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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core pbJC A&  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 "&lQ5]N.%  
    EVYICR5g  
    D;nm~O%  
    AYb-BaIc  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 \%[sv@P9s  
    O1xK\ogv  
    u2\QhP 9  
    xw2dNJL  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 d%?$UnQ  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” Pnl+.?  
    MEKsL7  
    '/O >#1  
    =2J^ '7  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 n[+$a)$8  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 ; ,9:1.L  
    1|bg;X9+  
    tleWJR8oc  
    Ar{7H)V:  
    ~S\y)l\wZ  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 % H/V iC  
    ^ L?2y/  
    0Ba*"/U]t~  
    9Ib#A  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 nF1}?  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 Ah :d2*SR4  
    }j`#s  
    r}nz )=\Cj  
    %n B}Hq ;  
    W!Fu7a  
    +?9. &<?  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ^!A@:}t>  
    ioT+,li  
    CbW>yr  
    a 8}!9kL  
    Runsheet NTV@,  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 S; Fj9\2)I  
    ;%^T*?t  
    "30R%oL]=  
    }cO}H2m  
    Function s;W1YN  
    2fFGS.l  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 #`qP7E w  
    M _e^KF  
    hZtJ LY  
    @+&QNI06S  
    如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 v=J[p;H^H  
     2p;N|V  
    讯技光电科技(上海)有限公司 @QbTO'UzK`  
    电话:86-21-64860708 ZIp"X  
    传真:86-21-64860709 \9%RY]TK3  
    课程:course@infotek.com.cn C@OY)!x!  
    业务:sales@infotek.com.cn Z"5ewU<?  
    技术:support@infotek.com.cn " "{#~X}  
     
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