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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 4#2 ,Y!  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 E fSMFPM  
    Sx&mv.?X  
    Qp+lJAY  
    t2.juoI(  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 }td6fj_{  
    X_?%A54z?  
    ?>?ZAr  
    D_ ug-<QT  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 9 z*(8d  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” =|JKu'  
    VjTAN=  
    m X:bA5db  
    <2)v9c  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 7'UWRRsxUF  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Ar5JP_M`E  
    }AAbhr9d}  
    )"~=7)~<^  
    v>k b^38  
    C$y fMK,,N  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 _z%\'(l+  
    4 Q&mC"  
    y`+<X{V5L  
    V*uEJ6T  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 05g?jV  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 >I:9'"`  
    @`2ozi~lO  
    cJV!> 0ua  
    d!!3"{'  
    F]SIT\kBm  
    rr4 _8Rf  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 b)y<.pS\  
    0k7"H]J  
    cuNq9y;[  
    i*b4uHna  
    Runsheet +}Auk|>Dc  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 G`WzJS*}v  
    `7$Oh{67  
    ?e2Y`0  
    KK .cDAR  
    Function /Sh4pu"'  
    BDnBBbBrz  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 A1 b6Zt  
    A7e_w 7?a  
    +@^47Xu^  
    yT2vO_rH  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。  ^ M8k  
    :e52hK1[T  
    讯技光电科技(上海)有限公司 su%Z{f)#  
    电话:86-21-64860708 ~.!?5(AH8z  
    传真:86-21-64860709  *X0K2|  
    课程:course@infotek.com.cn uvNnW}G4  
    业务:sales@infotek.com.cn [)bz6\d[  
    技术:support@infotek.com.cn  bsD'\  
     
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