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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core Z*|qbu)  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 <4Jo1  
    ~T[m{8uh  
    v(t?d  
    Q pY:L  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 i.Qy0  
    g.N~81A  
    ,9f$a n  
    |f~p3KCfV  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 {^bs }($J  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” H{P"$zj`l  
    |vnfY; ;z1  
    k]"Rg2>%  
    Ee##:I[z  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Au,}5=+`P  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 S0~F$mP'  
    Z;W`deA  
    ht S5<+Y  
    @fbB3  
    qf9.S)H1Z  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 mIZ#uW  
    LRv-q{jP;  
    !G#3jh:kiY  
    }9Z?UtS  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 v>$GVCY  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 eGblQGRS  
    8+uwzBNZ:  
    "@E1^  
    k"V3FXC)  
    [Qv%  
    fdN-Zq@'  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ])a?ri  
    ;/SM^&Y  
    (6?pBdZ  
    t}`|\*a  
    Runsheet !o&Mw:d  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 lvb0dOmY  
    ^owEB%  
    . dVo[m;  
    u /cL[_Q  
    Function %n9}P , ?  
    `qSNS->  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 uyxU>yHV<g  
    >&aFSL,f  
    ~c :e0}  
    W==HV0n  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 FcsEv {#U  
    <0R7uH  
    讯技光电科技(上海)有限公司 P~i^V;g  
    电话:86-21-64860708 dt) BMF8  
    传真:86-21-64860709 Wb!%_1dER  
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