《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
,2)6s\]/b 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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d5l UGRg 39jG8zr=Z[ 第1章 简介
vcd\GN*4f 1.1 半导体器件
*9i{,I@ 1.2 半导体工艺技术
t0I{q0 总结
Lh<).<S 参考史献
FGQzoS 第1部分 半导体物理
E~:x(5'%d 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
{}x^ri~ 2.1 半导体捌料
[trwBZ^D~ 2.2 基本晶体
结构 fxIf|9Qi` 2.3 基本晶体生长技术
8x{'@WCG% 2.4 共价健
2Hv+W-6v 2.5 能带
2:= 2.6 本征载流子浓度
<^uBoKB/f 2.7 施主与受主
k$7Jj-+~ 总结
f
V( J| 参考文献
IqGdfL6[( 习题
r"R#@V\'1b 第3章 载流子输运现象
d`6 'Z 3.1 载流子漂移
a@*\o+Su 3.2 载流子扩散
.GcKa024 3.3 产生与复合过程
k;L6R!V 3.4 连续性方程斌
C'X!\}f.b/ 3.5 热电子发射过程
BF <ikilR 3.6 隧穿过程
tRfo$4#NY 3.7 强电场效应
kSh( u 总结
_/K_[w 1 参考文献
AzxXB 习题
C>w|a 第2部分 半导体器件
&8 x-o, 第4章 p-n结
6K<K 4.1 基本工艺步骤
O0y_Lm\ 4.2 热平衡状态
}>X~ 4.3 耗尽区
?I@W:#>o 4.4 耗尽层势垒电容
3%ZOKb"D* 4.5 电流-电压特性
n.G!43@*N 4.6 电荷储存与暂态响应
@|%2f@h 4.7 结击穿
baK$L;Xo: 4.8 异质结
8ITdSg 总结
}AH]
th 参考文献
6i~WcAs 习题
<A'$%`6m 第5章 双极型晶体管及相关器件
>oe]$r 5.1 晶体管的工作原理
9*?oYm;dX 5.2 双极型晶体管的静态特性
`^y7f 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
`$C
n~dT 5.4 异质结双极型晶体管
Z/;aT -N 5.5 可控砟器件及相关功率器件
f`=-US 总结
hfy_3} _ 参考文献
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