|
|
Core cyYsz'i m 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 ( 4:&tm/; 7oUecyoj  '+?L/|'
GD*rTtDWn 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 3B *b d `N;}G f-'  ,Sz`$' ^c
,q9nH ZG^ 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 BY*{j&^ 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” bUv}({ :mP%qG9U  K|n%8hRy
f3r\X 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 ]0[Gc
\h} 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 B=<>OYH 9)c{L<o}T ~yX8p7qr
 (L`7-6e(Ab
(RXOv"''= 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 _:N+mEF M TnW5W-r9  5hxG\f#}?
o )\\ (^ld 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 PhUG}94 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 @*Y"[\ "$ 'gBGZ?^N!U  e6G=Bq$
t W ^oa
 @=i- *U I, 7~D!4G Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 &^q!,7.J
\,n|V3#G
 \@\r`=WgB k4n 4 BL Runsheet 3/ ?^d;= “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 y
nue;* rM !O*'mX  ^l,(~03_ m8j Q~OS Function \C{Dui) F k<&zVV ' 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 wOMrUWB0 dnwTD\) ,  9#;GG3
pA%}C mrMq 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 l+ ,p= v[7iWBqJ 讯技光电科技（上海）有限公司 L'Yg$9 Vz 电话：86-21-64860708 5SB!)F] 传真：86-21-64860709 ,H)v+lI 课程：course@infotek.com.cn R i 业务：sales@infotek.com.cn k4C3SI*`4 技术：support@infotek.com.cn ^y,Ex;6o
|
