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光学测量>显微 41Htsj dzn[4 任务/系统描述 UthH \.,qAc\[
^;=L|{Xl w!N?:}P<N 亮点 `R+I(Cb >Qg 9KGk'
@Wb_Sz4` L}x,>hbT 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 #FQkwX'g 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 S#wy+* 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 N+M^e`H %=GF 说明:光源 ;%_s4 P/hV{@x qPI1\!z6 [;n/|/m, 说明:透镜系统 (yB)rBh>n _I1:|y (Sd8S`xO zXRq) ;s 说明:样品结构 /suW{8A(E #lld*I"d F\G-. 1 THl={,Rw` 说明:探测器 -fm1T|># Zl4X,9Wt VsJ4sb7 l1?$quM^V 结果:3D光线追迹 P56B~M_ <QcQ.b
a(Fx1`} + <4gJoI 结果:场追迹矩形光栅 RcG
1J7#i Pn| ;VCh ,^K}_z\9f suF<VJ)&s 结果:场追迹锯齿形光栅 ^_rBEyz@ yPXa K275{ydN 文件&技术信息 w28&qNha 2.>aL
`:>N.9'o S8Ec.]T `Hp=1a QQ:2987619807 m*f"Y"B.1I
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