OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪

发布:piaodongdewo 2014-07-16 10:10 阅读:1498
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LZ@^ A]U  
功能 4@VX%5uy  
tF;aB*  
1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 : Z.mM5  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 5<S1,u5  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 ES+&e/G"ds  
.3Ap+V8?  
应用 !cq4+0{O;&  
P_Z o}.{  
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 s}A]lY  
用于液晶显示和材料的测量系统 w(@`g/b  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 00Rk%QV  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 _%>.t  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 mH hm~u  
 LC单元 X(1.Hjh  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 Comu c  
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 0|U<T#t8?  
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 !l&lb]V cz  
VA模式的LC单元 44]ae~@a  
预倾斜角 3σ:<0.01° |)lo<}{  
单元间隔 3σ:<0.01μm :Rq D0>1  
※精度与样品条件有关 oNdO@i%.q4  
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O IPS的旋转角 1|%$ie  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 Xu T|vh  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 O=mJ8W@  
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还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 kn<[v;+  
V-T曲线,响应时间,图像残留等等 J|>P,x#G  
 光学薄膜 +yTL  
相位差膜,补偿膜 $pD^O!I)?  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。 fGxa~Unx  
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。 Di L@NU!$q  
偏振片,圆偏振片 &oR&NKk  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 =]"PSY7p  
 玻璃,配向层:低相位差材料 fL@[B{XMM  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 g,1\Gj%y  
 超薄薄膜 <;Xj4 J  
超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。 W[vak F  
 光学特性评价 ugL$W@   
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。 -}>Q0d)  
利用仿真软件进行更高级的分析 *s/F4?*  
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 c2y5[L7?  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 @Wv*`  
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 n. T [a  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 Io:xG6yG  
利用脚本函数自动测量和优化 }b{N[  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 7<) .luV  
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。 S5XFYQ  
输出结果可以用于下一个测量。 $DQMN  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 w,P2_xk`  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。 5zU D W?  
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硬件选择 4}0s^>R  
 信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道) tV T(!&(  
 精密空调控制单元:机器温度控制 /1^%32c  
 加热阶段:加热目标样品 +Oxl1fDf  
 高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量 A/o=a#  
 自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。 |+[ bKqI5  
主要技术参数 N#UyAm<9  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 &< ~`?-c  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。 8J>s|MZ  
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讯技光电科技(上海)有限公司 f-3lJ?6  
www.infotek.com.cn  ]@<O!fS  
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