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光学测量>显微 'UG}E@G 0N[DV] 任务/系统描述 l:Xf(TLa GTIfrqT
3%4Mq6Q` ysT!^-&p 亮点 BNoCE! <7-,`
0B:{4Lsn& }(%}"%$ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 HNUR6H&Fta 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
M=abJ4 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 =v`&iL~m <l
s/3! 说明:光源 OZ0%;Y0 KXbYv62 Dt'e<d Is xr3PO?: 说明:透镜系统 0BP~0z E=~WQ13Q jG ;(89QR/ N$a-i 说明:样品结构 lGBdQc]IL i-vJ&}} n~i4yn= y\|\9Q%D 说明:探测器 kQ'xs%Fw _p2<7x i
1xV1#'@[Jd n.UM+2G 结果:3D光线追迹 k*6eZ 7 b/}0
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b%t9a\ 0V ;|1P1H-W~M 结果:场追迹矩形光栅 n
ZZQxV, :+^llz z:jF)N yf^gU* 结果:场追迹锯齿形光栅 <l/Qf[V &_9eg $
rnr;V 文件&技术信息 QD VA*6F ?G<IN)
SLA~F?t >ZsK5v $K6`Q4` QQ:2987619807 ?+tZP3'
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