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光学测量>显微 s?8<50s _AV1WS;^^8 任务/系统描述 qQ\Y/}F jR=s#Xz
a{!QOX%K jVLA CWH 亮点 AV 8n( VxP&j0M>
_X~87 d]9U^iy 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 jq'!UN{ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 B1]bRxwn? 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 80A.<=(=. Y|8vO 说明:光源 1+b{}d aA7=q= Bq/:Nd[y ~['Kgh_; 说明:透镜系统 y@CHR L@=3dp!\Cu p=/m IwGqf.!.> 说明:样品结构 "CiTa>x m*e{\)rd# TW !&p"Us+ "#mBcQ;QLV 说明:探测器 B|o2K}%f iy""(c =PGs{?+&O Em[DHfu1Q 结果:3D光线追迹 lKk/p^: ?` SUQm
`y#UJYXQE cqxVAzb 结果:场追迹矩形光栅 S/;bU: -OSa>-bzNx Jk,;JQ m%?V7-9!k 结果:场追迹锯齿形光栅 U]a*uF~h +{sqcr1G fM^[7;]7e 文件&技术信息 /VG2.: 6q
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Z"unF9`"1 e<r,&U$ $XoQ]}"O QQ:2987619807 QeF3qXI
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