAK}t6  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 mg *kB:p  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的，所以你可以专注于研究和开发。 $,jynRk7q  
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硬件选择 vUgo)C#<  
 信号发生器：外加电压进行采样（最大两个通道） Cc` )P>L  
 精密空调控制单元：机器温度控制 xcN >L  
 加热阶段：加热目标样品 @W!cC#u  
 高精度透射/反射率：提升透射率和反射率测量 mTZgvPJ!  
 自动调节功能：在反射测量中，这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果，避免了人为误差。 z.*=3   
主要技术参数 yQ+C}8r5  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 )-d&XN7  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问，请与我们联系。 qjd8Q  
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讯技光电科技（上海）有限公司 VTxLBFK;  
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