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光学测量＞显微 XRM_x:+] T"{>t 任务/系统描述 Qp)v?k ] ^S4d:- .3
 M8kPj8}{ U dT *E: 6 亮点 g0xuxK;9c
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 7OcW C-< GFj{K 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 D=q:*x 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 n,vct<&z@ 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 s 1 A.+ T,,WoPU8t 说明：光源 ^cOUQ33 t6bV?nc  y` Wty@ ~^NtO 说明：透镜系统 .5^cb%B* ,?J!  z` .<U{5
[<Mx2< 8f 说明：样品结构 C)[,4wt, j+i\bks  *>Ns_su7W [^WC lRF 说明：探测器 zJq ~!#pZ q }i]'7  t URu0`]( l.67++_ 结果：3D光线追迹 wT6"U$cV h{)kQLuzT
 v> LIvi|] ]FJjgu< 结果：场追迹矩形光栅 q$0* b]=E lUOF4U&r  SL Ws*aq
r<9Iof4 结果：场追迹锯齿形光栅 u4t7Ie*Q  {c6=<Kv td (li., 文件&技术信息 F~,Mw 8 A=$04<nP8!
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|U kR'Ma QQ：2987619807 EEEh~6?-e
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