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Core xV=Tmu6l 增加了不镀膜基底椭偏数据的光学常数提取，为了能使用椭偏数据，从Macleod Tools菜单栏中选择Substrate n, k & T并选择 Ellipsometer按钮。 iq, rS" wN :"(mQ  bR8`Y(=F9b
y*p02\) 现在可以在help下选择user manual直接打开Macleod英文手册 @[ Q`k=h$ 0sT R`Xk  DgY
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V)vik 反演工程现在支持基底双边镀膜的情况。 ?0?3yD-!9 反演工程现在可以在标题栏显示优化器。对于Simplex, 会显示“<S>” ；对于Differential Evolution会显示 “<DE>” C2\zbC[qm y0~ttfv  ;~'& m
!Lw]aHb 如果基底的内透过率数据不全是lossess, 反演工程现在需要基底的材料文件。 5H IQw9g6 优化目标增加了平均值的计算，包含平均透射率、平均反射率、平均T+R、平均T\T+R、平均R\T+R、平均density、平均后向反射。 G\B+bBz -:OJX #j
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Lw%_xRn) 用户自定义的功率分布添加到了cone计算里面，此分布可选定reference文件（作为角度的函数）。 \-f/\P/ w )4m`Ya,E3  6CSoQ|c{
4I&Mdt<^D 当有新数据导入到光学常数工具中，它会清理已经计算的结果。 5pK
_-:? 在注册菜单中增加了email按钮，授权表格可以非常容易的创建key请求。 n9n)eI)R gga}mqMv=  '$?!>HN4
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Svr UXf c*\;!dbP Design中的薄层膜(非厚层膜)增加了Back Reflectance颜色分析功能。 x*= 1C,C
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 9%1J..c k %Vprc Runsheet N"suR}9% “Monitor Type”现在包含在 NVision导出中， NVision 光学监控器可以预先选择监控类型。 T[#q0bv -4zV
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S<  Ks@c wY ic"8'Rwb Function ~E!kx t,IOq[V tk 双加脚本编辑器的文件将会制作该脚本。 '+27_j c&F Ot  v^vi *c
\4^rb?B 如果您遇到任何问题，可通过如下方式联系我们。 V; CPn C/'w 讯技光电科技（上海）有限公司 M .r7^9 P 电话：86-21-64860708 a^pbBDi
W 传真：86-21-64860709 $/B~ bJC 课程：course@infotek.com.cn =:]v~Ehq 业务：sales@infotek.com.cn R&a$w8 技术：support@infotek.com.cn XM,slQ
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