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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core aS=-9P;v  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 g[';1}/B4  
    4A"3C  
    q=(% ]BK  
    Xdh2  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 $>Qq 7  
    ORuC("  
    mX 3p   
    5C0![ $W>  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 5(>SFxz"t  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” *:bexDH  
    4>A|2+K\  
    aD]! eP/)  
    J0V`sK  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 wU6sU]P  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 `AYq,3V  
    ])}a^]0q  
    e:%|.$4OG  
    CYRZ2Yrk?"  
    F~q(@.b  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 vJLGy]  
    h PL]B_<  
    NV7k@7_{B  
    )adV`V%=>  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 q.p.$)  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 'IG@JL'  
    S=(<m%f  
    >))CXGE  
    ! !A0K"h  
    As<B8e]  
    +LF#XS@  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 < Hkq  
    T5 (|{-  
    _Z23lF 9  
    8 q@Z  
    Runsheet "!~o  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 #L~i|(=U5  
    ikW[lefTq  
    ;$QC_l''b  
    f#= c=e-A  
    Function hbJ>GSoZ,  
    |5bLV^mv]i  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 5J10S  
    ;f =m+QXU  
    MKl0 d  
    ){*+s RBW  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 Ax;=Zh<DAv  
    %GHGd'KO&  
    讯技光电科技(上海)有限公司 d9K8[Q5^3  
    电话:86-21-64860708 T$I_nxh[)L  
    传真:86-21-64860709 =V[uXm  
    课程:course@infotek.com.cn q`q;og `  
    业务:sales@infotek.com.cn ''y.4dvX  
    技术:support@infotek.com.cn l4OrlS/5  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 10-01
    好全面