失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： b<]--\  
原子发射光谱 ICP-OES ]p,svevo  
气相色谱质谱 GC/MS /}%$fB  
X荧光能谱 Mq!vu!  
XRF Dgb@

`oo  
原子吸收 AAS 7=$@bHEF#*  
紫外分光 UV Mqy5>f)  
离子色谱 IC iL^bf*  
等离子质谱 ICP-MS
AFd3_>h  
显微傅利叶红外 ck=x_HB1  
FTIR wi7a_^{  
双晶X衍射分析仪 DCXRD L4fM?{Ic:s  
以及其它各类分析检测仪器... d0@&2hO  
温度冲击 Thermal Shock 8uj;RG  
高温高湿 COV8=E~  
TH oxs0)B  
老化试验 Burn-in =jz*|e|V  
紫外辐射 UV Oven kOu C@~,  
太阳氙灯 Solar/Xenon !$q *~F"S  
盐雾试验 Salt Mist B)q 5m y  
振动试验 RDX$Wy$@L  
Vibration LSX;|#AI  
跌落 Shock ?h7,q*rxk  
回流敏感度 *OX;ZQg0  
MSL !foiGZ3g  
耐磨试验、弯折试验... T-;|E^  
声学扫描 SAM l\Q--

 
X-射线透射 X-Ray v;%>F)I  
俄歇电子成份分析 AES ~8A !..Z  
光辐射电子显微镜 5a0&LNm  
EMMI lhp.zl  
有限元模拟与分析 FEA Eku+&f@RB  
透射电镜 TEM M5C%(sQ$  
聚焦离子束 FIB +NM`y=@@  
原子力显微镜 AFM =!?4$vW  
热力学分析 ,MmX(O0  
TMA/DMA %o4d(C B  
集成电路分析仪... `dGcjLsIz  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS c9uln  
金相切片制样 Cross section Ub"6OT1tl  
染色分析 Dye and 4^OPzg6Z%p  
pry 0q!
  
开封制样 Decapsulation Xy[*)<  
激光开封仪 Laser Decap qsUob  
光学显微镜 Optical mO?yrM *  
Microscope #rps2nf
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拉力剪切力 Pull/Shear tester l ;fO]{  
可焊性试验机 Solderbility tester u3VSS4RG%  
静电/过电分析仪 u?a4v\  
ESD/EOS LQr+)wI  
tester =KCAHNr4?  
绝缘/开路电阻... an<loLW  
认证、检测与工艺分析范围： }Q<cE$c  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 LOPw0@  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； IT5a/;J  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； BT3X7Cx  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 1|Q-|jq`  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； 'v42QJ"{