电性能检测Probe测试

发布:探针台 2019-09-17 14:12 阅读:1403
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Probe测试 c@P,  
显微镜底下,利用探针搭接于IC内部线路,使其可以外接各类设备,以便量测或输入讯号。科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下: ]0O$2j_7  
探针分为硬针、软针及Active Probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm;软针之针尖为 < 1 μm,主要应用在高频电路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。 #;)7~69  
当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时,可由点针方式提供讯号输入输出。 xYq8\9Qb  
Wafer可搭配Probe card做各项测试。 ;DOz92X94  
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