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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core `8 Ann~Z|k  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 ,DL%oQR  
    X_HU?Q_N  
    )U|0vr8:  
    U{,:-R  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 1[] 9EJ  
    W?H-Ng3E  
    =w;~1i% .k  
    *-eDU T|O  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 <D`VFSEJ  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” SX)o0v+  
    mXwDB)O{)  
    [,yYr  
    2rGg  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 )z\ 73|w  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 W0+m A  
    )NLjv=ql  
    STjk<DP(  
    A$jf#,  
    o}b_`O  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 6s.>5}M!  
    .Lm0$o*`  
    ~ugyUpY"  
    itmFZZh  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ET0^_yk  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 &gdhq~4#  
    4+B&/}FDLo  
    4^GIQEjx  
    #z#`EBXV$6  
    ':d9FzGKa  
    X1XmaO% A  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 G  L-Pir  
    Sa9p#OQ  
    ' OXL'_Xl  
    h f{RI4Jc  
    Runsheet bH}?DMq]O  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 rI#,FZ  
    jaL#  
    ~.$ca.Gf  
    ;;  ?OS  
    Function z3p TdUt  
    p~yGp] yJ9  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 24I\smO  
    =rN_8&  
    5 \iX%w@  
    , lFhLj7  
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    FT6~\9m(  
    讯技光电科技(上海)有限公司 2O(= 2X  
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