《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
sw qky5_K 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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ZAo)_za&mH i:Z.;z$1 第1章 简介
t1RwB23 1.1 半导体器件
T`'3Cp$q 1.2 半导体工艺技术
c;|&>Fp 总结
MlC-Aad( 参考史献
I|3v&E1 第1部分 半导体物理
]O9f"cj 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
W}e[.iX; 2.1 半导体捌料
RJ@e5A6_ 2.2 基本晶体
结构 RY/ Z~] 2.3 基本晶体生长技术
&A5[C{x 2.4 共价健
h&)vdCCk 2.5 能带
MTITIecw= 2.6 本征载流子浓度
_OxnHf:| 2.7 施主与受主
fN*4(yw 总结
|z7Crz 参考文献
n%ArA])_& 习题
yA>p[F 第3章 载流子输运现象
1'U%7#;E 3.1 载流子漂移
8JFkeU%yO 3.2 载流子扩散
vVN[bD< 3.3 产生与复合过程
wgR@M[]o; 3.4 连续性方程斌
DIu72\ 3.5 热电子发射过程
Mn\B\ 3.6 隧穿过程
@
H`QLm 3.7 强电场效应
dBq,O%$oq 总结
WlLZtgq 参考文献
Zn 5m.=z 习题
W4rw ;(\ 第2部分 半导体器件
x#gmliF 第4章 p-n结
&qI5*aQ8T 4.1 基本工艺步骤
JK8@J9(# 4.2 热平衡状态
MVL }[ J 4.3 耗尽区
3]]6z K^i 4.4 耗尽层势垒电容
UCj#t!Mw 4.5 电流-电压特性
gMK3o8B/ 4.6 电荷储存与暂态响应
g$T_yT'' 4.7 结击穿
FivaCNA 4.8 异质结
3{LvKe 总结
/G{3p&9 参考文献
[Z Gj7 习题
x2&