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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 5D L,U(Y  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 %mu>-hac  
    t H,sql)  
    hX3@f;[B2  
    ;?`@"YG)  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册  ,Y-S(  
    ntZ~m  
    &r:=KT3  
    _@K YF)  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 {[tZ.1.w  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” !=y Q)l2  
    :X Lp  
    %N1"* </q  
    }/"4|U  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 =J xFp, Xr  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 a%*_2#  
    ~ aA;<#  
    wPgDy  
    QtlT&|$   
    \XDmK   
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 EZ{\D!_Y  
    M $uf:+F  
    4DM*^=9E  
    `S$sQ&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 _#vGs:-x&  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ^vaL8+  
    \Z'/+}^h  
    O2lIlCL  
    \4QH/e  
    #R<G,"N5  
    XWXr0>!,?  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 z7k$0&  
    In+^V([u+_  
    yW`e |!  
    O5OXw]  
    Runsheet URQ@=W7  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 3HKxYvc C  
    `x2,;h!:)N  
    /ao<A\KR  
    AK;^9b-}q:  
    Function 3.FR C  
    y!hi"!  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 AIv<f9*.:  
    }DHUTP2;yz  
    O4!9{  
    7H#2WFQ7  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 BfVBywty  
    BUDGyl/=  
    讯技光电科技(上海)有限公司 M}KZG'7  
    电话:86-21-64860708 5W{hH\E _5  
    传真:86-21-64860709 )mG0g@qOK  
    课程:course@infotek.com.cn eo ?Oir)  
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    技术:support@infotek.com.cn %l;*I?0H  
     
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