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光学测量>显微 ky|k g@n{ $@6q5Iz!& 任务/系统描述 M%:\ ry4: Y"t|0dO%b
BW;@Gq@N OD}Uc+;K 亮点 w(bvs&`{uC %S^ke`MhF
gA=Pz[i)p A@~9r9Uf 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 O_ r-(wE4 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 dUB;ZB7 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 2XyyU}.$ rWWpP< 说明:光源 (;g/wb: lFuW8G,-f@ {KSLB8gtL . ?#Q(eLj 说明:透镜系统 `%|3c CHS}tCfos> L2Cb/!z`c rui 8x4c 说明:样品结构 EiD41N ipu~T)} A]iT
uu5 p ih("`//nP 说明:探测器 |9i[*] UK'8cz9 0xi2VN"X M`7lYw\Or! 结果:3D光线追迹 Jm=3%H TyO]|Q5
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Q4O SIM>Lz 结果:场追迹矩形光栅 fvta< on
hLhrZ 'ym Mu}q YpZuAJm<2_ 结果:场追迹锯齿形光栅 w[vccARQ bOYM-\
{y 0f_`;{ 文件&技术信息 pQZ`dS\ >`WQxkpy
_TdH6[9 2I suBX\[ 2ETv H~23 QQ:2987619807 |pknaz
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