射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 Lp3pJE  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 txm6[Io  
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技术参数 <pXOE-G5  

波长范围 3UF^Ff<wo	5-20 bl^pMt1fv	10-60 ,S m?2<	25-80 dNCd-ep
光源距离（m） lYS "	aK(e%Ed t"	0.4-0.6 >l=jJTJ;q	0.5-1.5 S|;}]6p
平场尺寸（mm） C?MKbD=K	25.4 w11L@t[5W8	50 xSO5?eR"u	50 ,-kz\N@.
色散(nm/mm) 1FG"Ak}D	0.5-0.7 \rT>&o .i	0.7-1.1 7*%}=.	0.9-1.3 gv&Hu$ca
光谱分辨率（nm） ]ncK M?'O	0.06 ~ ]Av$S	0.09 /XA*:8~!	0.11 \ [M4[Qlq
KZ1m2R}'	o.Bbb=*rZ	0'Qvis[kt	~eS/gF?
升级波长范围 zGc]*R	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) !HtW~8|:
探测器选择 t?b@l<,s	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 @HE?G
光栅台 + + 5!8Nv	电控 VV#'d
工作环境 5E 9 R+N	<10-6mbar 3[?;s}61
操作性 DwK$c^2q{.	极易安装使用，用户自己即可安装使用 {9)  HB:

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技术优势介绍： UZ6y3%G3^  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 * bhb=~  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 &O
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-平场成像技术 !aJ6Uf%R  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 }[PC YnS  
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紧凑/模块化 |oePB<N  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） _ /Eg_dQ~@  
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结实耐用无需准直 8A/rkoht*  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 )nq(XM7  
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- 定制化 0QW;=@)d  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 b/\l\\$-  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 }AiF 7N0  
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典型客户： b2j~"9  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) :~ &#9  
   
2. Los Alamos h2= wC.  
   
3. Max Planck Institute @Jb-[W$*  
   

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