Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         1tI=Dwx  
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v.4G>00^  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 vGPsjxk&  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 S-3hLw&?  
特点： D*PEIsV  
高分辨率（400*300） S3WUccv  
消色差功能 >KdV]!H  
测量可重复性高 Z zp"CK 5  
对振动不敏感 P,3w b  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 lsO
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结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 34N~<-9AY  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

wsH_pF   型号	1kUlQ*[<|   采样数	h9}*_qc&kV   感光尺寸（mm&sup2;）	i`+bSg   精度/动态范围	PXJ7Ek*/   光谱范围	fn5-Tnsq*   采样速率
N] |>\   SID4	s 0D4K   120×160	Z0-?;jA@   3.6×4.8	g*LD}`X/-   10nm RMS/100μm	d}ycC.h4k   350-1100nm	Sl^PELU   60fps
o59$vX,   SID4UV-HR	).(y#zJ7P   250×250	kmt1vV.9   8.0×8.0	Z(Y:   10nm RMS/200μm	h4F%lGot   190-400nm	NIbK3`1   30fps
J,u-)9yBA<   SID4 NIR	Sx e 6&   120×160	w=rD8@   3.6×4.8	gM=:80   15nm RMS/100μm	&{+0a[rN   1500-1600nm	a\}MJ5]   60fps
=EA:fq   SID4-HR	fbbbTZy   300×400	n;N79`mZC   8.9×11.8	4sn\UuKyL   10nm RMS/500μm	8 p[n>qV9   400-1100nm	S 593wfc   10fps
r-.@MbBm   SID4 DWIR	l$EN7^%w   72×96	73Jm   10.08×13.44	GfEWms8z   75nm RMS	0NC70+4L   3-5μm&8-14μm	aVc{ aP   50fps
2@GizT*mA   SID4 BIO	N1Ag.   300×400	]SRpMZ   8.9×11.8	wB \`3u4   500μm	H;=Fq+   350-1100nm	3)\fZYu)   10Hz