切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 2848阅读
    • 0回复

    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线崔粤鹏
     
    发帖
    349
    光币
    2956
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core /~3N@J  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 AW,v  
    3I9T|wQ-]  
    54q4CagFq  
    >lD;0EN  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 h4hN1<ky\  
    7|&e[@B  
    ,op]-CY 5  
    ?muDTD%c  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 sU) TXL'_!  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” (C8 U   
    ]pW86L%  
    ?z2jk  
    ?M*7@t@  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 o!aLZ3#X  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 ?PBa'g  
    >5)<Uv$  
    0 HGlf  
    S~KS9E~\  
    y[: ~CL  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ,Bisu:v6FW  
    X}ZlWJ  
    Vy-28icZ`  
    x(L(l=^"  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 r55qmPhg  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ]dvPx^`d{  
    :.*HQt9N  
    `NBbTQtgO  
    K&=D-50%  
    >T<6fpXuk2  
    DH 6q7"@  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 = 96G8hlT  
    taweGc%~  
    HF"Eys  
    EXuLSzQwv  
    Runsheet otO j^xU  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 tAF]2VV(e  
    m#tpbFAsc  
    vxZg &SRK  
    =I2@/,  
    Function 3KSpB;HX  
    R (G2qi  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 |,b2b2v ?  
    z~,mRgc$B  
    $9 K(F~/  
    U4BqO :sd  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Yu'a<5f  
    4'',6KJ@  
    讯技光电科技(上海)有限公司 cJCU*(7&  
    电话:86-21-64860708 B`fH^N  
    传真:86-21-64860709 o\Uu?.-<  
    课程:course@infotek.com.cn cFK @3a  
    业务:sales@infotek.com.cn GcT;e5D  
    技术:support@infotek.com.cn H$!+A  
     
    分享到