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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core .:nV^+)  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 lQ]8PR t8  
    @uJ^k >B  
    z87_/(nu  
    NY,ZTl_  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ?##3E, /"9  
    dYn<L/#  
    q5UD!& W  
    eBs4:R_i  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 T0Kjnzs  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 6 #vc"5@M  
    m,"N 4a@  
    V(5=-8k  
    b;K]; o-/f  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 dHUcu@,  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 cj5; XK  
    D J:N  
    !SxZN dv  
    eM1=r:jgE  
    F70_N($i  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 f0h^ULd  
    v[*&@aW0n  
    p[J 8 r{'  
    it\U+xu  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 ;G=:>m~  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 O5lP92],  
    2`ED?F68gH  
    j/Dc';,d.(  
    qVidubsW  
    %_>+K;<  
    kR1dk4I4  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 e+? -#  
    pT ;{05  
    #zL0P>P'a  
    waYH_)Zx  
    Runsheet ~ZN]2}  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 @S>$y5if  
    :-.K.Ch|:  
    ZnVx 'Y  
    KVC$o+<'`%  
    Function DJu&l  
    >,#7 3u#  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 K5ywO8_6`  
    N)&(&2  
    <.N33 7!  
    @[vwqPOL  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 V.f'Cw  
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    讯技光电科技(上海)有限公司 -eA3o2'  
    电话:86-21-64860708 aglW\L T^  
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