失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： _-(z@  
原子发射光谱 ICP-OES rNxG0^k(  
气相色谱质谱 GC/MS d4V 2[TX  
X荧光能谱 6T]Q.\5BZ  
XRF wH!}qz/  
原子吸收 AAS uzO{{S-  
紫外分光 UV L*IU0Jy>  
离子色谱 IC epYj+T  
等离子质谱 ICP-MS o KlF5I  
显微傅利叶红外 pBvo M={2!  
FTIR p>!1S  
双晶X衍射分析仪 DCXRD qjzZ}  
以及其它各类分析检测仪器... z(jU|va{_1  
温度冲击 Thermal Shock }il%AAI9}r  
高温高湿 /LSq%~UF  
TH Zr5'TZ`$  
老化试验 Burn-in  L2k;f]  
紫外辐射 UV Oven VDPxue  
太阳氙灯 Solar/Xenon tI `w;e%HN  
盐雾试验 Salt Mist ^?#@[4?"  
振动试验 +OKA_b"wB  
Vibration rT o%=0P  
跌落 Shock p-a]"l+L  
回流敏感度 ADTU{6UPS  
MSL =SA 4\/  
耐磨试验、弯折试验... ?Z5$0-g'hU  
声学扫描 SAM DCz\TwzU  
X-射线透射 X-Ray 7Zhli Y1  
俄歇电子成份分析 AES LxIuxt=X|p  
光辐射电子显微镜 Xx=K?Z?3.  
EMMI B6-AIPb  
有限元模拟与分析 FEA byp.V_a}/  
透射电镜 TEM D5}DV  
聚焦离子束 FIB _Wq7U1v
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原子力显微镜 AFM kWI]f
Z_n  
热力学分析 imC&pPBB/G  
TMA/DMA K@I+]5E%?  
集成电路分析仪... ><MGZ?-N  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS 6ch@Be5*  
金相切片制样 Cross section  <Wp`[S]r  
染色分析 Dye and Mf!owpW T  
pry XA=|]5C  
开封制样 Decapsulation q
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激光开封仪 Laser Decap RJQ/y3  
光学显微镜 Optical rD_Ss.\^g  
Microscope D "JMSL4r  
拉力剪切力 Pull/Shear tester AviT+^7E  
可焊性试验机 Solderbility tester .n?5}s+q  
静电/过电分析仪 ^Z#<tN;  
ESD/EOS VG? yL2y  
tester >eTf}#s?S  
绝缘/开路电阻... Z#H@BWN7  
认证、检测与工艺分析范围： ':
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芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 #Lu4OSM+  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； e,PQ)1  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； LPtx|Sx![  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 u0<d2Y  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； 5;r({J