切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 7765阅读
    • 21回复

    [求助]镀AR出现的问题,大神们求指点。 [复制链接]

    上一主题 下一主题
     
    发帖
    347
    光币
    578
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-06-20
    图一:同一伞从上到下的反射数据。不知道主要问题在哪里? L{c q, jk  
       谢谢各位!! n..g~ $k  
      图二:是与图二同一台机镀的另外一个工艺(除膜厚外,其他条件是一样的)的反射数据。 ? C/Te)  
    `HBf&Z  
    z0do;_x]E  
            图一是7层  LHLHLHL       H4\SIO2      Y &K;l_  
    *Aa?yg:=  
      |p-t%xDdr  
          图二是 5层   LHLHL             H4\SIO2   n\Lb.}]1~  
    Zcc9e 03  
    of@#:Qs  
    _(KbiEB{  
     
    分享到
    离线ysc212
    发帖
    181
    光币
    737
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2017-06-20
    均匀性问题,建议使用修正板 VZl6t;cn  
    发帖
    347
    光币
    578
    光券
    0
    只看该作者 2楼 发表于: 2017-06-22
    回 ysc212 的帖子
    ysc212:均匀性问题,建议使用修正板 |YY_^C`"-  
     (2017-06-20 09:34)  ]&pds\  
    q*7VqB  
    恩   但是第二张图只是膜厚层数不同,差异就没有第一个大。是不是第一个膜系里面有些敏感层。谢谢回复。
    离线yzhuang
    发帖
    341
    光币
    3190
    光券
    0
    只看该作者 3楼 发表于: 2017-06-27
    个人感觉是膜层敏感度的原因,特别是光控进行镀膜时更容易发生这种现象
    发帖
    347
    光币
    578
    光券
    0
    只看该作者 4楼 发表于: 2017-06-29
    回 yzhuang 的帖子
    yzhuang:个人感觉是膜层敏感度的原因,特别是光控进行镀膜时更容易发生这种现象 (2017-06-27 11:20)  HiR[(5vnf  
    ,>0*@2  
    我用的晶控,同样的修正版 膜料 镀出来的差异太大了,SIO2  H4是同一个修正板。
    离线fly6947
    发帖
    236
    光币
    693
    光券
    0
    只看该作者 5楼 发表于: 2017-06-29
    V9{]OV%  
    我建议你做一下图一的重复性,如果每炉差,但是情况不一样,那么是你的敏感层是H4,要么膜系结构优化一下,(图2是单峰结构,敏感度没那么高)要么控制H4的预熔与充氧量; 1^7hf;|#g  
    ymx>i~>7J  
    如果每炉都这样,那肯定是均匀性没做好,有条件的话  高低折射率的mask单独修一下; `lO[x.[  
    $m].8?  
    另外,SIO2的分布比一般的氧化物要差一点,可以选好一点的SIO2 0 yuW*z  
    GzI yP(U  
    离线johnyu
    发帖
    128
    光币
    142
    光券
    0
    只看该作者 6楼 发表于: 2017-07-03
    這很清楚的。 \Zqng  
    beRVD>T  
    若與圖一使用之MASK為同支, .!$*:4ok  
    gcPTLh[^Er  
    圖二看起來均勻性OK,即表示MASK為好的。 LcSX *MC  
    zQ@I}K t  
    至於圖一為什麼會這樣? 我認為是敏感層問題(薄層) aI6$?wus  
    T>x&T9  
    若想重複確認,可以鍍單一材料來看看他的5Q,答案即可得知。
    离线lzh123
    发帖
    89
    光币
    53
    光券
    0
    只看该作者 7楼 发表于: 2017-07-08
    均匀性的问题。。。。。影响均匀性的素较多
    发帖
    347
    光币
    578
    光券
    0
    只看该作者 8楼 发表于: 2017-07-10
    回 fly6947 的帖子
    fly6947:我建议你做一下图一的重复性,如果每炉差,但是情况不一样,那么是你的敏感层是H4,要么膜系结构优化一下,(图2是单峰结构,敏感度没那么高)要么控制H4的预熔与充氧量;
    如果每炉都这样,那肯定是均匀性没做好,有条件的话  高低折射率的mask单独修一下;
    ....... (2017-06-29 08:46)  N^HUijw<  
    9o;^[Ql-  
    好的   ,谢谢指导。我回头试试。
    发帖
    347
    光币
    578
    光券
    0
    只看该作者 9楼 发表于: 2017-07-10
    回 johnyu 的帖子
    johnyu:這很清楚的。
    若與圖一使用之MASK為同支,
    圖二看起來均勻性OK,即表示MASK為好的。 B$b +Ymu  
    ....... (2017-07-03 17:36)  )3~{L;q  
    pPcTrN'  
    好的   ,谢谢指导。我也觉得单层有薄层敏感度高的。很均匀的差别。