《现代
光学薄膜技术》第一篇主要介绍光学薄膜特征的理论计算、光学多层膜的设计理论和技术,由唐晋发教授编写。第二篇主人介绍光一膜的制造技术,包括以物理气相淀积技术为代表的成膜技术,涵盖真空设备、薄膜
材料、制备
参数控制技术、薄膜厚度监控技术、膜厚均匀性以及制备参数对薄膜微观
结构影响等。第三篇主要介绍薄膜光学特性与光学常数的检测技术、薄膜机械性能的评价技术等。由于光学薄膜技术又是一门交叉性很强的学科,涉及到光电技术、计算机、真空技术、材料科学、自动控制技术等领域。
nHDKe)V 光学薄膜是一门综合性非常强的工程技术科学。它的理论基础是电磁场理论和麦克斯韦方程,涉及光在传播过程中,通过分层介质的反射、透射和偏振特性等。
%O#zE-H" 为了满足部分来自不同领域的光学薄膜工作者学习《现代光学薄膜技术》的需要,增加了一个附录,主要介绍几个数学物理基础理论。
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\4j_K*V hWFOed4C 第一篇光学多层膜设计
n/*" 2 第1章光学薄膜特性的理论计算
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aA<` 1.1单色平面电磁波
._A4: 1.2平面电磁波在单一界布的反射和折射
LY)Wwl*wc 1.3光学薄膜特性的理论计算
?q Q.Wj6Mj 1.4光学多层膜内的电场强度分布
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_MuAv 习题
W)]&G}U< 第2章光学薄膜的设计理论
[4YRyx&:++ 2.1矢量作图法
'WmjQsf 2.2有效界面法
tl* v(ZW 2.3对称膜系的等效层
T]1.":
2.4导纳图解技术
<vV"abk 习题
$0P16ZlPC 第3章光学薄膜
系统的设计
#
c1LOz 3.1减反射膜
Tmu2G/yi 3.2分束镜
'~f*O0_ 3.3高反射膜
HOH5_E>d 3.4干涉截止滤光片
83_mR*tGNp 3.5带通滤光片
FYE(lEjxi 3.6特殊膜系
_99 +Vjy 习题
t.RDS2N| 参考文献
aQY.96yo 第二篇薄膜制备技术和微结构特性
>$CNR*}@ 第4章薄膜制备技术
a;U)#*(5|v 4.1真空淀积工艺
@gf <%> 4.2光学薄膜材料
/u90)x 4.3薄膜厚度监控艺术
TxN+-< f 4.4膜层厚度的均匀性
sh` 3$ { 习题
=HIKn6C< 参考文献
;O~FiA~`c 第5章制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响
<jYyA]Zy5 5.1薄膜的形成过程
+8 \?7,FY 5.2薄膜的微观结构
^{0*?,-x 5.3薄膜的成分
U1/ww-!Z 5.4微观结构和成分对薄膜特性的影响
| a
i#rU 5.5薄膜微观结构和改善
d!Y%7LmSE@ 习题
3d1xL+ 参考文献
Zm++5b`W/[ 第三篇光学薄膜检测技术
l& sEdEA 第6章薄膜透射率和反射率测量
47*2QL^zj 6.1光谱分析测试系统的基本
原理 o.|36#Fa 6.2薄膜反射率的测试
K%t&aRjS 6.3薄膜反射率的测量
SJLs3iz_) 6.4利用
激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗
Q;=4']hYU 6.5总结
A~k:
m0MX 习题
#wvGS% 参考文献
fMW=ss^fu- 第7章薄膜的吸收和散射测量
}z\ t}lven 7.1激光量热计基本原理
=c#mR" 1 7.2光声、光热偏转法测量薄膜吸收
fo/sA9 7.3薄膜散射的标量理论和总积分散射测量
2Z<S^9O9 7.4散射光的矢量理论和角分布测量
qQo*:3/]; 7.5谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
Pjvb}q= 7.6薄膜导波传播衰减系数法
=Ov,7<8o 7.7总结
F>n_k 习题
Wie0r@5E 参考文献
.v+J@Y a 第8章薄膜光学常数的测量
3|G~_'`RLt 8.1从透射、反射
光谱确定薄膜的光学常数
).u>%4=6 8.2其他薄膜的光学常数测试方法
k`[>Bk%b 8.3薄膜波导法
wkPomTO 8.4光学薄膜厚度的测试
9aIv|cS? 8.5总结
HD$`ZV 习题
8<Yv:8%B6 参考文献
:(3'"^_NA 第9章薄膜非光学特性的检测技术
lq`7$7-4 9.1薄膜的力学特性检测技术
~WV1t][ 9.2薄膜器件的环境试验
Y}yh6r;i 9.3薄膜的微结构与化学成分检测
[-e$4^+9 9.4总结
j 7O!uUQQ 习题
8/,s8u 参考文献
mN R}%s
附录
o2]Np~`g, 附录A复数与复数运算
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