Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 aj*%$!SU+  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 bAqaf#}e  
特点： rC!~4xj-  
高分辨率（400*300） SgocHpyg  
消色差功能 ZICcZG_y  
测量可重复性高 ,zY!EHpx  
对振动不敏感 +A,t9
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易于使用，Firewire IEEE1394接口 ;l6tZ]-"  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） O%(k$fvM  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

y*5bF0   型号	d^.fB+)A3   采样数	_GK3]F0   感光尺寸（mm&sup2;）	5=--+8[ bV   精度/动态范围	lfp'D+#p{   光谱范围	kf<5`8   采样速率
?5L.]Isa5   SID4	?=h{`Ci^ $   120×160	o-jF?9m   3.6×4.8	W}U-u{Z   10nm RMS/100μm	^.9I[Umua   350-1100nm	Dj9).lgc   60fps
vc_ 5!K%[   SID4UV-HR	X4R+Frt8   250×250	r%/*,lLO   8.0×8.0	Z{ A)   10nm RMS/200μm	Q+\?gU]   190-400nm	p}'uCT ga   30fps
P]G`Y>#$r   SID4 NIR	-a[]#v9   120×160	IJAWG   3.6×4.8	/WJ*ro]Hd$   15nm RMS/100μm	WurpHOJt+   1500-1600nm	93npzpge   60fps
'B>%5'SdD   SID4-HR	Z)zWfv}   300×400	%?3\gFvBo   8.9×11.8	N}3$1=@Y   10nm RMS/500μm	|E)Es!dr   400-1100nm	tzhkdG   10fps
^c{,QS{   SID4 DWIR	xED`8PCfu   72×96	#~r+   10.08×13.44	0}UJP    75nm RMS	,rp-`E5ap   3-5μm&8-14μm	eswsxJ/!   50fps
heliL/   SID4 BIO	~iZMV ?w   300×400	P/'~&*m-   8.9×11.8	38 %xB<Y   500μm	vRLkz4z    350-1100nm	o AkF   10Hz