Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         u+O"c  
xn>N/+,  
HB,?}S#TP  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 o:B?hr'\  
h$#PboLd  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 82 dmlPwJC  
特点： $Xh5
N3  
高分辨率（400*300） XmP,3KG2{S  
消色差功能 ^u2x26].  
测量可重复性高 RBfzti6  
对振动不敏感 Y>T<Qn^D  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 }G "EdhSl  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） W!"Oho'  
d)3jkHYEjj  
参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

=te4p@   型号	OnH3Ss$   采样数	&7,::$cu   感光尺寸（mm²）	,rjl|F* T   精度/动态范围	3mHP=)   光谱范围	Vry*=X&Q   采样速率
njaKU?6%d2   SID4	XSCcumde!   120×160	^ZIs >.'   3.6×4.8	?,]eN&`   10nm RMS/100μm	HRyhq;C   350-1100nm	-Mf-8zw8G   60fps
=4sx(<   SID4UV-HR	|S~$IFN4   250×250	3ZN\F   8.0×8.0	d+vAm3.Dg   10nm RMS/200μm	K%W;-W*'   190-400nm	)H`V\H[0P   30fps
\=P(?!v   SID4 NIR	i8KoJY"   120×160	&^w"   3.6×4.8	,xR u74   15nm RMS/100μm	,@fx[5{   1500-1600nm	upaQoX/C   60fps
89j:YfA=v   SID4-HR	'(SivD   300×400	jo1z#!|Yw}   8.9×11.8	cml~Oepf   10nm RMS/500μm	AyW=.   400-1100nm	JIjo^zOXsc   10fps
ao0^;   SID4 DWIR	K2\)9   72×96	H DD)AM&p   10.08×13.44	K}MlC}oIt   75nm RMS	y\4/M6   3-5μm&8-14μm	w ~"%&SNN   50fps
:yE0DS<_   SID4 BIO	K'/if5>Bc   300×400	2.=G   8.9×11.8	'@ p464   500μm	%"=GQ3u[   350-1100nm	[$uKI,l   10Hz