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光学测量>显微 M^6!{c=MIi ~d9@m#_T#~ 任务/系统描述 o8ERU($/ n N_Ylw
N!Q~?/!d c %f'rj 亮点 Vlf =gP
_!K@(dl
ir?Y> S 9;:) 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 `pJWZ:3 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 `h(*D 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 [
U`}) Y+ Qm. 说明:光源 d%(4s~y P.t0o~hoK; ;,2;J3,pA 0]u=GD% 说明:透镜系统 U#mrbW g.:b\JE ` ssUm1F\ vw'BKi
F 说明:样品结构 r.vezsH FWb`F& 5;:964Et 'VQ
mK# 说明:探测器 Be4n\c. $%Kyz\;7/ W*!u_]K> +wpQ$)\ 结果:3D光线追迹 "3H?_!A9 Eo@b)h
L>X39R~ 0,M1Q~u%. 结果:场追迹矩形光栅 6<`tb)_2~ Z&MfE0F/B [7+dZL[ s6HfN' 结果:场追迹锯齿形光栅 :L&d>Ii|' B.ar!*X a(|,KWHn 文件&技术信息 ,enU`}9V* Lk8NjK6
rd0[(- 7eP3pg# 0'nY QQ:2987619807 w"/RI#7.
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