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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core .X4UDZQg  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 2 :^  
    Zr!CT5C5  
    >ufN[ab  
    a/q8vP  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 `v Ebm Xb  
    u |ru$cIo  
    C #@5:$  
    x@VZJrQQ  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 1 u~.^O}J  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” (Vy`u)gG  
    *ur[u*g  
    2C &l\16  
    6~8X/ -02  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Ac Y!  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 /5 R?(-  
    G]>P!]  
    E K^["_*A  
    9D& 22hL4  
    4,6nk.$yN  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 p~t5PU*(  
    IlP@a[:_  
    X;p4/ *U  
    ulY<4MN  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 'miY"L:| O  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 C@FX[:l@-  
    rt!Uix&  
    n@| &jh  
    -*"Q-GO  
    PqwoZo0j  
    xcu:'7'K[  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ~f!iz~  
    Eh?,-!SUQn  
    9|LV x3]  
    zE4TdT1y|  
    Runsheet Z<Ke /Xi  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 7TGLt z  
    hQDZ%>  
    0RGSv!w  
    wfF0+T+IA  
    Function Mhj.3nN  
    "DNiVL.  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 E6y ?DXW H  
    K9N\E"6ZP  
    w 7 j hS  
    zJa,kN|m  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 IgU65p  
    0hx EI  
    讯技光电科技(上海)有限公司 6(.]TEu0  
    电话:86-21-64860708 M%Dv-D{  
    传真:86-21-64860709 FrBJv<  
    课程:course@infotek.com.cn =WP`i29j9}  
    业务:sales@infotek.com.cn OQm-BL   
    技术:support@infotek.com.cn (GJW3  
     
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