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光学测量>显微 gM, &Spn TG]}X\c+V| 任务/系统描述 wgZrrq/W| aL)Hv k: 22vq=RO7Z ;Q90Y&{L=$ 亮点 P`2&*2, x7gjG"V "^"'uO$ 1f;or_f#k? 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ]L(54q;W 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ;IhPvff 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 \3j)>u,r 6+ANAk 说明:光源 nP
u`;no u:5IjOb2^ DPeVKyjU 7vNtv9 说明:透镜系统 J0qXtr%h\ T9y768% ; +9(; i*
gKtjx 说明:样品结构 {Y"8~ aH^{Vv$]M@
{9;eH'e q\_DJ)qpn 说明:探测器 ;_p fwa4 D"`[6EN[ %^U"Spv; _/Tlqzp 结果:3D光线追迹 4@/z 9
P~d:'Ib z+Z%H#9e ,5:![ 结果:场追迹矩形光栅 MC6)=0:KX [yvt1:q OaNc9c" 3B -NYJa 结果:场追迹锯齿形光栅 /pU|ZA.z'2 ooDdV
> 8.-S$^hj~6 文件&技术信息 >\&= [C ex=)H%_| ;,v.(Z ic +i4P,Lp mCK],TOA: QQ:2987619807 "W hwc
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