X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 ](a*R  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 v%n'_2J =^  
I~\j%zD  
技术参数 .\= GfF'  

波长范围 \u?z:mV	5-20 UeV2`zIg`	10-60 zYO+;;*@	25-80 3P3x^NI
光源距离（m） XeX0\L')R	?`V%[~4_I	0.4-0.6 E#JDbV1AC	0.5-1.5 rVd(H
平场尺寸（mm） IE.JIi^w	25.4 )28Jz6.I	50 4SCb9|/Q	50 S!A)kK+
色散(nm/mm) {\[u2{	0.5-0.7 <Z{\3X^	0.7-1.1 m:5*:Ii.	0.9-1.3 FKY|xG9
光谱分辨率（nm） 3GUO	0.06 k<wX??'	0.09 #x$.	0.11 :A $%5;-kO
wcUf?`21,	jo{[*]Oa	Pwf2dm$,+	v/=O:SM}
升级波长范围 a97A{7I&	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) vT"T*FKh:
探测器选择 ?&EPZqI	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 *i|O!h1St
光栅台 P0uUVU=B|	电控 *L7 ZyERs
工作环境 %>`0hk88	<10-6mbar LL|$M;S
操作性 +Wh0Of	极易安装使用，用户自己即可安装使用 |0:<Z(

• TV\21  
技术优势介绍： 5jD2%"YUV  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 :"7V,UP @  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Bm2"} =  
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-平场成像技术 gfG Mu0FjB  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 8X!^ 2B}J  
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紧凑/模块化 RX}6H<5R  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） hE0 p>R8  
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结实耐用无需准直 `VY -3  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 }D/0&<1  
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- 定制化 z[Xs=S!]I  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 =UYZ){rt9E  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 fa9c!xDt  
Fl<|/DCg  
典型客户： {\9vW; '  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) yM>:,TS  
   
2. < >Los Alamos d|CSWcU  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828