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Core )q[Wzx_ j< 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Kp! A
ay cs[nFfM  x Vw1
3ik~PgGoKQ 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 cqcH1aSv ~b%dBn]n>  zXkq2\GHA
F| P?| 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 g\*2w
@ 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Fz| r[
/PG%Y]l0b  ucJ8l(?Qc
Bp4#"y2 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 M[e^Z}w.V 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 W'e{2 u hW\'EJ :*cd$s
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A[^k4 > 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 G\(*z4@G z : z\||f  )"63g
Q,};O$h 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。  Vygh|UEo
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 q3|SZoN Ym $`EN Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 Z}3;Ych
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 (Sj<>xgd N5tFEV'G Runsheet c]|Tg9AW “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 5H(
]"C uI3oPP> $  VS65SxHA #(Yd'qKo Function ~N )(|N @2>ce2+ 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 OK
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CM t$ ) 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 <d{>[R) ~$1g"jIw 讯技光电科技（上海）有限公司 8rNf4]5@X( 电话：86-21-64860708 %PPkT]~\ 传真：86-21-64860709 r/QI-Cf& 课程：course@infotek.com.cn ) [=C@U 业务：sales@infotek.com.cn ?}C8_I|4~ 技术：support@infotek.com.cn " J ` #
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