射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 HUjX[w8  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 X7-*`NI^  
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技术参数 6HBDs:   

波长范围 0^S$_L	5-20 ;8PO}{rD	10-60 GFLat	25-80 0'6ai=W
光源距离（m） 4F.,Y3	A'`F Rx(	0.4-0.6 LQk^l`	0.5-1.5 jC[ _uG
平场尺寸（mm） 0fX` >-X	25.4 P6kDtUXF	50 5FJLDT2Lg	50 Mrgj*|
色散(nm/mm) (/$-2.@	0.5-0.7 E0RqY3	0.7-1.1 KE"6I	0.9-1.3 )rP,+B?W
光谱分辨率（nm） ^BLO}9A{P	0.06 `Gv\"|Gn	0.09 34Gu @"	0.11 ;MNUT,U
6oLOA}q	ynM:]*~K	QWa@?BO2p	v)*MgfS
升级波长范围 *K_8=TIA*	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) U&6A)SW,k
探测器选择 az![u)	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 <eMqg u
光栅台 }*rSg .	电控 A^ M]vk%dg
工作环境 |dEPy-Xe	<10-6mbar 67&IaDts
操作性 x&DqTX?b,	极易安装使用，用户自己即可安装使用 |Q)mBvvN

• _+9i  
技术优势介绍：
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 eE'>kP}  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 ]QR]#[Tn'  
`},:dDHI  
-平场成像技术 {1Cnrjw  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 >}F$6
KM  
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紧凑/模块化 m-4#s  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） `lE&:)  
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结实耐用无需准直 4|&/#Cz^Y  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 \^,J
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- 定制化 kJ"rRsK  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 iJhieNn  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 nI?*[y
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典型客户： GC# [&>L  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 1lIs jBo g  
   
2. Los Alamos yNfj-wM  
   
3. Max Planck Institute !VI
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