《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
MBLDxsZ- 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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G;J)[y @v:Eh 第1章 简介
9ZG:2ncdJ 1.1 半导体器件
'/OQ[f=K 1.2 半导体工艺技术
I-1NZgv 总结
+S+=lu _ 参考史献
H:9G/Nev 第1部分 半导体物理
\{!,a 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
z;?j+ZsdH 2.1 半导体捌料
Ycx}FYTY 2.2 基本晶体
结构 G,c2?^#n 2.3 基本晶体生长技术
Rry]6( 2.4 共价健
`iN\@)E 2.5 能带
9[W >`JKo 2.6 本征载流子浓度
q9PjQ% 2.7 施主与受主
s[dIWYs# 总结
H'7s`^-
>I 参考文献
_<DOA:'v 习题
qJf\,7mi 第3章 载流子输运现象
$.:x3TsA 3.1 载流子漂移
{~j/sto-: 3.2 载流子扩散
.p*?g; 3.3 产生与复合过程
`m8WLj 3.4 连续性方程斌
2_6ON 3.5 热电子发射过程
qX; F+~ 3.6 隧穿过程
_ WPt
zL 3.7 强电场效应
bq8Wvlv04 总结
80T2EN:$ 参考文献
kM1N4N7 习题
(fr=N5 第2部分 半导体器件
_h1eW9q 第4章 p-n结
#`f{\ 4.1 基本工艺步骤
!4FOX>|L@ 4.2 热平衡状态
L|:CQ 4.3 耗尽区
(9TSH3f? 4.4 耗尽层势垒电容
/3tErc' 4.5 电流-电压特性
_Gaem"k| 4.6 电荷储存与暂态响应
?Yf
v^DQ5 4.7 结击穿
= &?&}pVF 4.8 异质结
#qR 6TM&; 总结
r>i95u82' 参考文献
o)n)Z~ 习题
@V:Y%#% 第5章 双极型晶体管及相关器件
EY3F9h3xM| 5.1 晶体管的工作原理
[^bq?w 5.2 双极型晶体管的静态特性
DpQWh+WRy 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
tLN^k;w 5.4 异质结双极型晶体管
<1Sj_HCT 5.5 可控砟器件及相关功率器件
;hV|W{=w 总结
I1l^0@J 参考文献
98O]tL+k/u 习题
*5*#Z~dut8 第6章 M0SFET及相关器件
GoAh{=s 6.1 MOS二极管
*]h"J] 6.2 MOSFET基本原理
`?WN*__[" 6.3 MOSFET按比例缩小
SdYbT)y 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
^);M}~ 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
|HYST` 6.6 MOS存储器结构
E{e 6.7 功率M05FET
n-],!pL^ 总结
]];pWlo! 参号文献
Njr;Wa.r+ 习题
Zlh 2qq 第7章 MEsFET及相关器件
,Wu$@jD/] 7.1 金属-半导体接触
njZ vi}m~ 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
'UxI-Lt 7.3 调制摻杂场效应晶体管
)!cucY 总结
=3A4.nW 参考文献
ov H'_' 习题
iWC}\&i 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
)?{!7/H F@ 8.1 基奉微波技术
rPyjr(I"_ 8.2 隧道二极管
0vX6n6G} 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
o@_i&4[MW ……
&z5?]`ALu 第9章 光电器件
frW\!r{LT 第3部分 半导体工艺
t']/2m.&p 第10章 晶体长生外延
<nG}]Smd7 第11章
薄膜淀积
o<Mccj 第12章 图形曝光与刻蚀
_e;bB?S 第13章 杂质掺杂
w+)wrJTtm 第14章 集成器件
-64;P9:A> 附表
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