《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
"4XjABJ4' 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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i% 0qN #~Kno@ 第1章 简介
5P*jGOg . 1.1 半导体器件
&IQNsJL!e 1.2 半导体工艺技术
El}~3|a? 总结
S?DMeZ{: 参考史献
J;fbE8x 第1部分 半导体物理
1xxTI{'g[ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
F, =WfM\ 2.1 半导体捌料
Z){fie4WM 2.2 基本晶体
结构 e23& d 2.3 基本晶体生长技术
"+Ks# 2.4 共价健
!rx5i 2.5 能带
,*$Y[UT 2.6 本征载流子浓度
a;i}<n7 2.7 施主与受主
P EzT|uY 总结
k]4CN 参考文献
>U:-U"rA? 习题
y=GDuU% 第3章 载流子输运现象
1\TkI=N3 3.1 载流子漂移
HELTL$j,b 3.2 载流子扩散
@$b7
eu 3.3 产生与复合过程
$jC+oYXj 3.4 连续性方程斌
45+kwo0 3.5 热电子发射过程
hzV%QDUpe 3.6 隧穿过程
sI)jqHZG 3.7 强电场效应
&Ai+t2 总结
j%!xb>< 参考文献
s_u!
RrC 习题
*eAt ' 第2部分 半导体器件
TIV|7nKL 第4章 p-n结
%z1hXh#+ 4.1 基本工艺步骤
~N2 [j 4.2 热平衡状态
AWZ4h,as{ 4.3 耗尽区
'pAq;2AA 4.4 耗尽层势垒电容
*@
\LS!N 4.5 电流-电压特性
m7,"M~\pX 4.6 电荷储存与暂态响应
ohPXwp?] 4.7 结击穿
Y
Odwd}M 4.8 异质结
-OQ6;A"# 总结
`?N|{kb 参考文献
_T^@,!& 习题
N[=R$1\Z 第5章 双极型晶体管及相关器件
X)Rh&ui 5.1 晶体管的工作原理
cMUmJH 5.2 双极型晶体管的静态特性
R*"zLJP 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
E-rGOm" m 5.4 异质结双极型晶体管
?cr^.LV|h^ 5.5 可控砟器件及相关功率器件
$+
\JT/eG9 总结
c}7Rt|`c 参考文献
Nrp1`qY 习题
e=6C0fr 第6章 M0SFET及相关器件
}5gQ dj[Y 6.1 MOS二极管
-1F+,+m 6.2 MOSFET基本原理
j&?@:Zg v 6.3 MOSFET按比例缩小
w##$SaTI 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
&W y9% 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
cZ/VMQEr 6.6 MOS存储器结构
@}e5T/{X}T 6.7 功率M05FET
L6pw'1' 总结
DTV"~>@ 参号文献
$Jy1=/W& 习题
ADZU?7) 第7章 MEsFET及相关器件
nrZZk QNI 7.1 金属-半导体接触
Y&b JKX 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
gM#]o QOGE 7.3 调制摻杂场效应晶体管
!vSj1w 总结
SnW>` 参考文献
#F >R5 D 习题
I_h&35^t 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
:'gX//b): 8.1 基奉微波技术
~LN
{5zg 8.2 隧道二极管
uHO>FM, 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
8DJoQl9 ……
&Sp2['a! 第9章 光电器件
Hn,;G`{ 第3部分 半导体工艺
n#5%{e> 第10章 晶体长生外延
"PY&N