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Core os={PQRD 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 M`i\VG $!yW_HTx  EbE-}>7OO
&3Sz je 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 %)I{%~u0 <\ :Yk  Ix=} +K/
m(# LhlX 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ;J2z p*| 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” F!Q@ u /}
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/qGf 1MHD 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 j4`0hnqI 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 =U|.^5sa# 78# v hB>oJC
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)ZqTwEr@[ 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 Te wb?: a$" Hvrj  w6GyBo{2O_
E5xzy /ZQ 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 4^~(Mh- Mw 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 p@5`& Em, IS
2^g>T#1  -~30)J=e`
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w Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 U4-g^S[
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 TbGn46!: /ZPyN <@ Runsheet o .G! 7 “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 `-l6S DV-;4AxxRq  lfz 2~Si5A PCM-i{6/ Function 7=WT69,& a]/>ra 5{ 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 qA $*YIlK 0F|AA"mMT  2.zsCu4lj.
MIoEauf 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 s6zNV4 d%,eZXg' 讯技光电科技（上海）有限公司 lBTmx(_}}r 电话：86-21-64860708 6&l+0 dq 传真：86-21-64860709 CS -uNG6 课程：course@infotek.com.cn xp72>*_9& 业务：sales@infotek.com.cn `gb5 "`EZ 技术：support@infotek.com.cn H77"
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