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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core F)z;Z6{t4  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 VUI|.76g  
    )xb|3&+W  
    Q}S_%I}u:  
    ^ wY[3"{  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 [:^-m8QC  
    $T :un.TM  
    #2`D`>7456  
    R\XKMF3mN3  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 5OoN!TEM  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” l4TpH|k  
    8foJI^3  
    OgF+O S  
    ['%69dPh  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 ~4?9a(>3  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 nenU)*o  
    ;Ag 3c+  
    zni)<fmju  
    F@R1:M9*  
    c\% r38  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ORu2V# Z[  
    &qS[%K )  
    h^j?01*Et  
    `b c;]@"  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 K(XN-D/c  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ",{ibh)g$`  
    s}pIk.4ot!  
    ,t)x{I;C)  
    0(_l|PScF  
    v=('{/^~>  
    !Ci~!)$z6  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ?8W( "W   
    9:I6( Zv0  
    ^Q&u0;OJ  
    V^Hu3aUx8  
    Runsheet c$wsH25KH8  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 xV%6k{_:G  
    * !^<m0  
    <, 3ROo76  
    %7O?JI [  
    Function P]z[v)}  
    xnE|Umz  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 y,pZTlE  
    Y'e eA 2O  
    C ;(t/zh  
    @(C1_  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 #Wu*3&a]yU  
    YIR R=qpn  
    讯技光电科技(上海)有限公司 I7^zU3]Ul  
    电话:86-21-64860708 @ |'5 n  
    传真:86-21-64860709 "*O4GPj  
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