切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 3616阅读
    • 0回复

    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线崔粤鹏
     
    发帖
    351
    光币
    2949
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core AuWEy-q?  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 D;m>9{=  
    XO219   
    ZMoN  
    ,\ov$biL  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 RHeql*`  
    ]x?`&f8i  
    85-00m ~  
    yyG:Kl  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 (oxe'\  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 85m_jmh[  
    tvavI9  
    z^@98:x  
    Bh<)e5lP:  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 {4\(HrGNk  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 <$/'iRtRzW  
    jgbE@IA@!'  
    ~:v" TuuK  
    !Yd7&#s  
    "/g/Lc  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 oF8#gn_  
    ?o?~Df&  
    HvLvSy1U  
    d%8hWlffz  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 rISg`-  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 6]1cy&SG  
    |]*]k`o<)  
    iW9G0Ay  
    r< sx On  
    )w=ehjV^m  
    4:WN-[xX  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 -lAX-W 0  
    J{` G=  
    aOIE9wO  
    $GB/}$fd&  
    Runsheet @Ge\odfF:  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 *#\da]"{  
    ;%{REa  
    5R"iF+p4  
    2M1}`H\  
    Function ;Hk{bz(  
    3\JEp,5  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 dn!#c=  
    INt]OPD  
    mW- 4  
    xy;u"JY*  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 qp;eBa  
    > PHin%#  
    讯技光电科技(上海)有限公司 \W:~;GMeD  
    电话:86-21-64860708 U|Z Yoc+](  
    传真:86-21-64860709 H!PMb{e  
    课程:course@infotek.com.cn EVYICR5g  
    业务:sales@infotek.com.cn 3V2dN )\  
    技术:support@infotek.com.cn !g=4\C`mY  
     
    分享到