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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core BaHg c 4zI  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 ]O(HZD%  
    96V, [-arf  
    /:L&uqA  
    90(oV&  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 r-"`Abev  
    jw%FZ  
    Yw1q2jT  
    Z 7ZMu  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 {Ll8@'5  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ]~<T` )Hi  
    C5z  
    1Y0oo jD  
    -a^sX%|Bl  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 OZ]3OL,  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 e5\1k#@  
    CvSG!l.6f<  
    #7:9XID /  
    l:C0:m%  
    J0)WRn"h  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ~#x!N=q  
    &aht K}u  
    \Nn%*?f  
    rTiuQdvo  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 0<Y&2<v  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 tZ2iSc  
    O9IjU10:  
    x};g!FYfkB  
    wDTV /"Y  
    QO^X7A"?X  
    .Zz7LG{  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 EHM 7=|#  
    v%e"4:K}?  
    T:n ^$RiT  
    Z#V\[  
    Runsheet PbH]K$mj{"  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 4Lq]yUj  
    PvCE}bY{}  
    1pr_d"#4  
    6Z}))*3 9  
    Function l;FgX+)  
    jJnBwHp  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 i-W2!;G  
    QI{Y@xQ  
    JEkVj']?  
    lL f01sa4  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 [uV/ Ra*g  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 kpUU'7Q  
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