射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 6H,n?[zTt  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 8|uFW7Q  
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技术参数 ?'_E$  

波长范围 )'BuRN8	5-20 2?hc94	10-60 :gMcl"t--	25-80 ^| L@f
光源距离（m） r]p 0O(	8y5iT?.~vy	0.4-0.6 I^*&u,	0.5-1.5 4hb<EH'_&
平场尺寸（mm） ,b2YUb]U	25.4 pZ?7'+u$L	50 qi7(RL_ N	50 u/3[6MIp
色散(nm/mm) RHc63b\	0.5-0.7 rcUXYJCh-	0.7-1.1 ;*K@8GnU	0.9-1.3 =c 3;@CO
光谱分辨率（nm） $Cw> z^}u	0.06 eHUr!zH:	0.09 bM[!E8dF	0.11 6KuB<od
E_-3G<rt	#jAlmxN	e|)6zh<O:	ns|)VX
升级波长范围 tJ>|t hk	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ?-m Dv W
探测器选择 qP6YnJWl	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 w8$rt
光栅台 dHp(U :)	电控 &VG|*&M
工作环境 {kGcZf3h	<10-6mbar $e66jV
操作性 n]$50_@	极易安装使用，用户自己即可安装使用 DK8eFyG^2

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技术优势介绍： =\;yxl
 
光源可以直接成像/超强信号采集能力 w E^6DNh  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 $^|I?5xD  
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-平场成像技术 H'N$Vv2q  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 TX7B(JZD  
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紧凑/模块化 "/ G^+u  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） Jj=0{(X  
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结实耐用无需准直 !Z+4FwF  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 ]
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- 定制化 3QlV,)}  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 _jkH}o '  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 "Uy==~  
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典型客户： q:A{@kFq_  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 'Oyx X  
   
2. Los Alamos e_3KNQ`kA  
   
3. Max Planck Institute r?Y+TtF\e  
   

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详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828