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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core wUCDJY:,1  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 //M4Sq(  
    @'r`(o3z!Z  
    bp>ps@zFq  
    *:T>~ilF  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 3{4/7D cX  
    #* gU[9U~  
    bEQtVe@`  
    r\n h.}s  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 @`;Y/',  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” FPMSaN P  
    $',GkK{NX  
    \+Rwm:lI  
    Kt 90mA  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 03QEXm~|Q  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 /GuS IZg"_  
    aT1CpY=T|.  
    7#9'2dI  
    rZ.a>'T4  
    6Sb'Otw.  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 BY4  R@)  
    Iwt2}E(e  
    {1@4}R4  
    # HM\ a  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 9<A\npD  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ~6:LUM  
    e}R2J `7  
    ^wO_b'@v  
    ?St=7a(D  
    4ljvoJ}xjr  
    a0?iR5\  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 siRnH(^ J  
    EK8E  
    Ie2w0Cs28  
    gl9pgY1ni  
    Runsheet I^M#[xA  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Vgqvvq<S  
    u_4:#~b  
    #U$YZ#B  
    /+4^.Q*  
    Function %%as>}.  
    2%5^Fi  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 4h;f>BG  
    Zc4(tf9  
    8sR  
    Pu$kj"|q*[  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Th~3mf #  
    8g[ (nxI~  
    讯技光电科技(上海)有限公司 )4!CR/ao  
    电话:86-21-64860708 rysP)e  
    传真:86-21-64860709 + 9\:$wMN  
    课程:course@infotek.com.cn C,|nmlDN  
    业务:sales@infotek.com.cn C`NBHRa>  
    技术:support@infotek.com.cn PG^j}  
     
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