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光学测量>显微 EG|dN(qh .-/IV^lGv 任务/系统描述 7gZ}Qy f,Dic%$q
jl&Nphp pr7lm5 亮点 3Jlap=]68S Rz|@BxB>n
X!/Sk1 zxCx2.7 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 .(.< 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 S\<i`q 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 M<n'ZDK`W ujSoWs 说明:光源 (.V),NKG jVQ89vf
~ @sA!o[gH FE&:? 说明:透镜系统 9J?s:"j 0.0-rd> <Nqbp 5TB6QLPEwY 说明:样品结构 i2c|_B c>{QTI:] S6JXi>n 0]iaNR
% 说明:探测器 *wj5( B<y e]1Zey lV%1I@[M HOFxOBV 结果:3D光线追迹 }UB@FRPF kVs YB
O.ce= E 2wIJ;rh 结果:场追迹矩形光栅 BR@m*JGajz `(0B09~7 ix4]^ oq+w2yR 结果:场追迹锯齿形光栅 +jwHYfAK) pC>h"Hy 1VlU'qY 文件&技术信息 ZDbe]9#Xh LrbD%2U$j5
_7<{+Zzm pF8 #H~ 2*V[kmD/3 QQ:2987619807 3S7"P$q
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