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Core
H 3 so&_ 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 {_4`0J`3 uann'ho?q  z @?WhD
j&[u $P*K 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 7c!#e=W@B XEBj =5sG  #nq_R
Z gfhNI\ 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 B,] Af H 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” +g;{c+Kw: 7Vu f4Z5  >T)tAZ? WK
Q <ulh s 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 A 8g_BLj!e 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 <}G/x*N yL %88,/ g>
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M)~sL1) 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 P(!%P p ipE|)Ns  xDNXI01o
Qq%~e41e c 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 CwD =nT5` 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 JNo[<SZ b AH?[K,3  %F x ^"
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 #pyFIUr=w *'*n}fM Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 |;\pAZ2
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 1je /l9L CF:L#r Runsheet R@#xPv4o% “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 % K,cGgp^) _ 9dW+  Q.fUpa v }$[@* Function Ta $55K0 wYLodMaYH 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 jz S iw z B6@q`Bmw.  eaDR-g"
P 5.@LN 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 _SkiO }c8 hAs ReZ ? 讯技光电科技（上海）有限公司 /N#=Tol 电话：86-21-64860708 ,f@j4*) 传真：86-21-64860709 V`9*_8Dx2 课程：course@infotek.com.cn zG{jRth 业务：sales@infotek.com.cn j3H_g ^ 技术：support@infotek.com.cn _.E{>IFw
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