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光学测量>显微 ci%$So2# M+-odLltw 任务/系统描述 %b
pQ= ixy:S1pI
%N\45nYU: 4EeVO5 亮点 <F}j;mX REc90v2"
fZs}u<3Q) Q&$2F:4f& 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 V
7 p{'C 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 *` - 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 (eT9N_W }q_Iep 说明:光源 heES
[ ,~=+]9t SP=8v0 Cs]\3R|D` 说明:透镜系统 K_j*9@ sz7<u| laCVj6Rk
?MRT 说明:样品结构 N+UBXhh GOCe&? W'zI~'K 6C_H0a/h& 说明:探测器 NljcHe}Qy Q9X+H4`}y 9-Qu5L~ 1b7 Q-elG 结果:3D光线追迹 y7b>>|C Np
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9j5k=IXg#a /jc;
2 结果:场追迹矩形光栅 WD8F]+2O\ -<\hcV`& (^|vN; KjV1->r# 结果:场追迹锯齿形光栅 gE&83i" ,PWMl[X 7?Twhs.O 文件&技术信息 UN6nh T jjoyMg95
*]S&V'Di B%co`0$ .A6Jj4`- QQ:2987619807 Wh?3vZ^
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