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Core fM`.v+ 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 }D[j6+E u*$]Bx ipC
<p?PpR Qs,4PPEg 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 yJ4ZB/ZQ bm poptfL 0k G\9 t76B0L{ 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 k`w/ 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ^Lv)){t TPVB{
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K1.BD 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 k~*%Z!V}C 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 *WfQi8 rXR!jZ.hi .: k6Kg
oA?EJ ~% X?U'GLm 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 G!+Mu2 4L_)@n} e'MW"uCP} /2'l=R5# 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 *yv@B!r 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 s:3b. *t< ?I$- im ERy=lP~gV F*T$n"^
_2TL>1KZt erhez Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 wC?$P qrf90F)
x\oSD1t, zpjE_| Runsheet ?a-5^{{ “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 03c8VKp'p c \;_jg &["e1ki '<s54 Cb Function U;j\FE^+> @nAl*#M*D 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 &->ngzg k{H7+;_ 1|m%xX,[ JT&RaFX 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 L5'?.9] p| ?FA@ 3 讯技光电科技(上海)有限公司 n(`|:h" 电话:86-21-64860708 ,q;?zcC7 传真:86-21-64860709 CXi[$nF3 课程:course@infotek.com.cn !hFhw1 业务:sales@infotek.com.cn +D2I~hC0' 技术:support@infotek.com.cn LmytO$?2(
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