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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core J(\"\Z  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Qj? G KO  
    $+<X 1  
    =$g8"[4   
    |*N.SS  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 W.ud<OKP90  
    =De%]]>   
    HlB'yOHv!  
    -P5VE0  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ^ZFbp@#U  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Hm+-gI3*  
    x,js}Mlw  
    1WPDMLuN  
    2FO.!m  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 +0=u]  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 8kih81tx"U  
    ? kew[oZ  
    }}?L'Vby  
    -uiZp !  
    aI|<t^X  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 }(-R`.e;  
    xyx.1o e!  
    MjG=6.J|`  
    9oP8| <+  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 4T6dju  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 .bvB8VOrW  
    ~fs{Ff'  
    9c806>]U^  
    pCA(>(  
    $qy%Q]  
    =4yME  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 W)V"QrFK  
    !l_ 1r$  
    El0|.dW  
    #:{PAt  
    Runsheet %Md;=,a:6  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 HPp Kti7g  
    ro6peUL*2`  
    Hw<t>z k  
    1c,$D5#  
    Function .0#?u1gXsX  
    PR~ho&!  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 w*Sl  
    I2%{6g@  
    L]kSj$A  
    c^UG}:Y  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 j; 1X-  
    fT/;TK>z>  
    讯技光电科技(上海)有限公司 O~-#>a  
    电话:86-21-64860708 >va#PFHA  
    传真:86-21-64860709 WU{G_Fqaz  
    课程:course@infotek.com.cn Gs.id^Sf  
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