基础光斑分析仪

发布:wavelab86 2024-04-17 10:42 阅读:374
        产品概述 2HD:JdL  
        此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。 SAR= {/  
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Goxl3LS<  
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       产品特点: 3f"C!l]Xu  
  具备高分辨率和小像素的特点 `{[RjM`  
       兼容脉冲和连续激光测量 SrFx_n  
       光斑直径测量范围20μm~23mm 9YD\~v;x  
       接口高速USB3.0\GigE接口可选 ow/U   
       紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便 8f|98T"  
       支持手动和自动实时曝光及增益调节 'S*k_vuN  
Us]=Y}(  
  典型应用: V4|uas{0I:  
  需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用; yI&9\fn  
  光学器件质量检查; \w%@?Qik  
  激光腔镜调整; nBkh:5E5%  
  外光路准直; &kzj?xK=(j  
  光纤对准耦合分析等。 (!3;X"l  
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  规格型号: #Y2i*:<  
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2s\BY%XY  
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      详细参数 a7#?h%wf  
.fp&MgiQ  
kJT+  
QTH7grB2v  
Be2lMC  
rOcg+5  
I-DXb M  
      系统组成及外形尺寸: U<^F4*G  
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     vcv CD7MD  
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      产品完整目录获取和咨询订购方式 =^tA_AxVw  
      电话和微信号码:15172359028 V kjuyK  
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      技术支持邮箱:wys@focaloptics.com
关键词: 光学仪器检测
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