射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 hN5?u:  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 rEF0A&5  
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技术参数 XDtMFig  

波长范围 =G9 9U/	5-20 T.}wcQf&*	10-60 $Sx( vq6(	25-80 !'jZ !NFO
光源距离（m） P"%QFt,	ye-EJDZN	0.4-0.6 #aeKK7[	0.5-1.5 S /kM #
平场尺寸（mm） ]+ KN9	25.4 U{JD\G8m	50 ]27	50 KmYSYNr@,
色散(nm/mm) cUH.^_a	0.5-0.7 l@irAtg4	0.7-1.1 jv4O	0.9-1.3 (qbL=R"
光谱分辨率（nm） XsXO S8	0.06 2I@d=T{K	0.09 Z"pCDW)	0.11 /TndB7l"3
/FthT	6${=N}3Kw	'e(]woe	X"k:+
升级波长范围 Sf>#Zqj/	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 'xP&u<(F
探测器选择 F{*h~7D-|	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 6L!/#d0
光栅台 n6xJ	电控 h]>QGX[kC
工作环境 vmj'X>Q	<10-6mbar {O=PVW2S
操作性  =] +owl2	极易安装使用，用户自己即可安装使用 Z^[ ]s1iP}

• B4Fuvi  
技术优势介绍： (6crWw{3  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 WR<?_X_  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 -\9K'8 C  
+7KRoF|  
-平场成像技术 bl3?C  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ;xl0J*r  
1s_N!a  
紧凑/模块化 T\wfYuc&X  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） N;q)r  
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结实耐用无需准直 L+X:M/)  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 Due@'  
F+SqJSa  
- 定制化 PrKH{nyJk  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 67g"8R#.V  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 KSAE!+  
UasU/Q <  
典型客户： W8_$]}G8E  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) M-8`zA2  
   
2. Los Alamos @g5qcj
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3. Max Planck Institute .nzN5FB U  
   

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