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光学测量>显微 0+}42g|_ Z t4/d1qW0 任务/系统描述 ?]]>WP 3~;LNi
|77.Lqqy, KbQ UA$gL= 亮点 aJ}y|+Cj / Of*II&
SpU+y|\[0 &q^\*<B.^ 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 zt/b S/ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 0/S|h"-L 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
V##=-KZ pwtB{6)VH{ 说明:光源 7xTgG!>v (/UW}$] h _dky+ E -~\R.<+ 说明:透镜系统 wmAZ { umhg
O.! }:<`L\8q\ 5ltEnvN 说明:样品结构 T2<?4^xN IL;JdIa Z0uo.
H@.N /'k4NXnW3 说明:探测器 gBp,p\ Xc g X75zso z SDRZ! NF8'O 结果:3D光线追迹 5Iine n3> Y"6
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:>4pH y (@j;Q3(r 结果:场追迹矩形光栅 *(wkgn ecaEWIOG qWX%[i% FcVQ_6 结果:场追迹锯齿形光栅 ]^j:}#R 5x856RQ' 1W3+ng 文件&技术信息 HY-7{irR~ nb-]fa
ere h! (K9pr>le yvR3| QQ:2987619807 S:2M9nC
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