X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 Px>Gc:!>  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 PKx ewd  
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技术参数 gyI(O>e  

波长范围 !"dbK'jb^	5-20 (j%d{y4	10-60 1xJc[q	25-80 .o2]ndT/J
光源距离（m） UI*^$7z1 +	Au6*hv3:	0.4-0.6 KXg C]IO~	0.5-1.5 C(7Y5\"P
平场尺寸（mm） 4<['%7U_[	25.4 O>E2G]K]\	50 9P3jx)K	50 "\'g2|A
色散(nm/mm) CZ/bO#~	0.5-0.7 e%v<nGN.-	0.7-1.1 +b7}R7:AFH	0.9-1.3 JYbE(&l%de
光谱分辨率（nm） EzDj,!!<w	0.06 Dm=Em-ST6	0.09 "rjqDpH	0.11 &?@gUk74"
,6zH;fi	+q==Y/z	p<|I!n&9	2 NgEzY5
升级波长范围 J{gqm	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ;BEg"cm
探测器选择 i4Y_5	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 b"ypS7 _
光栅台 ,_ XDCu @	电控 iI[Z|"a21
工作环境 H:X=v+W	<10-6mbar >A$J5B>d
操作性 IeqJ>t:	极易安装使用，用户自己即可安装使用 +$#YW5wy

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技术优势介绍： |kwkikGQS  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 i>9/vwe  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 y@;4F n/  
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-平场成像技术 B/i`  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 wl{Fx+<^3  
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紧凑/模块化 62B` Z5j#  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） }}3*tn<6  
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结实耐用无需准直 ^|6%~jkD5  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 kO:iA0KUX  
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- 定制化 4]N`pD5  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 n%w36_  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等  `x"0  
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典型客户： b9[KdVsT6^  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) GNXQD}L?b?  
   
2. < >Los Alamos M%wj6!5  
   
3. Max Planck Institute

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