Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         fnJ!~b*qo  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 L>X39R~  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 g+zfa.wQ  
特点： FJC}xEMcN  
高分辨率（400*300） NNTUl$  
消色差功能 (\A~SKEX  
测量可重复性高 J69B1Yi  
对振动不敏感 B.ar!*X  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 a(|,KWHn  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） %{j)w{ LJ  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

 cq,8^o&   型号	W>2m%q U   采样数	zjlo3=FQX[   感光尺寸（mm²）	7jtDhsVz   精度/动态范围	kfQi}D'a   光谱范围	d~za%2{   采样速率
w.9'TR   SID4	1^R:[L4R`   120×160	3w!,@= .q   3.6×4.8	]R7zvcu&   10nm RMS/100μm	n| [RXpAp3   350-1100nm	Hp1n*0%dZ&   60fps
n1;y"`gHk   SID4UV-HR	W:TF8Onw   250×250	KU5|~1t 4   8.0×8.0	l99{eD   10nm RMS/200μm	z&W5@6")`   190-400nm	mq!_/3   30fps
xZ.c@u6:   SID4 NIR	"U6:z M   120×160	r[votdFo   3.6×4.8	)gb gsQZ   15nm RMS/100μm	^a?H"   1500-1600nm	+:D90p$e   60fps
/ GDGE }   SID4-HR	cUPC8k.1   300×400	(;1Pgh   8.9×11.8	GT(nW|v   10nm RMS/500μm	8Ug`2xS<_   400-1100nm	7$HN5T\!   10fps
0*umf.R   SID4 DWIR	X GhV? tA   72×96	cPL] WI0(   10.08×13.44	@!MhVNS_<   75nm RMS	VfON{ 1g   3-5μm&8-14μm	du0]LiHV   50fps
v<SCh)[-p   SID4 BIO	A=a~ [vre   300×400	V/@?KC0B5   8.9×11.8	CTOrBl$70   500μm	\Tii S   350-1100nm	hJIF!eoI   10Hz