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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core eV~goj  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 S]{oPc[7  
    z?//rXuO  
    :E?V.  
    |f##5fB  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 ?h2}#wg  
    13 wE"-  
    FgO)DQm  
    bPMhfK2 %  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 hv+zGID7  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” -K$)DvV^(E  
    !!y a  
    =R\]=cRbg  
    DTs;{c  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 0CvUc>Pj`"  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 i6N',&jFU  
    2?i7 UvV  
    GKCroyor  
    C7?/%7{  
    92-I~ !d  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 FPTK`Gd0  
    ^C%<l( b  
    K+iP 6B  
    I 2DpRMy  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 DL.!G  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 d!{r  v  
    A\;U3Zu  
    4.(4x&  
    =Runf +}  
    PRT +mT  
    ^}C\zW  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 CH/rp4NeSy  
    P>6{&(  
    5:U so{  
    F<w/PMb  
    Runsheet @lt#Nz  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 3mni>*q7d  
    h1(4Ic  
    A(N4N  
    (9h`3#  
    Function )_NO4`ejs/  
    BPHW}F]X  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 E!AE4B1bd  
    -%dCw6aX+  
    p<;0g9,1  
    '3H_wd  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 QdC<Sk!G  
    -{+}@?  
    讯技光电科技(上海)有限公司 M@ZI\  
    电话:86-21-64860708 KGpA2Nx  
    传真:86-21-64860709 =rK+eG#,  
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