供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 SB:z[kfz|  
RSx{Gbd4X  
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 TCK#bJ  
主要性能指标及技术指标 vcZ"4%w  
"$3~):o  
主信号通道： ~lbm^S}-  
信号输入方式：单端交流输入 xiVbVr#[  
输入量程：0.5mV-500mV TpYdIt9#>  
信号频率范围:1KHz±5% Pk6_1LV  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) %r@:7/  
性误差: ≤0.1% 4 g8t  
零点时源： ≤0.2%/h +E+I.}sOB  
参考信号通道： U^Iq]L  
`69xR[f  
信号输入方式：单端交流输入 [;#^h/5E  
输入幅度：20-700mV pS8`OBenA  
频率范围:≥320。 }vZTiuzC  

图片:膜厚控制仪111111.jpg