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光学测量>显微 vmNI$KZM uUq= L 任务/系统描述 C]JK'K<7- H2[0@|<<
=#Jx~d [C M/[_~ 亮点 4/*@cW P $y'``
z8kebS&5 [+A]E,pv]1 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 uR2|> m 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 (4q/LuP^d 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 `mD!z.`U 8"d??3ZXJ 说明:光源 54WX#/<Yik /TB{|_HbW vAop#V YE*|KL^ 说明:透镜系统 Pz
D30VA FY)]yz F}[!OYyg zNo"P[J8 说明:样品结构 :}#)ipr mb3aUFxA; RSB+Saf.8 4|Y1W}!0/ 说明:探测器 oz]3
Tx iC! 6g|]X m&q0 _nay \AoqOC2u 结果:3D光线追迹 rk;]7Wu {=J:
Ax=)J{4v d5{=<j 结果:场追迹矩形光栅 OA}; pQ9QN {=&({ cS r.Z g<T 5"1wz 结果:场追迹锯齿形光栅 vy={ziJ J2oh#TGp ?0sTx6x@ 文件&技术信息 ;[P> 2g_mQT
7l*vmF6Z :p)^+AF"5 vQ2{+5!| QQ:2987619807 ,|zzq@fk
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