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光学测量>显微 +G.F' jI%g! 任务/系统描述 :~PzTUz 'P`L?/_3
BKJwM'~ 0*4h}t9j 亮点 -~HyzX\cZB ;zpSyyp@
QRw/d}8l WF&?OHf2 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 IPTEOA<M[ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m|8ljXX 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 97L|IZ s) [@4.<4Y 说明:光源 i,R+C.6{ }$wWX}@ P_y8[Y]? kCVO!@yZz 说明:透镜系统 s.{nxk. $p?TE8G M~SbIk<#a< &}+^*X 说明:样品结构 }z|@X KA# S+mM S pI]tv@>:f 3{/Y&/\"'^ 说明:探测器 JsY|Fv m,1Hlp '0MH-M ^:Hx . 结果:3D光线追迹 gd=gc<z YP )^q7s&p/
KJQW ))%e aZBS!X 结果:场追迹矩形光栅 a%igc^GS2 5p]Cwj<u DX\|*:, Q.zE}ZS 结果:场追迹锯齿形光栅 ) Z^b)KAk 6_vhBYLf i7#PYt 文件&技术信息 f?P>P23 !STa}wl
}s>.Fh A&8{0 Zp'q;h_ QQ:2987619807 J}M_Ka
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