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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core x`Ik747^v  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 o0FVVSl  
    } !1pA5x$  
    +*Pj,+;W  
    3sz?49tX  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 y R_x:,|g  
    OO-b*\QW  
    X.)D"+xnH  
    (6~~e$j  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 1'YksuYx6f  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” V"W)u#4,  
    k%h%mz  
    t(\P8J  
    B$&&'i%  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 {"@E_{\  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 ['\ u?m  
    {on+ ;,  
    ]?n~?dD{]  
    yUlYf#`H  
    +I_p\/J?w/  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 IWP[?U=  
    '`/w%OEVC5  
    L7 g4'  
    PtT$#>hx]  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 _sI\^yZd  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 8~eYN- #W&  
    a!*K)x,"<  
    W6L}T,epX  
     mIkc +X  
    X0Z r?$q  
    "M4 gl  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 7 J+cs^2  
    Y|y X]\,  
    riY[p,  
    )ZQML0}P;  
    Runsheet wwh)B92Y5  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 rulw6vTB(  
    oZ"93]3-  
    23Juu V.  
    u<a =TPAU  
    Function }5a$Ka-  
    [I4&E >  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 # vBS7ba  
    KvfZj  
    ;'xd8Jf  
    k{d)'\FM  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 `o,D[Jd  
    &W:R#/|  
    讯技光电科技(上海)有限公司 P},d`4Ty@  
    电话:86-21-64860708 H_+F~P5RC  
    传真:86-21-64860709 Q2 @Ugt$  
    课程:course@infotek.com.cn OX*5 yT{  
    业务:sales@infotek.com.cn s2M|ni=  
    技术:support@infotek.com.cn K_t! P  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 10-01
    好全面