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光学测量>显微 T~shJ0% E;[ANy4L 任务/系统描述 9,h'cf`F y H\z+A|
bVEt?E*+ o)_;cCr)q 亮点 ( Z-~Eh >"^H"K/T
uWs5+ oLJP@J 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 U%2[,c_ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 h{ s- e. 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ,uEi*s> %i!&Fr 说明:光源 x.Sq2rw]V EeW %5/; ET ;=o+\d QfI= 说明:透镜系统 2yYq/J pNY+ E5 =c{/ Z }R.<\ 说明:样品结构 IuJj;L1 _x<CTFTL m791w8Vr (A.%q1h 说明:探测器 }"?v=9.G /UGH7srx ekB!d
a?]Ow J 结果:3D光线追迹 [C@0&[[ 7<W7pXDp
S`yY<1[O bL`O k 结果:场追迹矩形光栅 ?:bW@x Y<X,(\iEHP _<?lP$Xr V#!ftu#c? 结果:场追迹锯齿形光栅 16q"A$ $7q'Be@{ ") Xy%C`J 文件&技术信息 RIXUzKLO KsZXdM/
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