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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core c=bK_Z_  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 BhbfPQ  
    4KSq]S.  
    .f;@O qU  
    :pz@'J  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 HkhZB^_V  
    p[At0Gc L  
    I8B0@ZtV  
    8y_(Iu|:  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 =A{'57yP  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” 1q5S"=+W[  
    YO?o$Hv16  
    UWS 91GN@  
    n _ ?+QF  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 K7(k_4  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 )p>p3b g  
    +F-Y^):  
    ,,80nW9E  
    ~&F|g2:  
    x5pu+-h  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 O{7#Xj :_  
    ~UQ<8`@a  
    tX1`/}``  
    S Te8*=w  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 -b8SaLak  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 }U5$~, *p  
    $ve$Sq  
    @(E6P;+{  
    F`(;@LO  
    0Bkz)4R  
    $?gKIv>g  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 fl9VokAT  
    upZc~k!1\  
    D8 PC;@m  
    Bj><0 cNF  
    Runsheet O\Z!7UQ$  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ;!t?*  
    &0|Z FXPd  
    P_  8!Gp  
    #D JZ42  
    Function PU1YR;[Fe  
    45< gO1  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 P0OMu/  
    t98S[Z(-%+  
    L ed{#+  
    T;{:a-8  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 L2}<2  
    C0Fd<|[  
    讯技光电科技(上海)有限公司 s?->2gxhx  
    电话:86-21-64860708 Y9vi&G?Jl  
    传真:86-21-64860709 ,g*3u  
    课程:course@infotek.com.cn O<,\ tZ'N  
    业务:sales@infotek.com.cn ZHeq)5C ;f  
    技术:support@infotek.com.cn /Ix5`Q)  
     
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