供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 y*E{X  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 SC--jhDZ  
主要性能指标及技术指标 p\}!uS4 (  
(ZP e{;L.  
主信号通道： s$~H{za  
信号输入方式：单端交流输入 {KSy I#  
输入量程：0.5mV-500mV hyY^$p+  
信号频率范围:1KHz±5% "?6R"Vk?:  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) AD>/#Ul  
性误差: ≤0.1% dKmPKeJM  
零点时源： ≤0.2%/h 0R;`)V\^  
参考信号通道： orFB*{/Z  
r;O?`~2'4  
信号输入方式：单端交流输入 [6?x 6_M  
输入幅度：20-700mV fVYv 2  
频率范围:≥320。 88}04  

图片:膜厚控制仪111111.jpg