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光学测量>显微 UELy"z
R xC{qV, 任务/系统描述 H| 8Qp* j<Bkj/
:K-~fA%kt? v{(^1cX 亮点 *G{^|z ~tBYIkvWT
U>cV| v*;-yG& 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 C1jHz 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 =osv3>&q 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8.XoVW# Jll-`b 1 说明:光源 rf?qdd(~cH 7[> 6i Km(n7Ah" :<hXH^n 说明:透镜系统 lwrCpD. =<{np <J`0mVOX
{zn!vJX 说明:样品结构 [3(74 d Vj_8> %/|9@e r AyNI$Q6Z 说明:探测器 Ove<mFI\ h-G)o[MA (Dw,DY9 Y"~gw~7OD 结果:3D光线追迹 G&i!Hs {[+mpKq
9fhsIe
{@+Ty]e 结果:场追迹矩形光栅 ~io szX @)|C/oA MRb-H1+Xf (-ufBYO6 结果:场追迹锯齿形光栅 .#rJ+.2 }s(N6 a&( do*EKo 文件&技术信息 ;$smH=I 3QG7C{
r [4tPk w8MG(Lq1" I aGq]z QQ:2987619807 jN[`L%Qm
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