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光学测量>显微 C?6q]k]r zNEN[ 任务/系统描述 x'%vL",% jX t5.9 t
hWbjA[a/ ,.Lo)[( 亮点 )k `+9}OO q'X#F8v
j1ap,<\.k *$mb~k^R 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 =~dsIG 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 X-j<fX_ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 7&V3f=aj6 *2YWvGc 说明:光源 ;BHIss7 ZMK1V)ohn i2LN`5k +>%AG&Pc 说明:透镜系统 bW3Ah?0N T%YN(f \,I{*!hw e.!~7c_z? 说明:样品结构 oL9ELtb]s 1O90 ]c0 qJXfc||Zg oV~S4|9: 说明:探测器 Z/;8eb*B7 ;*20b@ %XXjQ5p q+lCA#Sx 结果:3D光线追迹 Ti#x62X{ Y@b|/+
~UsE"5 QCfR2Nn} 结果:场追迹矩形光栅 Jd33QL}Hj @\=4 Rin/q tZr_{F@ U8zs=tA 结果:场追迹锯齿形光栅 F}5skD= 8BnsYy)j xQqZi b5I 文件&技术信息 }7qboUG e t & 5s.
;#7:}>}rO }jNVR#D: mDA1$fj" QQ:2987619807 01+TVWKX
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