《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
eNi#% ?=WB 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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}W!w a_[+id 第1章 简介
~Eik&5 z 1.1 半导体器件
S5F5Tr;TN 1.2 半导体工艺技术
=HIKn6C< 总结
;O~FiA~`c 参考史献
<jYyA]Zy5 第1部分 半导体物理
:2NV;7Wke6 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
^{0*?,-x 2.1 半导体捌料
U1/ww-!Z 2.2 基本晶体
结构 }uaFmXy3 2.3 基本晶体生长技术
3d1xL+ 2.4 共价健
jVGAgR=[G 2.5 能带
%RF$Y=c'C 2.6 本征载流子浓度
;QCGl$8A 2.7 施主与受主
Lp }V 94xT 总结
Mg8ciV}\xY 参考文献
SJLs3iz_) 习题
Bonj K# 第3章 载流子输运现象
UL&>]aQ 3.1 载流子漂移
vmfFR 3.2 载流子扩散
(M{wkQTO 3.3 产生与复合过程
}7{(o- 3.4 连续性方程斌
:nqDX 3.5 热电子发射过程
|FlB# 3.6 隧穿过程
=Y!.0)t;* 3.7 强电场效应
+:70vZc:V@ 总结
ND=JpVkvZ? 参考文献
iny/K/5bf 习题
eW3?3l`fvt 第2部分 半导体器件
_Fv6S}~Q 第4章 p-n结
:U'n0\ 4.1 基本工艺步骤
nDckT+eJ 4.2 热平衡状态
XknNb{. r 4.3 耗尽区
/J!hKK^k 4.4 耗尽层势垒电容
}waZGJLN 4.5 电流-电压特性
I3x+pa^]2 4.6 电荷储存与暂态响应
TI"Ki$jC 4.7 结击穿
LSXsq} 4.8 异质结
PV=sqLM~ 总结
_:Y|a> 参考文献
QP!;Gwqr 习题
OzRo 第5章 双极型晶体管及相关器件
zI(uexxPqd 5.1 晶体管的工作原理
Dq!YB[Z$: 5.2 双极型晶体管的静态特性
e9S*^2; 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
@ZV>Cl@%2 5.4 异质结双极型晶体管
+mKII>{ 5.5 可控砟器件及相关功率器件
b!"qbC1 总结
KlBT9"6" 参考文献
qf[J-"o 习题
4{6,Sx 第6章 M0SFET及相关器件
q
%tq9% 6.1 MOS二极管
{ynI]Wj`L 6.2 MOSFET基本原理
$mf6!p4 6.3 MOSFET按比例缩小
Dp^=% F{t 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
Y1qbu~! 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
#q&Nd2y 6.6 MOS存储器结构
es+ZPX>Y 6.7 功率M05FET
| -Gb Hfz 总结
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gj^R 参号文献
)B~{G\jS 习题
76c:*bZ 第7章 MEsFET及相关器件
%/s+-j@s: 7.1 金属-半导体接触
NcSi %] 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
6Ol)SQE, 7.3 调制摻杂场效应晶体管
%5Elj<eHZ 总结
$Nj'_G\} 参考文献
oVfRp.a 习题
t`V U< 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
Di$++T8" 8.1 基奉微波技术
4Xv."L 8.2 隧道二极管
4!'4 l=jO 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
[,z>msEB. ……
0? KvR``Aj 第9章 光电器件
.^rsVNG 第3部分 半导体工艺
}Q,BI*}* 第10章 晶体长生外延
9Z3Y, `R, 第11章
薄膜淀积
"#%9dWy 第12章 图形曝光与刻蚀
A_J!VXq 第13章 杂质掺杂
8 }Maj 第14章 集成器件
}~<9*M-P 附表
s=#[>^? 索引
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