Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         Z9575CI<  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 \e!vj.PU  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 L
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特点： 0PU8#2pR  
高分辨率（400*300） AtF3%Zv2  
消色差功能 ,z;ky5Ct  
测量可重复性高 uL3Eq>~x  
对振动不敏感 ;]gP@h/  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 ~4s'0 w^  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） nBHnkbKoy  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

4m*M,#mV   型号	d?:=PH   采样数	,WvY$_#xW%   感光尺寸（mm²）	:um|nRwy9   精度/动态范围	;9~6_@,@o   光谱范围	.&9 i   采样速率
PH> b-n   SID4	'@jXbN   120×160	H ,+? t   3.6×4.8	Wx~k&[&E   10nm RMS/100μm	;5tazBy&:C   350-1100nm	/9zE^YcT   60fps
?0YCpn   SID4UV-HR	~=KJzOS,S   250×250	*^RmjW1I   8.0×8.0	v.:3"<ur}   10nm RMS/200μm	~(pmLZ<GW}   190-400nm	_R.B[\r@   30fps
- /(s#D   SID4 NIR	jCrpL~tWT   120×160	/[6j)HIS   3.6×4.8	=egW   15nm RMS/100μm	Nnk@h   1500-1600nm	Qt,M!i,   60fps
/F4pb]U!*   SID4-HR	_UT$,0u_i   300×400	!'j?.F$}   8.9×11.8	7<jZ`qdq_   10nm RMS/500μm	x5QaM.+=J   400-1100nm	.Wq@gV   10fps
?{U m   SID4 DWIR	o99pHW(E   72×96	?W0)nQU   10.08×13.44	&BtK($   75nm RMS	^{xeij/   3-5μm&8-14μm	Kh4$ wwn   50fps
RPIyO   SID4 BIO	C=s1R;"H   300×400	aB]m*~   8.9×11.8	'Fs)Rx}\0   500μm	ZkIgL   350-1100nm	,(.MmP`   10Hz