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光学测量>显微 `7aDEzmJ :A46~UA!$ 任务/系统描述 t-u|U(n 3LR p2(A
a>4uiFiv nm$Dd~mxW1 亮点 :R6bq! h.rD}N\L
+YOKA* pZZgIw}aS 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 4W4kwU6D 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 /il@`w;G 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 <O?y-$~ %ugHhS! 说明:光源 5 v^yQ<70 )o1eWL} :H6FPV78 gIWrlIV{9 说明:透镜系统 F1;lQA*7K. <[aDo%,A eC
DIwB28 :_<_[Y]1 说明:样品结构 &MmU =+5,B\~q@C mN`YuR~ o 6 {\Zzp 说明:探测器 +@9gkPQQ-@ >$67 7 S-+"@>{HJ 14eW4~Mr 结果:3D光线追迹 uaw~r2 kEeo5XN
rsn.4P= $lIWd 结果:场追迹矩形光栅 H?1xjY9sl v7 pD"vRbYF 72W,FU~OD 结果:场追迹锯齿形光栅 tary6K9K+ i
LBvGZ<9 FQ%c~N 文件&技术信息 Mk<Vydds _i_Q?w`
rj]F87" 8eIUsI.o ql{(Lf$ QQ:2987619807 /gcEw!JS
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