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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core Y$r78h=4  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 {q?&h'#y  
    pFd8p@m_2  
    hJ'H@L7  
    JF .Lo;  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 _6ZjF>f  
    my.EvN  
    %T{]l;5  
    }9'`3vsJ  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 *Y m? gCig  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” =^nb+}Nz(  
    $RPW/Lyiq  
    F1t(P 8  
    BPba3G9H  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 ~f1g"   
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 do}LaUz  
    iEr,ly  
    |@Tga_0p  
    $"^K~5Q  
    'x!\pE-  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 %fqR  
    ^/2I)y]W0  
    1sQIfX#2f  
    !+T1kMP+l  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 BX@Iq  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 NI >%v  
    RdTM5ANT  
    a:h<M^n049  
    *gbK :*_J  
    p T(M>LP83  
    }{o !  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 [. 5m}V  
    6[> lzEZ  
    u epyH  
    ff"wg\O4  
    Runsheet n +~Dc[  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 g`7XE  
    XIeLu"TSL  
    n|SV)92o1  
    #%0V`BS7n  
    Function <uH8Fivb  
    }]?Si6_ZZ  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 E9HMhUe  
    kSQ8kU_w+  
    <B"sp r&1  
    a|aVc'j  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 ~4S$+*'8  
    ^PksXfk  
    讯技光电科技(上海)有限公司 RU)35oEV|  
    电话:86-21-64860708 {f!/:bM  
    传真:86-21-64860709 *sho/[~_  
    课程:course@infotek.com.cn _"DS?`z6  
    业务:sales@infotek.com.cn K"}fD;3  
    技术:support@infotek.com.cn OZ,kz2SF#  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 10-01
    好全面