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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core M$B9?N6  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 O={4 >>F  
    j#f+0  
    /!=uM .  
    &BY%<h0c  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 rr>QG<i;G  
    jr|(K*;  
    8V`NQS$  
    j&6,%s-M`a  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 D^baXp8  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Kyt.[" p  
    [ >O4hifq  
    XZEawJ0  
    W2D^%;mw  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 +iz5%Qe<f  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 9c1g,:8\  
    g{.>nE^Sc5  
    e6z;;C@'G  
    ZR.1SA0x?O  
    Sf);j0G,D  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 m2E$[g  
    |NJe4lw+?  
    p(QB5at  
    >6*"g{/  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 MqGF~h|+  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 *;"N kCf  
    ZF"f.aV8)  
    Z.am^Q^Y!  
    g0v},n  
    C)~YWx@v  
    PVP,2Yq!  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 \(Dq=UzQI  
    gcqcY  
    #~3x^ 4Y  
    K QXw~g?  
    Runsheet M[}EVt~  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 #H{<nVvg^  
    (JH LWA H  
    F's($n  
    f{xR s-u]  
    Function ?BT\)@ h  
    ^.5 L\  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 )67_yHW  
    pJrc\`D  
    kq6S`~J^R  
    ; Xrx>( n  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 8ar2N)59  
    et(/`  
    讯技光电科技(上海)有限公司 CP_ ?DyWU  
    电话:86-21-64860708 vDZhoD=VR  
    传真:86-21-64860709 d af$`  
    课程:course@infotek.com.cn !4GG q  
    业务:sales@infotek.com.cn Ja>UcE29  
    技术:support@infotek.com.cn CB<1]Z  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 10-01
    好全面