失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务：  [ J4n%  
原子发射光谱 ICP-OES jo' V.]\  
气相色谱质谱 GC/MS W`uq,r0Xsy  
X荧光能谱 %7[q%S  
XRF MM6PaD{  
原子吸收 AAS Q^*4
FH!W  
紫外分光 UV u#UtPF7q  
离子色谱 IC &H[7UyC  
等离子质谱 ICP-MS KW!
+Ws  
显微傅利叶红外 fp}5QUm-  
FTIR @r=,: 'Mt  
双晶X衍射分析仪 DCXRD t;`ULp~&  
以及其它各类分析检测仪器... ~r_2V$sC2  
温度冲击 Thermal Shock ;3XOk+  
高温高湿 i.{.koH<  
TH PD~vq^@Q  
老化试验 Burn-in wLzV#8>  
紫外辐射 UV Oven 86);0EBX  
太阳氙灯 Solar/Xenon =IKgi-l*  
盐雾试验 Salt Mist />wE[`  
振动试验 q07H{{h/B  
Vibration =]S,p7*7  
跌落 Shock (/FG#D.  
回流敏感度 wI;sZJc  
MSL &?}A/(#  
耐磨试验、弯折试验... 5O;D\M{>  
声学扫描 SAM Y]7 6y>|e  
X-射线透射 X-Ray nok-![  
俄歇电子成份分析 AES @}2EEo#  
光辐射电子显微镜 I4KE@H"%7  
EMMI v#EFklOP  
有限元模拟与分析 FEA rZWs-]s6t  
透射电镜 TEM E 02Y,C  
聚焦离子束 FIB !f]kTs]j~  
原子力显微镜 AFM %|j8#09  
热力学分析 KcUR /o5K  
TMA/DMA %=$Knc_!T^  
集成电路分析仪... vqZBDQ0  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS n5z|@I`S_  
金相切片制样 Cross section q\-P/aN_  
染色分析 Dye and =K_&@|f+B  
pry jYvl-2A'  
开封制样 Decapsulation G;d3.ml/aZ  
激光开封仪 Laser Decap U1(cBY  
光学显微镜 Optical $ w+.-Tr  
Microscope
@1xIph<z  
拉力剪切力 Pull/Shear tester t1G__5wp  
可焊性试验机 Solderbility tester =k>fW7e  
静电/过电分析仪 i[ >U#5  
ESD/EOS b 0qA  
tester RB6Q>3g  
绝缘/开路电阻... iXq*EZb"R  
认证、检测与工艺分析范围： ahQY-%>  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 O8cZl1C3  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； hiEYIx  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； %~} ,N  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 ^!x! F  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； -2(?O`tZ