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光学测量>显微 ^&&dO*0{ CR934TE+ 任务/系统描述 3N+P~v)T' EFql
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RU"w|Qu>pM *BXtE8
BU 亮点 pw>AQ H.idL6*G
#j-,#P@ ~n[LL)v 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 'dWJ#9C 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 6j"(/X|Ex5 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Sa,N1r y^@%Xrs 说明:光源 XOqpys ,;+\!'lS o95O!5 hl *|t]6!aVLS 说明:透镜系统 ]nX.zE|F jLQjv
"rX=G= 3]N}k|lb% 说明:样品结构 qh7o;x~, S_bay8L1 ~7 `x9MUc l42m81x" 说明:探测器 CzvlZDo N7oMtlvL[w ?G?=,tV fykN\b 结果:3D光线追迹 EW5S%Y ,j_{IL690
:/~vaCZ `n5c|`6 结果:场追迹矩形光栅 5)nv NWAF4i&$ \B}W(^\wg; (Wx)YI 结果:场追迹锯齿形光栅 JG( < dlT\VWMha( ~JZLfw 文件&技术信息 ESomw :.35pp,0
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Pt .\d0lJSr '^/E2+ QQ:2987619807 6U&Uyd)
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