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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core 'wegipK~R  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 $/MY,:*e  
    rK*hTjVn  
    XlE$.  
    gjO *h3`  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 aYqqq|  
    yo'q[YtP'  
    v4X_v!CQ  
    iM4mkCdOO  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 |>M-+@g j  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” aS3P(s L  
    (Be$$W  
    aA7S'[NjB  
    BYTXAZLb  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 3AX?B~s  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 YmdsI+DbIu  
    wEZqkV  
    ~:R4))qpg  
    :Fw *r|  
    -Mit$mFn  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 fp`U?S6  
    DX]z=d)tc  
    3 (Gygq#  
     /<(R  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 }M;sz  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 pT|./ Fe  
    2 rbX8Y  
    &Z;Eu'ia  
    C@l +\M(  
    i4 y(H  
    e7)>U!9c9  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 .H*? '*  
    roK4RYJ7)  
    ~:'gvR;x  
    V}3~7(   
    Runsheet SLbavP#G  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 (7 ]\p  
    0  /D5  
    D*<8e?F  
    z{<q0.^EFh  
    Function l,~ N~?  
    C/grrw  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。  xLGTnMYd  
    Rqv+N]  
    Mz% d_  
    }J4BxBuV8  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 3oNt]2w/'  
    AH ?MJKY@Z  
    讯技光电科技(上海)有限公司 u8$~N$L  
    电话:86-21-64860708 f(zuRM^5  
    传真:86-21-64860709 6.(]}?g1f  
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    业务:sales@infotek.com.cn rkER`  
    技术:support@infotek.com.cn 'ra_Zg[j  
     
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