《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
}C:r9?T 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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eRYK3W )4OxY[2J 第1章 简介
ixFi{_ 1.1 半导体器件
+0&/g&a\R 1.2 半导体工艺技术
`A >@]d 总结
6<]lW 参考史献
. vV|hSc 第1部分 半导体物理
-~0^P,yQ 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
S!UaH>Rh 2.1 半导体捌料
^ c<Ve'- 2.2 基本晶体
结构 ^y::jK 2.3 基本晶体生长技术
'V {W-W< 2.4 共价健
A<{{iBEI` 2.5 能带
WY/}1X9.% 2.6 本征载流子浓度
&HW9Jn 2.7 施主与受主
fl(wV.Je| 总结
vt8By@]: 参考文献
*VcJ= b
2Y 习题
X,
n:,' 第3章 载流子输运现象
JI}'dU>*U: 3.1 载流子漂移
Pal=F0-Q\ 3.2 载流子扩散
gJXaPJA{ 3.3 产生与复合过程
UfGkTwoo= 3.4 连续性方程斌
xEI%D|)< 3.5 热电子发射过程
8=l%5r^cq 3.6 隧穿过程
q1,~ 3.7 强电场效应
3u=g6W2 F 总结
t# i#(H 参考文献
SU0
hma8 习题
N)T}P\l 第2部分 半导体器件
]DcFySyv 第4章 p-n结
X8|, 4.1 基本工艺步骤
C _Dn{ 4.2 热平衡状态
wT@og|M 4.3 耗尽区
&8H'eAA 4.4 耗尽层势垒电容
uFE)17E 4.5 电流-电压特性
n S=W 1zf 4.6 电荷储存与暂态响应
\D4:Nt# 4.7 结击穿
Hka2 4.8 异质结
D~m*!w* 总结
@]j1:PN-
参考文献
{FkF 习题
p{_" bB 第5章 双极型晶体管及相关器件
;pAK_> 5.1 晶体管的工作原理
V88p;K$+ 5.2 双极型晶体管的静态特性
eFgA 8kY) 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
occ7zcA 5.4 异质结双极型晶体管
G\i9:7 ` 5.5 可控砟器件及相关功率器件
Tk}]Gev 总结
^('wy}; 参考文献
dN q$} 习题
&
21%zPm 第6章 M0SFET及相关器件
# d 6.1 MOS二极管
Xvu(vA 6.2 MOSFET基本原理
3`g^ 6.3 MOSFET按比例缩小
*@5 @,=d 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
<)9y{J}s: 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
6Mf0`K 6.6 MOS存储器结构
1zv'.uu., 6.7 功率M05FET
0kh6@y3 总结
4s-!7 参号文献
la!~\wpa 习题
nlP;nl W 第7章 MEsFET及相关器件
@JMiO^ 7.1 金属-半导体接触
.#gzP2 [q 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
Ui~>SN>s 7.3 调制摻杂场效应晶体管
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= 总结
!L(^(;$Kgr 参考文献
(QEG4&9 习题
/v{I 第8章 微波二极管、量子效应和热电子器件
pBHRa?Y5 8.1 基奉微波技术
.('SW\u- 8.2 隧道二极管
K-v#.e4 8.3 碰撞电离雪崩渡越时间二极管
B\~}3!j ……
04ui`-c( 第9章 光电器件
Lbgi7|& 第3部分 半导体工艺
ah "o~Cbj 第10章 晶体长生外延
l?e.9o2- 第11章
薄膜淀积
dO'(2J8 第12章 图形曝光与刻蚀
<'u'#E@"sl 第13章 杂质掺杂
?,z}%p 第14章 集成器件
cuX)8+ 附表
Nn6%9PX_) 索引
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