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光学测量>显微 37#&:[w> *]6g-E?:@ 任务/系统描述 {i5?R,a) PobX;Z
LK^|JE u O\5%IfB'" 亮点 t&r.Kf9Z\ "HMEoZ Rn1oD3w /sE,2X*BT 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 7FB?t<x 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 D -}>28 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 h [TwaR Njq}M/{U 说明:光源 [BWq9uE L.Y3/H_ KII{GDR] 6#=jF[ 说明:透镜系统 H?$dnwR %go2tv:|W &qv~)ZM$ ZlT }cA/n 说明:样品结构 ,/;Aew; s\*L5{kiSl 9^gYy&+>6] !b8V&< 说明:探测器 o3J#hQrl ({f}Z-% _jWs(OmJ mw@Pl\= 结果:3D光线追迹 6FUW^dt ]?9*Vr:P^ !8{VLg 5{c;I<0 结果:场追迹矩形光栅 Ayz*2N`% -<W?it?D Z}W{ iD{ T(J'p4 结果:场追迹锯齿形光栅 Ln"wjO, EX8JlA\-W AIF?>wgq 文件&技术信息 wQ_4_W mH o#"tc DUp`zW;B ~Y 6'sM| 0w?da~ QQ:2987619807 tKbxC>w
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