《
半导体器件物理与
工艺》(第2版)分为三个部分:第1部分(第2、3章)描述半导体的基本特性和它的传导过程,尤其着重在硅和砷化镓两种最重要的丰导体
材料上。第l部分的概念将在《半导体器件物理与工艺》(第2版)接下来的部分被用到,了解这些概念需要现代物理和微积分的基本知识。第2部分(第4-9章)讨论所有土要半导体器件的物理过程和特性。由对大部分半导体器件而言最关键的p-n结开始,接下来讨论双极型和场效应器件。最后讨论微波、量子效应、热
电子和
光电子器件。第3部分(第10-14章)则介绍从
晶体生长到掺杂等工艺技术。我们介绍了制作器件时的各个主要步骤,包含理论和实际情况,并特别强调其在集成
电路土的压用。
EVSX.'&f 《半导体器件物理与工艺》(第2版)介绍了现代半导体器件的物理
原理和先进的工艺技术.它可以作为应用物理、电机工程、电子工程和材料科学领域的本科学生的教材,也可以作为工程师和科学家们需要了解最新器件和技术发展的参考
资料、首先,第1章对土要半导体器件和关键技术的发展作一个简短的历史回顾。
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~!L}yw 0~S^Y1hH 第1章 简介
0S~rgq|O 1.1 半导体器件
niyV8v 1.2 半导体工艺技术
CTa57R 总结
u6agoK|^9 参考史献
Otuf]B^s 第1部分 半导体物理
(A#^l=su 第2章 热平衡时的能带和载流于浓度
oPM96
( 2.1 半导体捌料
CdQ!GS<'y 2.2 基本晶体
结构 Y3b *a".X 2.3 基本晶体生长技术
`;C V=,M 2.4 共价健
D,feF9 2.5 能带
0,")C5j 2.6 本征载流子浓度
QWYJ* 2.7 施主与受主
~>|ziHx 总结
}}~ |!8 参考文献
}7Q% 6&IR 习题
e7 o.xR 第3章 载流子输运现象
L,!?Nt\ 3.1 载流子漂移
C6PdDRf 3.2 载流子扩散
N6:`/f+A>T 3.3 产生与复合过程
(<9u-HF# 3.4 连续性方程斌
ms]sD3z/W+ 3.5 热电子发射过程
y6a3tG 3.6 隧穿过程
Zy/_
E@C}u 3.7 强电场效应
ZECfR>`x 总结
Z T%5T}i 参考文献
M= (u]%\ 习题
9'B `]/L 第2部分 半导体器件
h_'*XWd@ 第4章 p-n结
9.#<b|g 4.1 基本工艺步骤
h376Be{P 4.2 热平衡状态
z b3tIRH 4.3 耗尽区
75lA%|
*X 4.4 耗尽层势垒电容
Bzf^ivT3L 4.5 电流-电压特性
>(<f 0 4.6 电荷储存与暂态响应
ob]w;" 4.7 结击穿
z$sT !QL~ 4.8 异质结
tw@X>
G1z 总结
FS O).=# 参考文献
Di{de` 习题
UN#S;x* 第5章 双极型晶体管及相关器件
nw<uyaU-t 5.1 晶体管的工作原理
m&3xJuKih 5.2 双极型晶体管的静态特性
i%?* @uj 5.1 双极型晶体管的频率响应与开关特性
flx(HJK 5.4 异质结双极型晶体管
"AqB$^S9t 5.5 可控砟器件及相关功率器件
UEL_uij 总结
-9?]IIVb 参考文献
R=?[Nz 习题
.%-8 t{dt 第6章 M0SFET及相关器件
y~V(aih}D 6.1 MOS二极管
*-X[u: 6.2 MOSFET基本原理
53h0UL 6.3 MOSFET按比例缩小
H5an%kU|j 6.4 CMOS与双极型CMoS(BiCMOS)
bN.Pex 6.5 绝缘层上MOSPET(SOI)
#vlgwA 6.6 MOS存储器结构
MdF2Gk-9 6.7 功率M05FET
lB4WKn=?Kl 总结
dO\"?aiD 参号文献
3so%gvY.' 习题
"dlVk~ 第7章 MEsFET及相关器件
v$9y,^p@e
7.1 金属-半导体接触
rJB}qYD 7.2 金十场效应晶体管(MESFET)
#-J>NWdt 7.3 调制摻杂场效应晶体管
yhJ@(tu.Gd 总结
ar,7S&s