射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 u5rHQA0%  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 5\.w\  
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技术参数 =cWg39$(I  

波长范围 W_RN@O	5-20 nNpXkI:	10-60 `L7Cf&W\l8	25-80 O*udVE>
光源距离（m） EWK?vs	gtRVXgI	0.4-0.6 $*c!9Etl4	0.5-1.5 6L,"gF<n
平场尺寸（mm） y7U?nP ')+	25.4 Kdr}7#c	50 ]:}x 4O#	50 Rg%Xy`gS
色散(nm/mm) 4 ;V;8a \A	0.5-0.7 5Mz6/&`	0.7-1.1 :@#6]W	0.9-1.3 ra}t#Xt`
光谱分辨率（nm） 7_c/wbA#me	0.06 ]6@6g>f?	0.09 ;uN&yj<}a	0.11 8c5=Px2\
Uc( z|	nQ08(8	J!d=aGY0-	tOxTiaa=
升级波长范围 YYF.0G}	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) BDT"wy8
探测器选择 iH>I V0 <	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 sGO+O$J
光栅台 6[\1Nzy>	电控 hUe\sv!x?
工作环境 {Lugdf'	<10-6mbar >/G[Oo
操作性 *X8Pa;x	极易安装使用，用户自己即可安装使用 cQrXrij;!

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技术优势介绍： Xh@;4n  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 x\aCZ  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 Mw|lEctN0  
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-平场成像技术 TFDzTD  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 DqA$%b yyE  
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紧凑/模块化 Wn&9R j  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）
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结实耐用无需准直 aEn*vun  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 gf70 O
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- 定制化 gUH
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该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 qJ[wVNHh!  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 lw_@(E]E  
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典型客户：  GjyTM  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 't+'rG6x  
   
2. Los Alamos 7ea%mg\  
   
3. Max Planck Institute #6mr'e1  
   

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