Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         +e+hIMur  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 o6,$;-?F_  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 r\Nf309~  
特点： t-*oVX3D  
高分辨率（400*300） Is&z~Xy/  
消色差功能 :SUPGaUJ"  
测量可重复性高 h$.y)v  
对振动不敏感 [ R1S+i  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 iD+Q\l;%  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） E,&BP$B  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

pt.0%3   型号	DP**pf%j   采样数	12BTZ   感光尺寸（mm²）	j3jf:7 /\   精度/动态范围	:=WiT_M   光谱范围	j_Pt8{[   采样速率
Se/VOzzg   SID4	3qU#Rg ;7   120×160	)X2=x^u*U   3.6×4.8	+U_> Bo   10nm RMS/100μm	>F+Mu-^   350-1100nm	fr kDf-P   60fps
LDqq'}qK6   SID4UV-HR	CKwrE]h   250×250	rM<|<6(L   8.0×8.0	]ZKmf}A)1P   10nm RMS/200μm	rZ5vey   190-400nm	o5?f]Uq5 ,   30fps
g]?&qF}   SID4 NIR	k?ubr)[)   120×160	UUi@ U   3.6×4.8	}z:g}".4   15nm RMS/100μm	7wS)'zR;   1500-1600nm	][3H6T!ckL   60fps
-3`S;Dmn   SID4-HR	K0$8t%Z.   300×400	/ 4{6`   8.9×11.8	V)#se"GV   10nm RMS/500μm	.O!JI" ?   400-1100nm	o&}!bq]   10fps
D#|+PG7   SID4 DWIR	Lt>"R! "x   72×96	):HjpJvF   10.08×13.44	KPO?eeT.WZ   75nm RMS	8sb<$M$c   3-5μm&8-14μm	8JxJ>I-9p   50fps
?oF+?l   SID4 BIO	;v%Fw!b032   300×400	'F>eieO   8.9×11.8	DZo7T!   500μm	G?D7R/0)   350-1100nm	[r,a0s   10Hz