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Core ,]~iIoTi 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 M{zzXE[@ 0F`@/C1y55  X.xp'/d
Vlce^\s; 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 B8Jev\_ W+a>*#*  1QE-[ |
I'BoP 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 Tx0/3^\>8A 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” V>@NkQ<|y kJ>l, AD/  *f.eyg#
q>r9ooN 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 C>N)~Ut 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 ?;+=bKw0 t3 *2Z u nWbe=z&y8[
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iYHD:cg)~ 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 ]&yO>\MgJB !zvKl;yT  l:8 gCi
6"[`"~9'V 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 ;yY >SaQ 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 ?nB).fc !V Zl<|  7&:gvhw
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 4Me*QYD s8{3~ Hv Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 D._q'v<
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 /^DDU!=(< #_QvnQ?I Runsheet tu6c!o ,@ “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 ^;c!)0Q<Z ]$4 k+)6  t }qoIxy) hqFK2
lR Function Xl2Fgg}# |`U^+Nf 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 EfcoJgX Zdl Z,vK^.  ! 0fpD'f!n
q3VE\&*^F 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 -/B}XN W /+ "BU-aQk 讯技光电科技（上海）有限公司 tKo ^A:M 电话：86-21-64860708 ' ,a'r.HJH 传真：86-21-64860709 W.-[ceM 课程：course@infotek.com.cn P@lExF*D1: 业务：sales@infotek.com.cn MQD UJ^I$ 技术：support@infotek.com.cn `U#*O+S-^
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