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Core C8W4~~1S 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 =;(y 5c $ _f"NE}  >_|$7m.?n[
@/W~lJ!e 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 kHb H{]) #5X535'ze  1"wZ [.
P$# {a2 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 y
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CJ, 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 9p4=iXfR wAKm]?zB>  s2`Qh9R
Pr'Ij 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 )>;V72 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 G$A=T u~ y8j6ttQv=t l4$Iv:
 -g B9476-
N;S1s0FN 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 mlix^P y$y!{R@  k p3%"i&hD
6~^ M <E 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 :5[1Iepdn 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 D"M[}$P -?p4"[  7q(A&
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JV$EY, (v}4,'dS Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 #Q1}h
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 *f o> B}+li1k Runsheet 7yQw$zG,Iz “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 Hu$y8_Udw $X ,dQ]M  tID=I0D M(?0c}z Function Mp?L9 <,*3Av 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 iAo /Dnp2J Y ?ZzFd,i&  2 b
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PiN^ /#D 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 SW}?y%~ rXR!jZ.hi 讯技光电科技（上海）有限公司 ?$#P
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Sy 课程：course@infotek.com.cn 8 .:WMH` 业务：sales@infotek.com.cn Y @U r} 技术：support@infotek.com.cn d7S?"JpV
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