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光学测量>显微 l==`` <v)1<*I 任务/系统描述 0"kbrv2y 5Sm}nH
iX0i2ek *!q1Kr6r 亮点 6g 5#TpCh S)cLW~=z
Id_2PkIN$~ -&NN51-d\j 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 #yI
mKEYX 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 =y
[M\m 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 igkYX!0#8O &|Bc7+/P 说明:光源 (zgW%{V@ S]bmS6# Lhl]g^SN *AG#316 说明:透镜系统 ZvNJ^Xz /j4P9y^]= JW{rA6? /RNIIY~w 说明:样品结构 KV}FZ3jY k,85Y$`' v'U{/ ,x syWG'(> 说明:探测器 \SN&G`o< \?Z{hmN ?j40}
B]]d .LZwuJ^; 结果:3D光线追迹 0O9Ni='Tn 9f2UgNqe9
4[.oPK=i <D:.(AUeO 结果:场追迹矩形光栅 1M}5>V{ V,mw[Hw ZX>AE3wk }@;ep&b* 结果:场追迹锯齿形光栅 7Nk!1s: zfc'=ODX uEktQ_u[ 文件&技术信息 ,5|&A Yn@lr6s
<L"GqNuRQ 6HZ` .o:f qu-B|
MuOa QQ:2987619807 XWUWY
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