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Core +msHQk5#$m 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 3]Lk}0atpL 5\Y/s o=  t1Khf
JkxS1 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 =\%>O7c,8Y _@prv7e  Jp-ae0 Ewa
^Q :K$! 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 EShakV 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” g&E_|}u4 .DvAX(2v  56_KB.Ww~
>;3c; nf 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 N[+dX_h 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Z|?XQ-R5 ia_8$>xW + };!c ]/,
610k#$
49 zp@a 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 ;W*$<~_ =W|Q0|U  `A^} X
7:j #1N[p 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 gwYd4 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 M{4_BQ4 $ ]Oj t3) fB  $W PN.,7
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 jw[`_ v1lj /A Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 z*[Z:
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aZz{4 Runsheet j&mL]'Zy “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 =%
JDo Bm7G U`j"  ]1[;A$7 W[m _IY Function WE7l [<b }Tef;8d 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 7A|jnm rN~`4mZ  -ur]k]R
~ <U3KB 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 h5gXYmk W*m[t&; 讯技光电科技（上海）有限公司 /YbL{G
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rh_({rvQ 课程：course@infotek.com.cn :jX~]1hpmA 业务：sales@infotek.com.cn =KZ4:d5 技术：support@infotek.com.cn c kk [n
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