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光学测量>显微 A$5M. o!KDeY 任务/系统描述 OQB7C0+ & [K\b"^=<
T-6<qh URrx7F98 亮点 ektU,Oo ]kTxVe
bNVeL$' &4S2fWx 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Q]/%Y[%| 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ;VAyH('~ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 7\,9Gcv1 UWvVYdy7 说明:光源 I"vkfi#= R8Vf6]s_ ud$-A zZ8 *a\ 说明:透镜系统 ]>VG}e~b 4A!]kj5T (;},~( 2B qGV_oa74 说明:样品结构 7}UG&t{ ^x: lB> BA]$Fi.Mw i#`q<+/q 说明:探测器 sE6>JaH Lr$Mk#'B
K%? g6j T+F]hv' 结果:3D光线追迹 2H)4}5H !B}9gT
k6;bUOo MxIa,M< 结果:场追迹矩形光栅 5FoZ$I WK>|IgK Yg^ &4ZF eMJ>gXA] 结果:场追迹锯齿形光栅 -V|"T+U #4msBax4 U\Wo&giP[ 文件&技术信息 +O.-o/ "0P`=n
lb-1z]YwQ 5*pzL0,Y 3N2dV6u QQ:2987619807 &vpKBR^
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