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Core SJoQaR,) > 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 'Y(#Yxc d#Sc4xuf  e
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}X$vriW 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 H/Cv ?GJF 3H%R`ha  @ ^a6^*X>
(9*s:)zD- 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 0 lXV+ l j 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” z{pNQ[t1Z ^c83_93)R  sS d
!H{ )L@f 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 2`+ ?s 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 >9a%"<(2# -}%'I ]R= DBAJkBs
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m?'5*\(ST 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 ehtiu!Vk ogs9obbZ!  auAST;"Z8
WGN [ `D" 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 b< _*~af 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 ^%~ztn 51 H1| -f]!  L$zT`1Hy
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 ]/p0j$Tq$ FI.S?gy0 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 T~s/@*y9
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 1@yXV D/ _Ta9rDSP] Runsheet to[EA6J8l “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 SOb17:o3| FRF3V>  -le:0NUwI ^8.R 'Yq Function q?[{fcNh$ Q &(?D 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 vxUJ4|Qz Vyj>&"28  \cPGyeq
c[!e*n!y 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 +6* oO| SjKIn- 讯技光电科技（上海）有限公司 *`ehI_v : 电话：86-21-64860708 TcZ
Ci^1F 传真：86-21-64860709 K).X=2gjY 课程：course@infotek.com.cn \@ pl:Os 业务：sales@infotek.com.cn Z@
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