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光学测量>显微 ZZ?0%9 " JFx 任务/系统描述 LdwWB
`L pYa8iQ`6U;
>0Y >T6! C=IT`iom1C 亮点 0f&B;?)! i#Io;
x^Q:U1 ExeD3Zj 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 4='Xhm 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 SE.r 'J0 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 m_zl*s*6 uf]SPG#/D 说明:光源 p:Ry F4{b2 }(A`aB_ 6=U81 NY
756B*
说明:透镜系统 Q@?8- ;>np2K<` OB`(,m# bc=,$ 说明:样品结构 z`$jxSLm #%N v\g; :+NZW9_ -}Zck1 说明:探测器 k>E^FB= J9eOBom8e< J!Er%QUR pMB!I9q 结果:3D光线追迹 3.+TM]RYN .a2b&}/.d
(VDY]Q) lC/1,Z/M 结果:场追迹矩形光栅 5;'(^z-bL DmU,}]#: @W}cM 'yxN1JF 结果:场追迹锯齿形光栅 m%m<-.'- xfoQx_]$Im ]H|O 文件&技术信息 Ln:6@Ok)5% "Vh3hnS~
aItQ(+y =~z sah6N m%zo? e QQ:2987619807 J^<Gi/:*^
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