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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core M{sn{  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 4[q'1N6-  
    Mv\odf\]  
    -wA^ao   
    ^LaOl+;S  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 I @sXmC2$\  
    QtF'x<cB  
    6LVJ*sjSy  
    <OYy ;s  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 WnATgY t  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” IdY\_@$ v  
    B Q) 1)8r  
    ]t4 9Efw  
    u<}PcI.  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 Q#wl1P  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 RA5*QW  
    I $5*Puy#  
    ?/EyfTex  
    6Vq]AQx  
    $ U~3$*R  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 O(P ,!  
    ^N{Lau  
    gWqO5C~h  
    x+mf QcSD&  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 R78=im7  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 x{Gdr51%  
    T3-8AUCK8?  
    {{3n">s}:  
    rXortK#\%  
    83^|a5  
    l}#z#L2,`  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 K5oVB,z)  
    n\U3f M>N  
    GpW5)a  
    Obd};&6Q  
    Runsheet U}r^M( s!  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 AX {~A:B  
    uTSTBI4t  
    g91X*$`]  
    e~wuoE:M3  
    Function +`@)87O  
    ^p'iX4M  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 %Q)3*L  
    a0s6G3J+9  
    (3H'!P7|~  
    . q=sC?D  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 M-  f)\`I  
    ^t|CD|,K_O  
    讯技光电科技(上海)有限公司 `#X\@?'5  
    电话:86-21-64860708 6?"k&O  
    传真:86-21-64860709 ,gvv297  
    课程:course@infotek.com.cn b IS 3  
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    技术:support@infotek.com.cn hx'p0HDta  
     
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