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Core 3 %r*~#nz 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 bx6=LK Rq",;,0ZJ Q9p7{^m&E )B-[Q#*A- 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 D>U(&n :KRNLhWb yO\bVu5V f2KH&j>~r 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 pFu!$.Fr 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Mw+
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{pre|r\ 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 E)p[^1WC 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 MR@Qn[RdM nnu#rtvZp} *U\`HUW
0&kmP ' XMI5j7CL 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 BGH'&t_5 Gf~^Xv!T !xg10N}I X
g7xy>{] 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 zrE{CdG%y 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 _D+J3d(Pjk x=\W TC _x$Eq:
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<O-R wYS r.T8Q Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 >G [:Q
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#c/K.? WkpHe Runsheet %l%2 hvGZ “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Az?^4 1r8 @,G\`;Ma Nd;pkssd jQfnc:' Function )T
slI KNF{NFk 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ET*:iioP 7~N4~KAUS {8;}y[R .%0a 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 c4Q%MRR 1p-<F3; 讯技光电科技(上海)有限公司 Lo)T 电话:86-21-64860708 f&Sovuuh 传真:86-21-64860709 cp`ZeLz2^ 课程:course@infotek.com.cn uE%2kB*] 业务:sales@infotek.com.cn \m<$qp,n 技术:support@infotek.com.cn bXM&VW?OP
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