《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
/M
c"K 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
V\8
5 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
X{5 DPhB, s~ZC!- [; 市场价:¥64.00
`-`iS? 优惠价:¥51.20 为您节省:12.80元 (80折)
%l P
?mUu(D:7D ZpBH;{., 第一篇光学多层膜设计
k EDZqUD 第1章光学薄膜特性的理论计算
xb_:9 1.1单色平面电磁波
.
zMM86 c 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
QX3![;0F 1.3光学薄膜特性的理论计算
Kt7x'5 1.4光学多层膜内的电场强度分布
&x5ZEe4 习题
s3%8W==rBW 第2章光学薄膜的设计理论
`lOoT 2.1矢量作图法
V zx(J) 2.2有效界面法
&H>dE]Hq, 2.3对称膜系的等效层
cf3c+.o 2.4导纳图解技术
{ qx,X.5$ 习题
'GoeVq 第3章光学薄膜
系统的设计
FDC{8e 3.1减反射膜
-k{R<L
3.2分束镜
6KTY`'I 3.3高反射膜
2^lT!X@ 3.4干涉截止滤光片
/>7/S^ 3.5带通滤光片
.T
X& X 3.6特殊膜系
4V3
w$:, 习题
6-YR'ikU 参考文献
1qN9bwRO 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
T+"y8#: 第4章薄膜制备技术
T#f@8 -XUE 4.1真空淀积工艺
mR@Xt# 4.2光学薄膜材料
><7`$ 2Or 4.3薄膜厚度监控艺术
J8DbAB4X 4.4膜层厚度的均匀性
Kn\(Xd.> 习题
J>PV{N 参考文献
*s4!;2ZhsU 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
Br!&Y9 5.1薄膜的形成过程
}w8AnaC 5.2薄膜的微观结构
zPc;[uHT 5.3薄膜的成分
7y7y<`)I5 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
}d]8fHG 5.5薄膜微观结构和改善
3%a37/|~y 习题
Zi)8KO[/0 参考文献
m(P)oqwM 第三篇光学薄膜检测技术
0-HE, lv 第6章薄膜透射率和反射率测量
v[
'5X 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 #|i{#~gxM 6.2薄膜反射率的测试
#OTsD+2Za= 6.3薄膜反射率的测量
h)`vc#"65k 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
#4u; `j"4= 6.5总结
*p!dd?8 习题
\ChcJth@o< 参考文献
ge8zh/` 第7章薄膜的吸收和散射测量
NR@Tj]`k 7.1激光量热计基本原理
[40 YoVlfM 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
TI 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
b1o(CG(}* 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
k 'b|#c9c 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
!:e
qPpz 7.6薄膜导波传播衰减系数法
6vA5;a@ 7.7总结
NBYE#Uih 习题
/B7
GH5 参考文献
RGLqn{<