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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core {a\! 1~  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 IkmEctAU  
    h}nS&.  
    )Vy0V=  
    Y(aUB$"  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 zrSYLG  
    |d~'X%b%  
    xC5Pv">  
    2oc18#iG (  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 2Y9u9;ah  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” GL>YJ%  
    7MZH'nO  
    sk07|9nU  
    `, ]ui*  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 ]iW:YNvXA  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。  /s^42  
     %nUN  
    IDf\! QGx  
    6DU(KYN  
    8kcMgCO  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 PPFt p3C  
    :J @3:+sr  
    s8's(*]  
    w2s06`g  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 vw:GNpg'R6  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 rqp]{?33  
    >r\GB#\5  
    ->?tB1}^  
    K/Pw;{}  
    YL!{oHs4  
    jTg~]PQ^  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 : qK-Rku  
    ZI1]B944ni  
    ,W[J@4.  
    mj9sX^$ dE  
    Runsheet EAXl.Y. $  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 <b *sn] l  
    gd7r9yV  
    a:l-cZ/!  
    g"|>^90  
    Function iSoQ1#MP)2  
    Pf,@U'f|  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 h/{1(c}  
    Ng !d6]  
    e Bxm  
    GrJLQO0$N  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 x>##qYT  
    RzL(Gnb  
    讯技光电科技(上海)有限公司 itirh"[  
    电话:86-21-64860708 jZkc yx  
    传真:86-21-64860709 *5k40?w  
    课程:course@infotek.com.cn <,GVrVH=t"  
    业务:sales@infotek.com.cn KgkRs?'z  
    技术:support@infotek.com.cn S:}"gwFM  
     
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