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Core F)z;Z6{t4 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 VUI|.76g )xb|3&+W Q}S_%I}u: ^
wY[3"{ 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 [:^-m8QC $T :un.TM #2`D`>7456 R\XKMF3mN3 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 5OoN!TEM 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” l4TpH|k 8foJ I^3 OgF+OS ['%69dPh 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 ~4?9a(>3 优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 nenU)*o ;Ag
3c+ zni)<fmju
F@R1:M9* c\% r38 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 ORu2V#Z[ &qS[%K ) h^j?01*Et `bc;]@" 当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 K(XN-D/c 在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 ",{ibh)g$` s}pIk.4ot! ,t)x{I;C) 0(_l|PScF
v=('{/^~> !Ci~!)$z6 Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 ?8W("W 9:I6( Zv0
^Q&u0;OJ V^Hu3aUx8
Runsheet c$wsH25KH8 “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 xV%6k{_:G *!^<m0 <, 3ROo76 %7O?JI[ Function P]z[v)} xnE|Umz 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 y,pZTlE Y'e eA 2O C;(t/zh @(C1_ 如果您遇到任何问题,可通过如下方式联系我们。 #Wu*3&a]yU YIR
R=qpn 讯技光电科技(上海)有限公司 I7^zU3]Ul 电话:86-21-64860708 @|'5n 传真:86-21-64860709 "*O4GPj 课程:course@infotek.com.cn WL{(Ob 业务:sales@infotek.com.cn ZIdA\_c 技术:support@infotek.com.cn !;_H$r0
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