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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 3 %r*~#nz  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 bx6=LK  
    Rq",;,0ZJ  
    Q9p7{^m&E  
    )B-[Q#*A-  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 D > U(&n  
    :KRNLhWb  
    yO\bVu5V  
    f2KH&j>~r  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 pFu!$.Fr  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Mw+ l>92  
    Ps 0<CUyI  
    'tQp&p j  
    {pre|r\  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 E)p[^1WC  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 MR@Qn[RdM  
    nnu#rtvZp}  
    *U\`HUW  
    0&kmP '  
    XMI5j7C L  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 BGH'&t_5  
    Gf~^Xv!T  
    !xg10N}I  
    X g7xy>{]  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 zrE{CdG%y  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 _D+J3d(Pjk  
    x=\W TC  
    _x$Eq: i  
    QR-pji y  
    <O-R  
    wYS r.T8Q  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 >G[:Q s  
    FKf2Q&2I  
    #c/K.?  
    WkpHe  
    Runsheet %l%2 hvGZ  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Az?^4 1r8  
    @,G\` ;Ma  
    Nd;pkssd  
    jQfnc:'  
    Function )T slI  
    KNF{NFk  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ET*:iioP  
    7~N4~KAUS  
    {8;}y[R  
    .%0a  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 c4Q%MRR  
    1p-<F3;  
    讯技光电科技(上海)有限公司  Lo)T  
    电话:86-21-64860708 f& Sovuuh  
    传真:86-21-64860709 cp`ZeLz2^  
    课程:course@infotek.com.cn uE%2kB*]  
    业务:sales@infotek.com.cn \m<$qp,n  
    技术:support@infotek.com.cn bXM&VW?OP  
     
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