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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core <BED&j!qvP  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 E Izy  
    '"fJA/O  
    itP`{[  
    gr SF}y!3  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 !CWe1Dm  
    q50F!yHC-  
    RC/ 3\ '  
    Q}|K29Y:p  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 W\k8f+Ke  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” R ,qQC<  
    }a||@unr  
    M/quswn1  
    M&j|5UH%.  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 0o=HOCL\  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 )Q'E^[Ua  
    \~ChbPnc  
    Fs(PVN  
    Sy|GM~  
    WJOoDS!i  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 N! 7}B  
    WHY/x /$  
    Q2VF+g,  
    teg5g|*  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 G n]qh(N>  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 CpO_p%P  
    ^PTf8o  
    h6 {vbYj  
    Bz/Vzc(  
    &2y4k"B&)  
    cK+TE8ao  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 s2{SbOBis  
    ixu*@{<Z(  
    &/? Ct!_  
    z6iKIw $  
    Runsheet F'Y ad  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 c4Zpt%:}h  
    $V(]z`b&  
    Cy]=Y  
    Cf=H~&`Z  
    Function jW\:+Taq  
    ~\_VWXXvIW  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 .J)TIc__|A  
    TVD~Ix  
    E$)|Kv^  
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    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 -I|xW  
    N&NBn(  
    讯技光电科技(上海)有限公司 (`.OS)&  
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