X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 i[T!{<  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 pc:~_6S  
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技术参数 cuW$%$F  

波长范围 lHT?	5-20 : -te	10-60 5lVDYmh	25-80 ]geO%m
光源距离（m） f.,S-1D]h	GwxfnCKi9	0.4-0.6 KZsSTB6J	0.5-1.5 !C&}e8M|eX
平场尺寸（mm） 1 g^N7YF	25.4 <Mxy&9}ic	50 Y{f;qbEQH'	50 ]@C&Q, ~q
色散(nm/mm) s@K|zOx	0.5-0.7 C[|jJ9VE,	0.7-1.1 )zz"DH	0.9-1.3 -]A,S Bs
光谱分辨率（nm） F3;UH%L1	0.06 lk)38.	0.09 'HH[[9Q	0.11 g.i iT/b
rcY[jF	"b|qyT* Sl	qMmh2a&	j2k,)MHu!x
升级波长范围 at/besW	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) Vj2]-]Cm
探测器选择 @m<xpel	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 qI5_@[S*
光栅台 diaLw	电控 QZYD;&iY&
工作环境 wS hsu_(i	<10-6mbar |36d<b Io
操作性 l]uF!']f	极易安装使用，用户自己即可安装使用 gcQ>:mi

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技术优势介绍： xbvZ7g^  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ,1a6u3f,  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 */u_RJ  
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-平场成像技术 +YI/(ko=  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 gC> A*~J;  
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紧凑/模块化 }[l
d=9p(  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 9NBFG~)|l[  
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结实耐用无需准直 ^"(CZvq  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 a{GPAzO+  
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- 定制化 h'|{@X
 
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 AU OL?st  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 9l]+rs+  
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典型客户： X6)-1.T&  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) W_Z%CBjcT  
   
2. < >Los Alamos ^mv F%"g  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828