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光学测量>显微 ^
T`T?*h 6@47%%,} 任务/系统描述 @e\
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yt,Ky8y1 q(R|3l^6T 亮点 .V}bfd[k$ PBE i"`i
u#y)+A2&! CK|AXz+EN 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 cH:&S=>h 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 #)48dW!n 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Fo%`X[ ? L})*ck 说明:光源 =(P$P /F|VYl^_ j` * bz- |yp^T 说明:透镜系统 ,z`D}<3 9H:J&'Xi7 "H@I~X=
#uC}IX2n 说明:样品结构 ;.=0""-IF c(b`eUOO VQ2'a/s 1P'L<z 说明:探测器 S5Pn6'w *A}td8( xb9^WvV {-]K!tWda 结果:3D光线追迹 w~pe?j_F$ !Z{7X ^
w}(pc}^U ZZ :*c"b: 结果:场追迹矩形光栅 i& %dwqp >XRf=
:3 cG@Wo8+ 28+{ 结果:场追迹锯齿形光栅 MU `!sb* [0kZyjCq@ E&Lml?@ 文件&技术信息 SJ;{ Hg $$Ibr]$5
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/oW/2" >Lo'H}[pF -!M>;M@ QQ:2987619807 ^ u0y<kItX
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