《
半导体薄膜技术与
物理》全面
系统地介绍了半导体薄膜的各种制备技术及其相关的物理基础。全书共分十章。第一章概述了真空技术,第二至第八章分别介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲
激光沉积、分子束外延、液相外延、湿化学合成等各种半导体薄膜的沉积技术,第九章介绍了半导体超晶格、量子阱的基本概念和理论,第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术。
pHNo1-k\ 《半导体薄膜技术与物理》文字叙述上力求做到深入浅出,内容上深度和宽度相结合,理论和实践相结合,以半导体薄膜技术为重点,结合半导体
材料和器件的性能介绍,同时还介绍了半导体薄膜技术与物理领域的新概念、新进展、新成果和新技术。《半导体薄膜技术与物理》具有内容翔实、概念清楚、图文并茂的特点。
azBYh*s=5{ 《半导体薄膜技术与物理》读者对象广泛,可作为高等院校材料、物理、
电子、化学等学科的研究生或高年级本科生的半导体薄膜技术课程的教材,也可作为从事半导体材料、薄膜材料、光电器件等领域的科研人员、工程技术人员的参考书籍。
[uLwr$N<%L 叶志镇,男,1955年5月生于浙江温州。1987年获浙江大学光仪系工学博士学位;毕业后留校工作,1990~1992年留学美国麻省理工学院(MIT);1994年晋升为教授;1996年选为博导。现为浙江大学材料与化学工程学院副院长、浙江大学纳米中心主任。 1988年进入浙江大学材料系,在硅材料国家重点实验室一直从事半导体薄膜教学科研工作,主要研究方向:Zn0薄膜材料制备、物性调控及光电应用;纳米薄层材料高真空CVD技术研发及应用。现兼任国家自然科学基金委信息科学部评审组成员,全国电子材料专委副主任,全国半导体与集成技术、半导体材料和半导体物理专委委员等。
GBg~NkC7. 《半导体薄膜技术与物理》共分十章,以叶志镇教授“半导体薄膜技术物理”讲义为基础编撰而成。第一章叙述了真空技术的基本知识;第二章至第八章是《半导体薄膜技术与物理》的核心内容,结合各种半导体材料,详细介绍了蒸发、溅射、化学气相沉积、脉冲激光沉积、分子束外延、液相沉积和湿化学合成等半导体薄膜技术与物理;第九章介绍了超晶格的相关知识,超晶格、量子阱是现代新型半导体器件的基础和关键;第十章介绍了典型薄膜半导体器件的制备技术,包括发光二极管、薄膜晶体管和紫外探测器。
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r `;_ #&b ,h<xL- 第1章 真空技术
Q# Yba 1.1 真空的基本概念
-ZVCb@% 1.1.1 真空的定义
' pN[H\Ia 1.1.2 真空度单位
{r>iUgg 1.1.3 真空区域划分
/XVjcD66c 1.2 真空的获得
V$?@
z>7 1.3 真空度测量
9\ulS2d 1.3.1 热传导真空计
cfZ$V^xM 1.3.2 热阴极电离真空计
{VmJVO]S 1.3.3 冷阴极电离真空计
Gv(?u 1.4 真空度对薄膜工艺的影响
{9
.sW/ 参考文献
nDU=B.?E{O RW4,j&) 第2章 蒸发技术
/$=<"Y7&g 2.1 发展历史与简介
h<0&|s*a) 2.2 蒸发的种类
,
RKl 2.2.1 电阻热蒸发
G^%FP!'D? 2.2.2 电子束蒸发
MW|*Z{6* 2.2.3 高频感应蒸发
]. E/s(p 2.2.4 激
光束蒸发
Y
n7z#bu 2.2.5 反应蒸发
}nx5 2.3 蒸发的应用实例
zg>)Lq|VsT 2.3.1 Cu(In,Ga)Se2薄膜
uB1>.Pvxb 2.3.2 ITO薄膜
CK=TD`$w 参考文献
;R[w}#Sm tv 7"4$T 第3章 溅射技术
k}&7!G@T 3.1 溅射基本
原理 )45#lE3TH 3.2 溅射主要
参数 $a#-d; 3.2.1 溅射闽和溅射产额
X/BcS[a 3.2.2 溅射粒子的能量和速度
t9eEcqMg 3.2.3 溅射速率和淀积速率
/$'|`jKsB 3.3 溅射装置及工艺
mMOjV_ 3.3.1 阴极溅射
DD fw&
y 3.3.2 三极溅射和四极溅射
1=L5=uz1d: 3.3.3 射频溅射
nh'TyUd! 3.3.4 磁控溅射
"$krK7Z 3.3.5 反应溅射
|>zYUT[V 3.4 离子成膜技术
/6{P
?)]pE 3.4.1 离子镀成膜
: *8t,f~s^ 3.4.2 离子束成膜
OpD%lRl 3.5 溅射技术的应用
,CxIA^ 3.5.1 溅射生长过程
'ju'O#A9 3.5.2 溅射生长Zno薄膜的性能
evvv&$& 参考文献
s1>d)2lX /e;E+
第4章 化学气相沉积
3C
gmZ7[ 4.1 概述
8|) $;. 4.2 硅化学气相沉积
[/Sk+ID 4.2.1 CVD反应类型
5V*R
Dh 4.2.2 CVD热力学分析
=/e$Rp 4.2.3 CVD动力学分析
)}$]~
f4R 4.2.4 不同硅源的外延生长
d+WNg2#v 4.2.5 成核
S;^'Ek"Z. 4.2.6 掺杂
x8!uI)#tS 4.2.7 外延层质量
f=hT
o!i 4.2.8 生长工艺
7e:eL5f>~ 4.3 CVD技术的种类
k+@,m\tE 4.3.1 常压CVD
\C<'2KZR, 4.3.2 低压CVD
hS'!JAM>Q 4.3.3 超高真空CVD
25Uw\rKeO 4.4 能量增强CVD技术
HChlkj'7w0 4.4.1 等离子增强CVD
G{74o8 4.4.2 光增强CVD
{,B.OM)J 4.5 卤素输运法
B:96E& 4.5.1 氯化物法
kB9@
&t+ 4.5.2 氢化物法
NjbIt=y 4.6 MOCVD技术
Mx Dqp; 4.6.1 MOCVD简介
L/?jtF:o 4.6.2 MOCVD生长GaAs
x~QZVL=: 4.6.3 MOCVD生长GaN
jG`,k*eUrJ 4.6.4 MOCVD生长ZnO
|Ae7wXOs 4.7 特色CVD技术
kgHZaQnD 4.7.1 选择外延CVD技术
Ou`;HN;[ 4.7.2 原子层外延
muMd9\p 参考文献
z&Xk~R*$ BA8g[TA7K 第5章 脉冲激光沉积
9qkJ< 5.1 脉冲激光沉积概述
Y|6gg 5.2 PLD的基本原理
M#k$[w}= 5.2.1 激光与靶的相互作用
ws<pBC,m 5.2.2 烧蚀物的传输
9aBz%* xo 5.2.3 烧蚀粒子在衬底上的沉积
4_-L1WH 5.3 颗粒物的抑制
q"i]&dMr 5.4 PLD在Ⅱ-Ⅵ族化合物薄膜中的应用
G
2`hEX% 5.4.1 ZnO薄膜的PLD生长
=I0J1Ob 5.4.2 其他Ⅱ-Ⅵ族化合物的PLD生长
K'f^=bcI 参考文献
3BSZz%va yqC158 P 第6章 分子束外延
lnGg1/ 6.1 引言
2^%O%Pc 6.2 分子束外延的原理和特点
~^PNMZk 6.3 外延生长设备
O^n\lik 6.4 分子束外延生长硅
}.1}yz^y 6.4.1 表面制备
z.|[g$F 6.4.2 外延生长
pVM1%n:# 6.4.3 掺杂
:F_>`{ 6.4.4 外延膜的质量诊断
{:#c1d2@8 6.5 分子束外延生长Ⅲ-V族化合物半导体材料和
结构 " {X0& 6.5.1 MBE生长GaAs
hC4
M}(XM 6.5.2 MBE生长InAs/GaAs
A
^t _"J 6.5.3 MBE生长GaN
07]9VJa 6.6 分子束外延生长Ⅱ一Ⅵ族化合物半导体材料和结构
Pk;1q?tGw 6.6.1 HgCdTe材料
'Ck:=V%}g 6.6.2 CdTe/Si的外延生长
r4ljA@L 6.6.3 HgCdTe/Si的外延生长
Jn%Etz- 6.6.4 ZnSe、ZnTe
T$sm}= 6.6.5 ZnO薄膜
NHcA6y$Cz 6.7 分子束外延生长其他半导体材料和结构
_>bk'V7 6.7.1 SiC:材料
l.(|&