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Core M{sn{ 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 4[q'1N6- Mv\odf\] -wA^ao ^LaOl+;S 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 I@sXmC2$\ QtF'x<cB 6LVJ*sjSy <OYy;s 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 WnATgY t 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” IdY\_@$ v B Q)1)8r ]t4 9Efw u<}PcI. 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 Q#wl1P 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 RA5*QW
I $5*Puy# ?/EyfTex
6Vq]AQx $ U~3$*R 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 O(P
,! ^N{Lau gWqO5C~h x+mfQcSD& 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 R78=im7 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 x{Gdr51% T3-8AUCK8? {{3n">s}: rXortK#\%
83^|a5 l}#z#L2,` Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 K5oVB,z) n\U3f M>N
GpW5)a Obd};&6Q Runsheet U}r^M(
s! “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 AX
{~A:B uTSTBI4t g91X*$`] e~wuoE:M3 Function +`@)87O ^p'iX4M 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 %Q)3*L a0s6G3J+9 (3H'!P7|~ . q=sC?D 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 M- f)\`I ^t|CD|,K_O 讯技光电科技(上海)有限公司 `#X\@?'5 电话:86-21-64860708 6?"k&O 传真:86-21-64860709 ,gvv297 课程:course@infotek.com.cn b IS3 业务:sales@infotek.com.cn *1Q~/<W 技术:support@infotek.com.cn hx'p0HDta
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