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光学测量>显微 Hug{9Hr3. Dw#&x/G 任务/系统描述 X,fTzkGj b@X@5SJFW
(mD]}{> <+$S{Z. 亮点 u]2k %TUY uLCU3nI
j |i6/Pk9J )/ZSb1! 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 +>3c+h,%. 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 X<QE]RZ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 q#a21~S< 1(?J>{-lw 说明:光源 *Qf}4a0 YiJu48J t<k8 .9
M$ Tk!b`9 说明:透镜系统 ~ZNhU;%YW 5`uS<[vA :3t])mL# AFFLnLA<L 说明:样品结构 E+)Go-rS( y2U:( H:l! -Fdi,\e BJE <~" 说明:探测器 :L[6a>"neE =z/F=1^< @j
(jOe /trc&V 结果:3D光线追迹 :acQK=fe %aKkk)s
10J*S[n1 (lnQ!4LK 结果:场追迹矩形光栅 aOHCr>po, H_j<%VW 16>uD;G vck$@3* 结果:场追迹锯齿形光栅 yq}{6IyZ^ m?j!0> 'O`3FI 文件&技术信息 q KM]wu0Et zvf]}mNx
vxeT[/6i c7F&~RLC ^ ?=K) QQ:2987619807 y]l"u=$Tr{
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