基础光斑分析仪

发布:wavelab86 2024-04-17 10:42 阅读:345
        产品概述 f>xi (0  
        此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。  &I-T  
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       产品特点: }>y !I5O  
  具备高分辨率和小像素的特点 3ouy-SQ  
       兼容脉冲和连续激光测量 " ;Cf@}i>  
       光斑直径测量范围20μm~23mm qh W]Wd" g  
       接口高速USB3.0\GigE接口可选 ?=)lbSu K  
       紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便 dHAT($QG  
       支持手动和自动实时曝光及增益调节 H9'psv  
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  典型应用: ?zP 2   
  需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用; s[eSPSFZ  
  光学器件质量检查; T_s09Wl  
  激光腔镜调整; rF}Q(<Y86  
  外光路准直; (!b)<V*  
  光纤对准耦合分析等。 k8J zey]X  
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  规格型号: Nk7=[y#z  
z80(+ `   
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      详细参数 |_g7k2oLY  
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A#K<5%U{Mv  
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      系统组成及外形尺寸: SHSfe{n  
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      产品完整目录获取和咨询订购方式 yMyvX_UNI  
      电话和微信号码:15172359028 o,?G(  
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      技术支持邮箱:wys@focaloptics.com
关键词: 光学仪器检测
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