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Core 2Nm{.Y 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 `T%nGV l>\ u@Ni *)p`  "tmu23xQ
r4 5}o 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 B\=T_'E& S:g6z'e1  $mq+/|bn
O]="ggq& 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 e&(Wn2)o 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ,5~ C($-t P?8$VAkj  WqCER^~'>
f@Ve,i 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 y{P~!Yn| 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 U
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4/SltWU 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 X,8Zn06M _S &6XNV  :<
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4w 7vgB 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 : IsJE6r 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 `i ~J0#P BT -Y9j  ]P^ 3uX i
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 ^s=F<_{ ^6CPC@B1 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 eq2L V=d{m
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SwB “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 sG| ,#XQ & )-fC  0o.h{BN p .~5k Function -)ri,v{:c 8l?@ o 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 >;xkiO>Y \w$e|[~  Kt"4<'
85FzIX-F % 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 PDh! B _ + W3MH8z
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J)Yg 传真：86-21-64860709 qV$0 ";d 课程：course@infotek.com.cn .+ic6 业务：sales@infotek.com.cn 4J[csU 技术：support@infotek.com.cn ZmaW]3$
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