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光学测量>显微 l/=2P_8+Z e_eNtVq 任务/系统描述 N?Wx-pK j=raS
|r5e#3w rE:"8d}z 亮点 5|T[:m y r4j
M:%6$`` /O,>s 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 _G$SA-W( 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 HIK"Ce 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ejr9e@D^ M%*D}s-QE 说明:光源 KKrLF?rc ~&zrDj~FI B=EI&+F+ L5+X& 说明:透镜系统 Iq76JJuCb '7lHWqN< iD;pXE{2s% ].=~C"s,a 说明:样品结构 NNKI+!vg =H<I` J' d|P,e;m- kAu-=X 说明:探测器 tHhau.! SJseP_- *En29N#a{ O\3
Lx 结果:3D光线追迹 JEw+5MO@ pKxsK^O5[
lpjeEawo4 -qI8zs$:5 结果:场追迹矩形光栅 _T96.~Q OouIV3 9.:]eL Yk;-]qi7 结果:场追迹锯齿形光栅 p`dH4y]D R6(sWN- 1*x;jO>Hk 文件&技术信息 tzTnFV @r.w+E=
O/(QLgUr ;S&PLgZ I pp#{'Do QQ:2987619807 >/]`
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