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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core m7m)BX%O  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 &8QkGUbS<  
    # l-/!j  
    {A8w~3F  
    km9@*@)  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 <'z.3@D  
    >Mk#19j[/  
    e^Glgaf  
    uZ(,7>0  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 (t2vt[A6ph  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” qre(3,VE5  
    !jyy`q=  
    bDM;7fFp$  
    =FXq=x%9+  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 P(Q}r 7F~(  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 =fy'w3m  
    mA0|W#NB  
    tf?"AY4  
    .*g^ i`  
    wxo{gBq  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Z6_E/S  
    x @uowx_&m  
    wTPHc:2  
    r>x>aJ  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 EF[I@voc  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 SoL"M[O  
    m15> ^i^W  
    #EX NSr  
    g WHjI3;  
    ,kw:g&A  
    @w@ `-1  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 s!\G i5b  
    Cw]bhaG g  
    u13v@<HGc  
    T,fDH!a  
    Runsheet +]jJ:V  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 8Xk,Nbcqt  
    @rt}z+JF  
    ;0]s:0WD0P  
    hR%2[lBn!]  
    Function x]<0Kq9K  
    f^9ntos|  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 ,ku3;58O<  
    $%0A#&DVh  
    c-bTf$6}  
    f l*O)r  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ~ U`|+ 5  
    -%6Y&_5VK  
    讯技光电科技(上海)有限公司 -q}I; cH  
    电话:86-21-64860708 #wP$LKk  
    传真:86-21-64860709 /D ~UK"}  
    课程:course@infotek.com.cn %][6TZ}  
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    技术:support@infotek.com.cn i4r8146D[  
     
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