Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         4`~OxL  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 j 1'H|4  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 lU|ltnU  
特点： rREev  
高分辨率（400*300） p,WBF  
消色差功能 \yymp70w  
测量可重复性高 F-Z>WC{+  
对振动不敏感 >`30 ib  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 :xq^T  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） Ypm*or  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

.*k!Zl*   型号	j+<!4 0#   采样数	>VjtKSN   感光尺寸（mm&sup2;）	lItr*,A]   精度/动态范围	/XRgsF   光谱范围	F`Vp    采样速率
\i~5H]?d   SID4	IKp(KlA   120×160	ziW[qH {   3.6×4.8	$o\Uq   10nm RMS/100μm	6O5E4=   350-1100nm	~$a%& ]\   60fps
[\HAJA,   SID4UV-HR	*|+ ~V/#   250×250	bv[*jr;45   8.0×8.0	t[%=[pJHW   10nm RMS/200μm	g2 V $   190-400nm	Rx<[bohio   30fps
>fR#U"KPAB   SID4 NIR	0@f7`D   120×160	*7Sg8\wDn   3.6×4.8	'9wD+'c=A   15nm RMS/100μm	`.6Jgfu   1500-1600nm	BJ/#V)   60fps
/=OSGIJzm   SID4-HR	of<>M4/g4y   300×400	N~arxe(K   8.9×11.8	r52,f%nlm   10nm RMS/500μm	$PbN=@   400-1100nm	QQjMC'   10fps
OaxE3bDT   SID4 DWIR	(Gxv?\   72×96	,v1-y ?kB   10.08×13.44	EZiGi[t7   75nm RMS	.yj=*N.   3-5μm&8-14μm	o9HDxS$~^   50fps
[dL?N   SID4 BIO	aEZn6k1   300×400	e;}5~dSi   8.9×11.8	d0Kg,HB   500μm	z T+yZA.L   350-1100nm	=Jl1D*B*   10Hz