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    [分享]Macleod 10.4版本更新说明 [复制链接]

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    离线崔粤鹏
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-08
    Core qA;Gl"HF  
     增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取,为了能使用椭偏数据,从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 Q 0G5<:wc  
    ta6>St7.  
    9: .m]QN  
    ? cXW\A(  
     现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 [GPCd@  
    wVqp')e  
    43x2BW&&  
    06O_!"GD}  
     反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 2"HTD|yy  
     反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ;对于Differential Evolution会显示 “<DE>” _RzF h  
    (i L*1f   
    DuNindo 8  
    e!PB3I  
     如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件 @I}VD\pF  
     优化目标增加了平均值的计算,包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 ~4pP( JP  
    n$N$OFuO  
    41R6V>e@9J  
    t7l{^d_L  
    Ui!l3_O  
     用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面,此分布可选定reference文件(作为角度的函数)。 OLPY<ax  
    7Q]c=i cg  
    7nNNc[d*=  
    }tw+8YWkz  
     当有新数据导入到光学常数工具中,它会清理已经计算的结果。 *L9v(Kc  
     在注册菜单中增加了email按钮,授权表格可以非常容易的创建key请求。 F)KR8 (  
    0PqI^|!  
    5[g\.yi2_]  
    pmUf*u-  
    J^`5L7CO  
    ,#FP]$FK  
     Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 [zBi*%5O  
    5@%.wb4  
    $'I&u  
    9@ YKx0  
    Runsheet g0bYO!gC r  
    “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中, NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 =/_uk{  
    (M"rpG>L  
    y] c1x=x  
    4xEw2F  
    Function e*qGrg(E  
    X3a9-  
    双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 .=9WY_@SZ  
    S\h5 D2G;  
    j{ YYG|  
    ~x!up 9  
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    PBnH#zm  
    讯技光电科技(上海)有限公司 =$Mf:F@  
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