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} 0K3,5 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 i g^9lM' |D%i3@P&ZR  MK 7S*N1
>(Jy=m? 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 .w^M?}dx {~ ZS q d  L,0HX
.4A4\-Cqe 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Yw<K!'C 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” #Yi,EwD RG|]Kt8  l2KR=& SX/
GQoaBO. 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 Lz 2 AWqR 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 9Vd Vom|e l@nkR&4[ 2`/JT
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Z3Os9X9p 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 Ce}wgKzr Qfr %BQV  >l{<p(
ufm`h) N 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 0l !%}E 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 gbM#jhQ u&1n~ t`  &}31q`
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 Ath^UK O" 1t U}}l Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ;AK;%
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$w`QQ^\ Runsheet S',i “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 S/v+7oT 7$x~}*u  U8kH'OD Dp!3uR ']p Function 6b4Kcl <i Px5ArSS 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 +ia F$ ZvEc ExA-  l j*ELy
[4sI<aH 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 |BhfW
O8p ja*k\w{U' 讯技光电科技（上海）有限公司 =wHHR1e 电话：86-21-64860708 \]=qGMwFs 传真：86-21-64860709 = cE:,z ;g 课程：course@infotek.com.cn Y%:FawR 业务：sales@infotek.com.cn FC T z>N^p 技术：support@infotek.com.cn ]8KAat~J
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