射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 }WkR-5N  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 FJ&?My,=J  
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技术参数 i*vf(0G  

波长范围 [=xO>	5-20 Qgv-QcI{	10-60 v?1xYG@1	25-80 9s6d+HhM
光源距离（m） ab5z&7Re6	Q,f5r%A.	0.4-0.6 k!,&L$sG	0.5-1.5 hz+x)M`Y
平场尺寸（mm） I%G6V a@	25.4 UG 9 Ha	50 [^-DFq5@	50 3 >sA_
色散(nm/mm) q:v&wb%	0.5-0.7 )![?JXf	0.7-1.1 aV8]?E5G	0.9-1.3 '.DFyHsq
光谱分辨率（nm） D7x"P-ie	0.06 Q|o~\h<	0.09 nz]+G2h	0.11 "Tm`V9
O%kX=6	viY&D	4h~o>(Sq	Ik4U+ 'z6
升级波长范围 Fn!kest	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) t|aBe7t7
探测器选择 }A`4ae=	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 }A%Sx!7 ~
光栅台 #Hr>KQ5mJQ	电控 4`7:gfrO,
工作环境 @nS+!t{	<10-6mbar ?8Hr 9
操作性 !1}A\S	极易安装使用，用户自己即可安装使用 /u8m|S<

• Rx 4 ;X  
技术优势介绍： i7w>Nvj]  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 Z;QbqMj  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 IPoNAi<b  
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-平场成像技术 #yv_Eb02  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ZLJf
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紧凑/模块化
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光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） bi bjFg  
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结实耐用无需准直 Q!:J.J  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ~%QVjzMC  
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- 定制化 )FkJ=P0  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 {`vF4@  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 r-+.Ax4L"  
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典型客户： UHYnl]  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) dw8Ce8W  
   
2. Los Alamos 2#:h.8
     
   
3. Max Planck Institute 61q:nWs  
   

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