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摘要 V3 _b! f05"3L: 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 &J;H@d|| \at-"[.
Ku0H?qft( 3Zaq#uA 建模任务 /nY).lSH i{|lsd(+ 6R-C0_'h 仿真干涉条纹 dE5 5 iz9\D*or OC?Zw@ 走进VirtualLab Fusion J)$& |