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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core _(h&7P9  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 4<% *E{`  
    lEhk'/~  
    95YL]3V  
    rcMwFE?|xq  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 oJ4 AIQjB  
    _~piZmkG$  
    }HY-uQ%@g  
    c )G3k/T5  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Wzw7tLY._  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” R~)\3] "2m  
    v#.r.{t  
    j#+!\ft5  
    ;j^H)."A\  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Cq%IE^g<  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 *q()f\  
    cUA7#1\T=  
    3wC' r  
    hRs&t,{&  
    kP-3"ACG  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 8=gjY\Dp  
    K?BOvDW"`  
    3+@<lVew6  
    i70w rW#k  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 EL(nDv  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 :E:38q,hG  
    i[?Vin  
    d4?Mi2/jF  
    /7}It$|nhy  
    4<k9?)~(J  
    FLGk?.x$\  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 `QyO`y=?[Y  
    ;4.!H,d  
    1+}{8D_F  
    Of4^?` ^  
    Runsheet b/C`J p  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ~])t 6i  
    v 8$>rwB  
    5 u*-L_  
    g K[YQXfTy  
    Function U$_xUG  
    UFp,a0|  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 [3{W^WSOz  
    @wE5S6! B\  
    "4uS3h2r  
    qzf!l"bT  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 &NH$nY.r  
    xwJH(_-  
    讯技光电科技(上海)有限公司 2vAQ  
    电话:86-21-64860708 F W/W%^  
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