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光学测量>显微 X:"i4i[}{9 \h/H#jZJ 任务/系统描述 $f
<(NM6? G:<aB
k_#ak%m/ ]g3JZF- 亮点 >C>.\ NZ:,ph
mp1@|*Sn ,wb:dj- 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 EH J.T~X 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 :%=Xm 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Ko<:Z)PS b|:YIXml 说明:光源 UERLtSQ ~^:A{/ gD@){Ip ZPLm]I\] 说明:透镜系统 oWT3apGO IVY]Ek EG~ Qz1E 2yJ q
'yva 说明:样品结构 0
1rK8jX yS'I[l \;Biq` (=AWOU+ 说明:探测器 6@5+m
0`u3 `Y$4 H,8L N#_H6TfMG `4J$Et%S 结果:3D光线追迹 7&)bJ@1U Rr]Hy^w
By!o3}~g -`h)$&, 结果:场追迹矩形光栅 jvL[
JI,b F@KGj| A}9`S6 @@ gPI
?C76 结果:场追迹锯齿形光栅 oJz^|dW PJ%C N(0 oLeq!K}re 文件&技术信息 sY&IquK^ g]H<}4lgq"
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p^xp kgP0x-Ap QQ:2987619807 e X|m
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