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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core ~;1l9^N|  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 fIj|4a+  
    L!rw[x  
    y=`2\L" O  
    m1),;RsH  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 "SzdDY6  
    GqWB{$J;"  
    [21 =5S  
    .C&ktU4  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ,=tD8@a<  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ?**+e%$$  
    ?*E'^~,H)  
    2ggdWg7z  
    IqC]!H0  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 29!q!g|  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 D$bIo "  
    CPP` qt%f  
    9:,V5n=  
    /wP@2ADB  
    +)j$|x~(A  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Pm lx8@D  
    %;e/7`>Ma  
    oN{Z+T :  
    3T"j)R_=l  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 !X"K=zt"  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 P^w#S  
    kB'Fkqwm  
    }"=AG  
    bKrhIU[  
    Ytz)d/3T  
    enp)-nS0  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 TQx.KM>y  
    ix(=3 /Dgz  
    GFel(cx:K  
    O)ME"@r@:  
    Runsheet I9:Cb)hbU]  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 -TM 0]{  
    +RnkJ* l  
    %,D<O,N  
    0JlZs]  
    Function J.ck~;3  
    GlbySD@  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 Q\cjPc0y  
    JMH8MH*  
    4$*%gL;f^  
    $% 1vW=d  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 &_~+(  
    c0hwc1kv-  
    讯技光电科技(上海)有限公司 `e(vH`VZ  
    电话:86-21-64860708 d!:6[7X6  
    传真:86-21-64860709 l-ct?T_@  
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