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Core S G43} 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 f3v/Y5) *qz]vUb/0  ry7(V:ic
3`, m=1[) 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ]^ RgzK v'_ tna6`O  U (J?Q
ZO}V} 3 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 55,vmDd 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” EEkO[J[= x; b'y4kH  YVs{\1|'
J+ .t \ R 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 8, B9y D 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 Y61E|:fV! uQ8]j .0 F"0 tv$
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*q pmI9m 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 WX?|iw
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$}HSU>,% 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 g$]9xn#_[ 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 pl7!O9 b o 7L]fCw
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 L[O+9Y h aEL6-['( Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ueq R@i
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qg “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 nR
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[e cFu vi^n\ 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 nQ/El&{ T=>&`aZH  [!DLT6Qk
& JP-M=\n 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 ?=
ulf GrY ?MN?.O9- 讯技光电科技（上海）有限公司 %tpt+N ? 电话：86-21-64860708 ob0clJX 传真：86-21-64860709 }l_) d 课程：course@infotek.com.cn
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