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光学测量＞显微 <J)A_Kx[57 wB)+og-^1f 任务/系统描述 XNU qZ-M : 9^='&U9sr
 //Gvk|O1 W/>?1+r.Z 亮点 IR
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 tD]&et )DmiN ^: 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Hl;p>>n 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m-8 9nOls 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ,}tdfkZFYl tA-B3 ] 说明：光源 9oP{Al skz]@{38  f~FehN7 =%\6}xPEl< 说明：透镜系统 |y% ].y) #mhD; .Wg  Qu,k
t^,Qy.L0 说明：样品结构 dz|*n 'd $ rYS  ~5NG DT#L* ;8i L,^.A 说明：探测器 0f %:OU5Y =&pN8PEn\  X-1Vp_(,TP 9.zQ< k2 结果：3D光线追迹 L~{Vt~H9" 1Wk
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 9ET+k(wI@ {p|%hhTK% 结果：场追迹矩形光栅 B bw1k y8vH?^:%<  6b70w @P!
Ue#yDTjc 结果：场追迹锯齿形光栅 q#&#*6 )B  G}#/`]o!K (VaN\+I:T 文件&技术信息 J 7ekIQgR 5u_4lNJ&
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6b]d| QQ：2987619807 C 9U {^
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