《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
5{+>3J 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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s^6,"C 6yUThv.G# 第1章 简介
8cvSA&l(D 1.1 半导体器件
$s
,g&7*- 1.2 半导体工艺技术
0FL'8!e< 总结
%L)QTv/ 参考史献
(gE<`b 第1部分 半导体物理
7Q'u>o 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
3&E@#I^], 2.1 半导体捌料
*C|*{! 2.2 基本晶体
结构 vMX\q
2.3 基本晶体生长技术
!s$1C=z5u 2.4 共价健
R)N^j'R~= 2.5 能带
/EQ^-4yr 2.6 本征载流子浓度
zV15d91GX 2.7 施主与受主
[giw(4m#y 总结
4_2oDcdf 参考文献
Wn=I[K&& 习题
Z= -fL 第3章 载流子输运现象
dj9i*#F 3.1 载流子漂移
FmF[S&gFRs 3.2 载流子扩散
.i?{h/9y 3.3 产生与复合过程
.#sX|c=W 3.4 连续性方程斌
VR_/Vh]@ 3.5 热电子发射过程
`tT7&*Os 3.6 隧穿过程
>(YH@Z&; 3.7 强电场效应
0S+$l 总结
mW[w4J+7P 参考文献
T^+K`U 习题
zA|lbJz=GY 第2部分 半导体器件
YsiH=x 第4章 p-n结
;InMgo, 4.1 基本工艺步骤
xi<}n# 4.2 热平衡状态
>D##94PZ 4.3 耗尽区
MVQ6I/EA4 4.4 耗尽层势垒电容
{@x-T 4.5 电流-电压特性
#@V<{/;49 4.6 电荷储存与暂态响应
DuAix)#FN9 4.7 结击穿
I_?R(V[9 4.8 异质结
#jxPh!%9 总结
P A*U\ 参考文献
Je^;[^ 习题
Mw+
l>92 第5章 双极型晶体管及相关器件
%@aC5^Ovy+ 5.1 晶体管的工作原理
$%&OaAg 5.2 双极型晶体管的静态特性
kDR5kDiS 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
(VC Jn<@@ 5.4 异质结双极型晶体管
~EQ#
%db 5.5 可控砟器件及相关功率器件
>x~Qa@s; 总结
/-^{$$eu 参考文献
C!v%6[ 习题
m>w{vqPwJ 第6章 M0SFET及相关器件
l]R7A_| 6.1 MOS二极管
U? U3?Y-k` 6.2 MOSFET基本原理
Mxd7X<\$ 6.3 MOSFET按比例缩小
nD
4C $ 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
6"[,
6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
hSps9*y 6.6 MOS存储器结构
s nNd7v.U6 6.7 功率M05FET
?vik2RW 总结
PF)s> 参号文献
weGsjy(b]N 习题
Z)3oiLmD 第7章 MEsFET及相关器件
LZ(K{+U/ 7.1 金属-半导体接触
l] 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
#c/K.? 7.3 调制摻杂场效应晶体管
j@UE#I|h 总结
z-]ND 参考文献
bVZAf 习题
, a2=OV 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
r4?|sAK 8.1 基奉微波技术
#?>pl. 8.2 隧道二极管
v}!^RW'X 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
(v0Q.Q@< ……
x>J(3I5_b 第9章 光电器件
*xx)j:Sc2 第3部分 半导体工艺
_3g!_ 第10章 晶体长生外延
$RC)e7 第11章
薄膜淀积
-" r4 第12章 图形曝光与刻蚀
NQOf\.#g 第13章 杂质掺杂
FId,/la 第14章 集成器件
(II#9n) 附表
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