Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         |=7ouFl  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 8:%=@p>$  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 +X4O.6Mn  
特点： s}]qlg  
高分辨率（400*300） ps#+i  
消色差功能 gHLBtl/  
测量可重复性高 :>U2yI  
对振动不敏感 YlW~  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 GbC-6.~  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） L~yu  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

,"PKGd]^   型号	e Ir|%   采样数	AnV\{A^   感光尺寸（mm²）	Th&* d;   精度/动态范围	4~Ptn/ g   光谱范围	3@ a   采样速率
LFsrqdzJ   SID4	7Vf2Qx1_   120×160	ceakTAB[   3.6×4.8	-9XB.)\#   10nm RMS/100μm	Lw 7,[?,Z   350-1100nm	xkIRI1*!   60fps
`mro2A   SID4UV-HR	m> C}T   250×250	93="sS   8.0×8.0	4J=6A4O5Z   10nm RMS/200μm	PiD%PBmUl   190-400nm	'iM;e K   30fps
<#U9ih 2   SID4 NIR	wN[mU   120×160	>E;-asD   3.6×4.8	|wASeZMO2   15nm RMS/100μm	En:.U9?X   1500-1600nm	E,I*E{nd9   60fps
s? /#8 `   SID4-HR	2IgTB|2   300×400	RbUhLcG5   8.9×11.8	box(FjrZE   10nm RMS/500μm	5T?esF<   400-1100nm	Y$0Y_fm%   10fps
Tu Q@b   SID4 DWIR	]UG+<V ,:   72×96	|1GR:b24   10.08×13.44	SST1vzm!   75nm RMS	T:ye2yg   3-5μm&8-14μm	.\kcWeC\   50fps
FNpMu3Q   SID4 BIO	B3V:?#   300×400	c+l1#[Dnc   8.9×11.8	#hEN4c[Ex   500μm	o9dqHm   350-1100nm	6Q<^,`/T   10Hz