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光学测量>显微 I]ol[
X0S %E2C4UbY 任务/系统描述 yXc@i)9w3 'wTJX>
NMP*q
@ a.AEF P4N 亮点 /3~}= b KhbbGdmfS$
2f -Or/v v8A{q 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 P99s 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
(8j@+J 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 hM`*-+Zb t]pJt 说明:光源 .ZH5^Sv$vp XecU& \Ng[lN \V.U8asfI 说明:透镜系统 DZ|/#- k yAVt[+0 o/\z4Ri)$ (%;D&
~%o 说明:样品结构 eD 7Rv< 6~q"#94 CB?H`R pC. i'vjvc~ 说明:探测器 !GVxQll[f q0
8 <3Hu(Jx<O k$} 6Qd 结果:3D光线追迹 x68s$H =p';y&
bjq2XP?LL y<5xlN(+v 结果:场追迹矩形光栅 rW3fd.;kss yh Ymbu bpeWK& _26F[R1><~ 结果:场追迹锯齿形光栅 6e;.}i :dzamHbX9 <$
Ar*<,6 文件&技术信息 c^8y/wfok }'
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V|fs"HY _/!IjB:(70 ffYiu4$m QQ:2987619807 n_*k
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