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Core oT_,k}L IX 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 + :t1P V;l (>jME  #8R Q7|7b|
UxW>hbzr&V 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 9UwDa`^ UO&S6M]v7  #"Zr#P{P
JrQN-e! 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 IFE C_F> 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” g &za/F E*ic9Za8`h  IKU -
<O*q;&9 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 rd"]$_P8O 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Wm
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X3"V1@-i4$ 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 &x;nP 6mV 15zL,yo  gC3{:MC-G
OVd"'|&6_ 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 tSm|U<
在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 $'&5gFr9 8'?e4;O  7e40 }n
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 [$./'-I] Ve=0_GR0 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 dFUsQ_]<
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=frt3 1jV^\ x0 Runsheet lf Giw^ “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 'UB<;6wy j{ HxX  ja:%j&: tVe*J@i\$ Function +(<CE#bb[ [Ea5Bn;~! 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 F;z FKvn 6=& wY  B@F 1!8l
jem$R/4" 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 "_(o% \"7 weu'<C 讯技光电科技（上海）有限公司 fg,~[%1 电话：86-21-64860708 n3)g{ K^ 传真：86-21-64860709 GoF C!nx 课程：course@infotek.com.cn jR48 .W 业务：sales@infotek.com.cn RuH Jk\T+ 技术：support@infotek.com.cn G U!XD!!&
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