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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core  k.("<)  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 X0e#w?  
    \aB>Q"pS  
    D0HLU ~o  
    d/!R;,^  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ncCgc5uP  
    x9s1AzM{  
    LJ+Qe%|  
    wU1h(D2&h  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 L2 ^-t7  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” b%"Lwqdr7  
    NvU~?WN  
    ,sln0  
    6|AD]/t^K  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 KOHYeiry~A  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 !i77v, (#|  
    eV)'@ 8p  
    QfHO3Y6h[  
    [mJmT->  
    JOvRU DZ  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 yo@S.7[/  
    d]<S/D'i  
    l\%LT{$e  
    u[;,~eB%w  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 :d,]BB  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 4A@77#:J5  
    1w/Ur'8we  
    Z<^TO1xs9B  
    b w2KD7  
    Fo@cz"%  
    S#wy+*  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 N +M^e`H  
    n13#}i {tm  
    "-HmXw1+t  
    CW9vC  
    Runsheet >*FHJCe  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 DLP G  
    ^^C@W?.z  
    JX!@j3  
    ?5e]^H}  
    Function J jp)%c#_  
    Hz6tk9;w  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 E)}& p\{E  
    -xk.wWpV  
    iF#|Z$g-(  
    .\6q\7Ej  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 |*5803h  
    d$}z,~sN  
    讯技光电科技(上海)有限公司 ^+'[:rE  
    电话:86-21-64860708 f}C$!Lhs  
    传真:86-21-64860709 yy*8Aw}  
    课程:course@infotek.com.cn -fm1T|>#  
    业务:sales@infotek.com.cn {Jx-Zo>'  
    技术:support@infotek.com.cn 8M,AFZ>F  
     
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