射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 3g0v,7,Zv  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 ,8DjQz0ZPo  

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技术参数 }!WuJz"  

波长范围 X1Kze	5-20 ;9)=~)	10-60 /1hcw|cfC	25-80 #qEUGD`
光源距离（m） Nig) !4CG	Lp+?5DjLT	0.4-0.6 ph3dm\U.	0.5-1.5 JP]-a!5Ru
平场尺寸（mm） #-PUm0|	25.4 -(E-yCu	50 #BI6+rfv|	50 {!pYQ|#
色散(nm/mm) WaiM\h?=#	0.5-0.7 (cp$poo	0.7-1.1 .]; `	0.9-1.3 Ujvk*~:
光谱分辨率（nm） Qs 'dwc	0.06 U.ew6`'Te	0.09 Nu><r	0.11 K48QkZ_gY
LOk J	f/Q/[2t	h~#.s*0.F	:|=Xh"l"
升级波长范围 P_Exh]P	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) .zJZ*\2ob
探测器选择 Oz=!EG|N	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 `yM9XjEl>
光栅台 djDE0-QxcR	电控 ,(kaC.Em
工作环境 %:Zp7O2UB'	<10-6mbar $o*p#LU
操作性 UJ&gm_M+kL	极易安装使用，用户自己即可安装使用 fBPJ8VY

• VS+5{w:t  
技术优势介绍： M:%L
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 {
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相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 (y2P."  
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x^brzLQo  
-平场成像技术 -M-y*P
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 wOR#sp&  
W\z<pP  
紧凑/模块化 B(pHo&ox  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） K$-|7tJon  
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结实耐用无需准直 XK
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 inyS4tb  
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- 定制化 Aoy=gK  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 2/l4,x  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 AKAxfnaR  
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典型客户： w%kaM=  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) ^I!gteU;  
   
2. Los Alamos fXAD~7T*s  
   
3. Max Planck Institute *G,r:Bnb  
   

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