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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core fM`.v+  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 }D[j6+E  
    u*$]Bx  
    ipC <p?PpR  
    Qs,4PPEg  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 yJ4ZB/ZQ  
    bm poptfL  
    0k G\9  
    t76B0L{  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。  k`w /  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” ^Lv )){t  
    TPVB{ 107  
    HCw,bRxm  
    2b K1.BD  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 k~*%Z!V}C  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 *Wf Qi8  
    rXR!jZ.hi  
    .: k6Kg  
    oA?EJ~%  
    X ?U'GLm  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 G!+Mu2  
    4L_)@n}  
    e'MW"uCP}  
    /2'l=R5#  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 *yv@B!r  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 s:3b.*t<  
    ?I$-im  
    ERy=lP~gV  
    F*T$n"^  
    _2TL>1KZt  
    erh ez  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 wC?$P  
    qrf90F)  
    x\oSD1t,  
    zpjE_|  
    Runsheet ?a-5^{{  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 03c8VKp'p  
    c\;_ jg  
    &["e1ki  
    '<s54 Cb  
    Function U;j\FE^+>  
    @nAl*#M*D  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 &->ngzg  
    k{H7+;_  
    1|m%xX,[  
    JT&RaFX  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 L5'?.9]  
    p|?FA@ 3  
    讯技光电科技(上海)有限公司 n(`|:h"  
    电话:86-21-64860708 ,q;?zcC7  
    传真:86-21-64860709 CXi[$nF3  
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