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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core NLl~/smMS  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 `RcNqPY#S  
    QO.gt*"  
    ? ^CGJ1  
    C(|5,P#5  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 0Y 2^}u@5  
    !y`e,(E  
    '[8b0\  
    rk|(BA  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ,<^HB+{Wo  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” m[j3s=Gr  
    A*~1Uz\t  
    H| U/tU-  
    )X;cS} yp  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 J\'5CG  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 l%(`<a]VIB  
    \cP'#jZz  
    EiN)TB^]  
    b H_pNx81  
    f](uc(8Z  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 I JY5wP1"  
    *v ^"4  
    Z3>xpw G  
    -3t BN*0+  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 EE6|9K>  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 5I1J)K;  
    oQnk+>}%  
    x,gE$dNzy  
    4E\ntufo  
    :V~*vLvR  
    t}k'Ba3]:Y  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ~hslLUE  
    v-fi9$#^  
    K]!u@I*K"  
    ;sR6dT)  
    Runsheet 8]":[s6x  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 kdh9ftm*\  
    qmeml_(W  
    mv*T=N8fC  
    36x:(-GFq  
    Function 4)+IO;  
    4t Nvq  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 #7-@k-<|  
    0nn]]B@l  
    h<1dTl*  
    Z#6~N/b  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 r`R~{;oT  
    prEu9$:t  
    讯技光电科技(上海)有限公司 +^DRto=  
    电话:86-21-64860708 b]<HhU  
    传真:86-21-64860709 3E}NiD\V}  
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