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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core A2p]BW&  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 h{/lW#[  
    ["~T)d'  
    pkEx.R)  
    qbq.r&F&  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 + :;6kyM6X  
    gaC [%M  
    OeYZLC(  
    `s|^  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 k* e $_  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” _(J4  
    Y0;66bfh}  
    m;oCi }fL  
    DPBWw[  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 R^Y>v5jAe  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 w%uM=YmuT  
    rGgP9 (  
    Mq Q'Kjo  
    f|NWn`#bY  
    )Pj4_$uM  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 Dwbt^{N ^  
    8\BYm|%aa  
    =j^wa')  
    :P?zy|aBi  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 c1}i|7/XSi  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ]\6*2E{1m  
    _M)J{ {?:  
    8umW>  
    = 6.i.(L_S  
    #m6W7_  
    /" 6Gh'  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 HzZ.q2Zz%  
    xW+ XN`77  
    Z,:}H6Mj9  
    &2//\Qz  
    Runsheet 3dB{DuQ  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 1pJ?YV  
    VmP5`):?b  
    ^wW{7Uq>  
    jVInTR0f[  
    Function 7z9[\]tt  
    oA`G\Xh_E  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 '~n=<Y  
    3bZ:*6W.6  
    M2piJ'T4u  
    <ql:n  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ZL+46fj  
    3fq'<5 ^  
    讯技光电科技(上海)有限公司 T&u25"QOf  
    电话:86-21-64860708 B/gI~e0  
    传真:86-21-64860709 6(-c$d`C.0  
    课程:course@infotek.com.cn }cd-BW  
    业务:sales@infotek.com.cn #|;;>YnZ   
    技术:support@infotek.com.cn my*E7[  
     
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