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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core \h DH81L  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 E.$1CGd+  
    XAV|xlfm  
    .6yC' 3~;o  
    iD)R*vnAi  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 MX-(;H  
    }];8v+M  
    wD-(3ZVd4  
    }\E2Z[  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 H1H+TTZr  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” X0Q};,  
    G'/36M@  
    ^w eU\  
    $= /.oh  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 ^Tbw#x]2  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 A`|OPi)  
    $okGqu8z.O  
    UwuDs2 t  
    L`%v#R  
    sEj?,1jk  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 [:geDk9O#'  
    "pb,|U  
    =6Dz<Lq  
    gw0b>E8gZ&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 D}1Z TX_  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 0#~e KF y  
    P%hi*0pwZ  
    S&jZYq**  
    A ^YHtJ  
    <QGf9{m  
    Z }(,OZh  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 d Ybb>rlu  
    X8 uVet]D~  
    P8jXruZr  
    <(rf+Ou>I  
    Runsheet +5Yf9  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 q(0V#kKC  
    q| p6UL9  
    yDBS : \  
    -EV_=a8[y  
    Function jX5lwP Q|F  
    =p9d4smbn  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 !BD+H/A.{  
    md_9bq/w  
    gbOd(ugH  
    $+eDoI'f  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 }Wf\\  
    P!q U8AJkt  
    讯技光电科技(上海)有限公司 N5u.V\F!z\  
    电话:86-21-64860708 HCHZB*r[  
    传真:86-21-64860709 |7Z7_YWs  
    课程:course@infotek.com.cn (P {o9  
    业务:sales@infotek.com.cn wykk</eQ.i  
    技术:support@infotek.com.cn ~C6Qp`VF  
     
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