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光学测量>显微 l@W1bS L$zB^lSM 任务/系统描述 e'l@M$^ y1qJ
qrr[QEFW 0PP5qeqN2n 亮点 F[@M? D$?}M>
DS|HN vk><S|[n 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 alp}p 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 b'O>qQ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 b#
| \+#>XDD 说明:光源 Cs2F/M' 5 (cgHr" Z#vU~1W ."u
DM< 说明:透镜系统 S_ER^Pkg #S|DoeFs =O
o4O CF2 .,*68S0k7 说明:样品结构 b#[EkI 0@ 5H^" MszX9wl WKvG|YRDq 说明:探测器 'DdR2 y[A%EMd O<>cuW(l vuoD~ =z 结果:3D光线追迹 b haYbiX? TbQ5
%0Mvd;#[ +:ih`q][b 结果:场追迹矩形光栅 aovw'O\Q %] #XI r 2tqj]i p:Hg>Z 结果:场追迹锯齿形光栅 U][\|8i 7 (kC|q\4M S{fFpe- 文件&技术信息 RQO&F$R= EQ%,IK/
b-OniMq~ _q
z^|J 5Z_ 7Sc QQ:2987619807 (N^tg8 Z<
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