Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         P)l_ :;&  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 ?P}bl_  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 :r(dMU3%  
特点： \_ V*Cs  
高分辨率（400*300） -&COI-P8  
消色差功能 UE{$hLI?g  
测量可重复性高 [#9i@40  
对振动不敏感 8t3m$<7  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 En:>c  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） RG*Vdom  
CLTkyS)C  
参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

hrm<!uKn   型号	vK%*5   采样数	"M, 1ElQ   感光尺寸（mm&sup2;）	D#AqZS>B   精度/动态范围	[~u&#!*W   光谱范围	L R\LC6kM   采样速率
J#48c'   SID4	`% QvCAR   120×160	M.K^W`   3.6×4.8	2E?!Q I\O   10nm RMS/100μm	4-t^?T:qF   350-1100nm	-OSj<m<   60fps
0$]iRE;O]   SID4UV-HR	r\d(*q3B   250×250	m`l9d4p w?   8.0×8.0	*5 +GJWKN   10nm RMS/200μm	A#6zINK#B   190-400nm	f"KrPx!^b   30fps
s-_D,$ |   SID4 NIR	Z2gWa~dBC   120×160	Z4EmRa30 p   3.6×4.8	4Wp5[(bg   15nm RMS/100μm	R0}1:1}$Sn   1500-1600nm	K Ax=C}9   60fps
G[\TbPh   SID4-HR	0|RofL&o   300×400	kDE-GX"Y   8.9×11.8	0_eqO'"   10nm RMS/500μm	v,S5C    400-1100nm	8f/KNh7#s   10fps
8ix_<$ %   SID4 DWIR	1vxRhS&FY   72×96	~%8P0AP   10.08×13.44	>Jmla~A   75nm RMS	ly-(F2   3-5μm&8-14μm	\4L ur   50fps
HMCLJ/   SID4 BIO	X58U>4a   300×400	? Bpnnwx   8.9×11.8	`^Vd*   500μm	n&njSj/   350-1100nm	) Cl>%9   10Hz