供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 \?>Hu v  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 _8f
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主要性能指标及技术指标 CHd9l]Rbe  
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主信号通道： %V&n*3  
信号输入方式：单端交流输入 RpG+>"1]  
输入量程：0.5mV-500mV :a8 YV!X  
信号频率范围:1KHz±5% w&$d* E  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) .Ig+Dj{)  
性误差: ≤0.1% #1c]PX  
零点时源： ≤0.2%/h }<@j'Ok}.  
参考信号通道： <H3ezv1M  
)M=ioE8`h  
信号输入方式：单端交流输入 3K&4i'}V  
输入幅度：20-700mV k 4/D8(OXw  
频率范围:≥320。 7A\Cbu2tf  

图片:膜厚控制仪111111.jpg