《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
CaqqH`/E4 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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d 8%sGH WR5W0!'Tf 第1章 简介
}4XXNYH 1.1 半导体器件
*wu|(t_ A 1.2 半导体工艺技术
^gdv:[m 总结
141XnAb)I 参考史献
k\A[p\ 第1部分 半导体物理
VK3e(7b 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
bC0DzBnM; 2.1 半导体捌料
Bl*.N9* 2.2 基本晶体
结构 _ m<@ou7 2.3 基本晶体生长技术
IW5N^J 2.4 共价健
`~+[pY1r 2.5 能带
f3"sKL4| 2.6 本征载流子浓度
/Q\|u:oO, 2.7 施主与受主
aa,^+^J 总结
Mv7=ZAm 参考文献
,@r 0-gL 习题
;`:A(yN]T 第3章 载流子输运现象
%w#8t#[,6 3.1 载流子漂移
7xoq:oP-}N 3.2 载流子扩散
%hV]vm 3.3 产生与复合过程
Dio9'&DtC 3.4 连续性方程斌
3&"+)*/ m 3.5 热电子发射过程
thrv_^A 3.6 隧穿过程
PpWdZ 3.7 强电场效应
*!&,)'' 总结
8Q\ T,C 参考文献
vCsJnKqK 习题
}-2U,Xg[ 第2部分 半导体器件
pu,|_N[xq8 第4章 p-n结
bm#/ KT_8 4.1 基本工艺步骤
B'!I{LC 4.2 热平衡状态
]D&\|,,( 4.3 耗尽区
.BrYz:#A 4.4 耗尽层势垒电容
;QqC c!b 4.5 电流-电压特性
p n(y4we 4.6 电荷储存与暂态响应
#bmbK{ [ 4.7 结击穿
#Z1
<lAy 4.8 异质结
8 GW0w 总结
Y:4/06I 参考文献
V6uh'2 习题
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第5章 双极型晶体管及相关器件
) $=!e%{ 5.1 晶体管的工作原理
^+rI=c 0 5.2 双极型晶体管的静态特性
N%fDgK 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
Uo=_=.GQ 5.4 异质结双极型晶体管
LQXMGgp 5.5 可控砟器件及相关功率器件
)bl^:C 总结
CQ/ps,~M 参考文献
U_<k*o@: 习题
cs0rz= ZdH 第6章 M0SFET及相关器件
]Pf!wv 6.1 MOS二极管
)kvrQ6 6.2 MOSFET基本原理
,FWsgqL{l 6.3 MOSFET按比例缩小
|0xP'( 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
33OkYC%e 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
$_Q]3"U 6.6 MOS存储器结构
Y20T$5{# 6.7 功率M05FET
cNiNLwc 总结
"`Y.5. 参号文献
HL~DIC% 习题
R7 ^f|/l 第7章 MEsFET及相关器件
JV@b(x` 7.1 金属-半导体接触
QW=
X#yrDO 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
mV#U=zqb!S 7.3 调制摻杂场效应晶体管
&2,^CG 总结
>\'gIIs 参考文献
A&L2&ofV&q 习题
!<= ^&\A 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
aqKrf(Rv 8.1 基奉微波技术
O[W/=j[ 8.2 隧道二极管
O1Nya\^g<I 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
lc\%7-%:5 ……
KhZ\q|5 第9章 光电器件
PXo^SHJ+gt 第3部分 半导体工艺
O~D]C 第10章 晶体长生外延
Z=zD~ka 第11章
薄膜淀积
Oz-@e%8L 第12章 图形曝光与刻蚀
Nc:0opPM 第13章 杂质掺杂
qv)%)n 第14章 集成器件
b{a\j% 附表
5~{s-Ms 索引
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