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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core @EE."T9  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 xBu1Ak8w  
    uEc<}pV  
    L[5=h  
    <~ JO s2  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 2Z20E$Cb  
    iH^z:%dP  
    `jS T  
    p4VeRJk%  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 UT}i0I9  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Kx_h1{  
    'zh7_%  
    "UwH\T4I  
    Mi~(aah  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 /b|0PMX  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 <0S=,!  
    k+1|I)z  
    e8'wG{3A  
    j5@:a  
    <AJ97MLcc  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ;-UmY}MU  
    \QU^>2 3  
    ko5V9Drc  
    2w)-\/j}  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 mZ1)wH,  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 vM_:&j_?``  
    lsN~*q?~]  
    u.rY#cS,-R  
    <3,<\ub  
    d;n."+=[x  
    _=|vgc  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 2Pc%fuC  
    d\|!Hg,  
    TIvRhbu  
    kA7mLrON  
    Runsheet v@#b}N0n  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 #nh|=X  
    Ytgj|@jsp  
    O9:U8$*  
    BL&LeSa  
    Function svXR<7) #  
    7 I>G{  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 h;3cd0  
    ^_lzZOhG  
    ?.Pg\ur  
    x`6<m!d`  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 | [ >UH  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 H ty0qr3  
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