X-ray检测

发布:zcm196240161 2014-08-29 16:56 阅读:905
利用高压电撞击靶材产生X射线来检测电子器件半导体封装产品内部结构构造品质、以及SMT各类型焊点焊接质量等。 `lO[x.[  
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参考标准:《IPC-A-610E电子组装件的验收标准》、《GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则》 rA5=dJ"I  
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