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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core ^t%M   
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 E|uXi)!.x  
    nMoF;AdKm  
    .MPOUo/e  
    ]G&\L~P  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 r$eL-jQmn  
    yWk:u 5  
    ;S27m]Q?  
    `/Jr8J_  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 vgZPDf|  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 128 rly  
    Ae zXou&  
    J; Xz'0  
    I%*Z j,>  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 kV%y%l(6  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 a#Gq J?nY  
    4qR Q,g{$T  
    2xBGs9_Y  
    Cu<ojN- $  
    8-6{MJ?F  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 h4xdE 0  
    sh3}0u+  
    }33Au-%*  
    Ds5&5&af  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 8>+eGz|  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 0vNM#@  
    t$D[,$G9  
    @].aFhH`)  
    o |.me G  
    jo:p*Q "F  
    w8Vzx8  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 S%|' /cFo  
    Y(mwJud|  
    Y{{,62D  
    ~a)2 0  
    Runsheet -0){C|,6  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 L7="!I  
    n8C {Okr  
    %['F[Mo  
    5Z0x2 jV  
    Function 7cSvAX0Z.  
    :P'5_YSi  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 TJa%zi  
    h 'CLf]  
    TQfY%GKg(  
    Ho9*y3]  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 "lMWSCas  
    } trMQ  
    讯技光电科技(上海)有限公司  16{;24  
    电话:86-21-64860708 VJPPHJ[-  
    传真:86-21-64860709 t*$@QO  
    课程:course@infotek.com.cn v8=MO:>{R  
    业务:sales@infotek.com.cn C u5 - w  
    技术:support@infotek.com.cn ]vG)lY.=  
     
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