X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 7y60-6r  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 S |B7HS5  
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技术参数 NQOdgp  

波长范围 +`9T?:fu	5-20 ;MO %))	10-60 Vdjca:`	25-80 *l5/q\D
光源距离（m） Dl7#h,GTc<	.-o$IQsS	0.4-0.6 zIlQqyOQ8	0.5-1.5 oEfKL `]B
平场尺寸（mm） VbZZ=q=Kd	25.4 ,H|V\\	50 H_jMl$f)j	50 MN#\P1
色散(nm/mm) }3QEclZr	0.5-0.7 `?La	0.7-1.1 >`t |a	0.9-1.3 yJ?4B?p(
光谱分辨率（nm） x=9drKIw>	0.06 -()CgtSR	0.09 RCsd	0.11 C7nLa@
=WHdy;	$L3UDX+F	G"C'/	&L;0%
升级波长范围 -l^u1z	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) k3u3X~u
探测器选择 q i$6y?	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 ?a(ApD\
光栅台 N 0`)WLW	电控 KecRjon~
工作环境 ;Q\Duj	<10-6mbar IY+P Yad
操作性 \QQw1c+	极易安装使用，用户自己即可安装使用 V:yia^1

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技术优势介绍： meE&, {  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 q.~_vS%  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Ia[e7  
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-平场成像技术 J](AJkGzK  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 LKTIwb>  
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紧凑/模块化 V)C4 sG  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） YGN
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结实耐用无需准直 6>X7JMRY  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 bF<FX_}!s!  
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- 定制化 #T&''a  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ]~GwZB'M  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 3N[t2Y1r  
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典型客户： ,A4v|]kq]  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) >6KuZ_  
   
2. < >Los Alamos zXIVHC,"{  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828